Şeffaf Yüzey Üzerinde Şeffaf Film Ölçümü

Nanovea PS50 Profilometre, şeffaf bir cam alt tabaka üzerindeki ince şeffaf bir filmin pürüzlülük ölçümü, adım yüksekliği kalınlığı ve optik kalınlığı için kullanılır. Adım yüksekliği, filmin bir alanının ve alt tabakanın göreceli yükseklik farkına maruz kaldığı bir alanın ölçülmesiyle elde edilirken, optik kalınlık Profilometer şeffaf filmin içinden ölçüm yapabilme ve aynı anda hem filmin üst yüzeyinden hem de alt tabakadan yansıyan bir maddeyi tespit edebilme.

3D Profilometri Kullanarak Şeffaf Yüzey Üzerinde Şeffaf Film Ölçümü