Medición de películas transparentes sobre sustratos transparentes

El perfilómetro Nanovea PS50 se utiliza para medir la rugosidad, el espesor de la altura de paso y el espesor óptico de una fina película transparente sobre un sustrato de vidrio transparente. La altura de paso se obtendrá midiendo un área de la película y un área en la que el sustrato está expuesto para la diferencia de altura relativa, mientras que el espesor óptico se medirá utilizando el Profilometer capacidad de medir a través de la película transparente y detectar un reflejo tanto de la superficie superior de la película como del sustrato simultáneamente.

Medición de películas transparentes sobre sustratos transparentes mediante perfilometría 3D