Filme Transparente sobre Medição de Substrato Transparente

O Nanovea PS50 Profilometer é utilizado para a medição de rugosidade, espessura de degraus e espessura óptica de uma fina película transparente sobre um substrato de vidro transparente. A altura do degrau será obtida medindo uma área do filme e uma área onde o substrato é exposto por diferença de altura relativa, enquanto que a espessura óptica será medida usando o Profilometer capacidade de medir através do filme transparente e detectar um reflexo tanto da superfície superior do filme quanto do substrato simultaneamente.

Película transparente na medição de substrato transparente usando a profilometria 3D