El perfilómetro Nanovea PS50 se utiliza para medir la rugosidad, la altura de los escalones y el espesor óptico de una película transparente delgada sobre un sustrato de vidrio transparente. La altura de los escalones se obtiene midiendo un área de la película y un área donde el sustrato queda expuesto para determinar la diferencia de altura relativa, mientras que el espesor óptico se mide utilizando el ProfilometeCapacidad para medir a través de la película transparente y detectar simultáneamente los reflejos tanto de la superficie superior de la película como del sustrato.

Medición de película transparente sobre sustrato transparente mediante perfilometría 3D