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AR Category: Press Release
El primer tribómetro con control de carga dual del mundo
Irvine, California, 28 de febrero de 2018. El Nanovea T2000 es el primer tribómetro del mundo con control de carga dual que proporciona una oscilación de fuerza vertical a frecuencias de hasta 150 Hz. Combina tecnología neumática avanzada con una plataforma electromagnética lineal de última generación para proporcionar una carga controlada de 1 mN a 2000 N durante las pruebas rotativas y lineales. Se utiliza neumática de 5 a 2000 N, lo que ofrece múltiples ventajas en comparación con las antiguas tecnologías de resorte/motor utilizadas en otros sistemas. Con las tecnologías de resorte/motor, el sensor de carga se coloca normalmente detrás del resorte. Esto significa que no mide la variación real de la carga aplicada sobre la superficie durante la prueba. El T2000 mide la carga mediante una conexión directa entre el soporte de la bola y la célula de carga real. Esto garantiza que la carga medida sea realmente la carga aplicada sobre la superficie. El sistema de carga electromagnética lineal del T2000 puede aplicar una fuerza vertical de 0,2 a 20 N a frecuencias de hasta 150 Hz. Por ejemplo, la carga normal se puede aumentar de 0 a 100 N con la tecnología neumática y, a continuación, el motor lineal puede variar la carga de 90 a 110 N y hasta 150 veces por segundo. Esto ofrece la capacidad única de superponer un nivel de control de fatiga o vibración a la fuerza constante principal aplicada por el sistema neumático. Esta etapa lineal electromagnética también puede aplicar directamente cargas muy bajas, de 1 mN a 5 N, para completar toda la gama.
Ver Vídeo Descubre más en el Nota de aplicación o visite Nanovea Tribómetros
In-line Inspection Game Changer
Using in-line inspection (POINT or LINE SENSORS) Nanovea’s unique in-line software package can measure and analyze “live” roughness and texture parameters meeting standards for up to 8 points sensors or up to 4 line sensors. The software has many features including pass and fail criteria specific to each sensor or average of all sensors. Acquisition rates of more than 1,300,000 points per seconds. This is ideal for any film/paper sheet measurements and other in-line applications. Nanovea provides integration support including specific mounting structure.
Medición del filo de la herramienta de corte en segundos
Irvine, California, 27 de julio de 2016. La perfilometría convencional escanea las superficies de las muestras desde una única dirección fija. Esto solo es adecuado para medir muestras suficientemente planas, a diferencia de las formas cilíndricas, que requieren una rotación precisa de 360°. Para una aplicación como la caracterización del filo helicoidal de una herramienta, una máquina convencional necesitaría múltiples escaneos desde diferentes ángulos de toda la pieza, así como una importante manipulación de los datos tras el escaneo. A menudo, esto requiere demasiado tiempo para aplicaciones de control de calidad que solo necesitan mediciones de regiones muy específicas.
La plataforma giratoria de NANOVEA resuelve este problema con el control simultáneo del movimiento de los ejes lateral y giratorio. Esta técnica elimina la necesidad de medir toda la pieza y realinearla continuamente, lo que lleva mucho tiempo. En su lugar, se puede determinar la circunferencia completa de todo el filo en cuestión de segundos. Todos los ángulos y características deseados se pueden determinar directamente a partir del escaneo, sin necesidad de unir múltiples archivos.
La técnica confocal cromática de NANOVEA ofrece una resolución mucho mayor, de hasta 2,7 nm, y una precisión superior a la de sus competidores que utilizan la variación de enfoque. La altura bruta de la superficie se mide directamente a partir de la detección de la longitud de onda enfocada en la superficie, sin los errores que provocan las técnicas de interferometría, sin limitaciones del campo de visión y sin necesidad de preparar la superficie de la muestra. Los materiales con una reflectividad extremadamente alta o baja se pueden medir fácilmente y los ángulos de pared muy elevados se caracterizan con precisión sin ningún problema.
En combinación con el sensor lineal de NANOVEA, se puede capturar una barra de datos de hasta 4,78 mm de ancho en una sola pasada, mientras se mueve linealmente hasta 150 mm en la dirección de escaneo. Al mismo tiempo, la plataforma giratoria puede hacer girar la muestra a la velocidad deseada. En conjunto, este sistema permite crear un mapa de altura 3D continuo de toda la circunferencia de un filo, con cualquier paso o radio, en una fracción del tiempo que requieren otras tecnologías.
Véase la nota de aplicación: Medición rotacional mediante perfilometría 3D
Breakthrough Indentation Yield Strength Test by Nanovea
Irvine CA, July 14, 2011 – Nanovea today introduced its patent pending breakthrough method of reliably acquiring yield strength through indentation; ultimately replacing the traditional tensile testing machine for yield strength measurement. Traditionally yield strength has been tested by using a tensile testing machine, a large instrument requiring enormous strength to pull apart metal, plastic and others. The yield strength (also known as yield point) of a material in engineering (and or materials science) is the point of stress that a material starts to deform plastically. Before reaching the yield point a material will deform elastically but returns to its original shape when stress is removed. A crucial material property for nano and micro related materials found in advancing industries such as biomedical, microelectronics, energy and many others. Until now the most reliable way took large machine effort, sample preperation, and or was impossible to perform on small samples and localized areas. By using Nanovea’s Mechanical Tester in indentation mode, using a cylindrical flat tip, yield strength data can be easily obtained. For years now, the indentation test has been used for hardness and elastic modulus measurements. There has traditionally been an issue with linking macro tensile properties to what was measured during an indentation test. Many studies measuring with spherical tips have allowed stress-strain curves but were never able to give reliable tensile yield strength data that corresponded directly to macro tensile data. Nanovea’s patent pending method, using a cylindrical flat tip, gives yield strength directly comparable to what is measured by traditional means. It is believed that the load per surface area at which the cylindrical flat tip penetrates, at increased speed, is directly linked to the load versus surface area at which the material starts flowing in a tensile mode test. Therefore, reliable yield strength results on an endless list of materials, small or large has never before been as obtainable until now. “This is just another addition, on a long and growing list, of what can be tested with our Mechanical Tester,” said Pierre Leroux, Nanovea’s CEO. While this specific test is a breakthrough of great importance, it is ultimately just another reason why the Nanovea Mechanical Tester has the widest testing capability of any mechanical testing system.
For application note visit: Breakthrough Indentation Yield Strength Testing
Avance revolucionario en las pruebas de desgaste nano a alta velocidad
20 de febrero de 2013 – Irvine, California – Nanovea ha anunciado hoy la finalización de un sistema de pruebas de desgaste nano capaz de alcanzar velocidades de hasta 1400 mm/s. La longitud única de la carrera, de hasta 10 mm, combinada con un movimiento lineal a una velocidad de hasta 70 Hz, y posiblemente a frecuencias más altas, permite alcanzar velocidades nunca antes disponibles para las pruebas de desgaste nano.
Los instrumentos de ensayo de desgaste existen desde hace más de medio siglo. Desde el principio, las cargas de ensayo solían ser superiores a 1 N y las velocidades eran lentas, excepto en las aplicaciones más recientes de fricción, en las que el desplazamiento se limitaba a decenas de micras. A finales de los años 80 apareció por primera vez la nanoindentación, con la capacidad de proporcionar cargas mucho más bajas. Los primeros sistemas se basaban, y siguen basándose en su mayoría, en un sistema de bobinas sin bucle de control de retroalimentación. El bucle de control de retroalimentación es esencial para proporcionar un control de carga superior cuando se mueve la posición de contacto, como el que se requiere para las pruebas de rayado o desgaste. Las pruebas de rayado nano con combinación de células de carga piezoeléctricas aparecieron a finales de los años 90. Los primeros sistemas utilizaban tecnologías en voladizo que proporcionaban una velocidad suficiente para el control de retroalimentación durante las pruebas de rayado y desgaste, pero la velocidad de desplazamiento estaba, y sigue estando, limitada a menos de 10 mm/s. Para muchas aplicaciones, la vida útil requiere un número muy elevado de ciclos para garantizar que el dispositivo resista tras años de uso. A la baja velocidad que ofrecen las tecnologías de voladizo, se podrían necesitar más de seis meses para realizar una sola prueba de desgaste. Esto es poco práctico y ralentiza claramente el desarrollo y la aprobación de nuevas tecnologías.
Nanovea es capaz de alcanzar velocidades más rápidas y garantizar un control seguro de las cargas durante las pruebas de desgaste Nano Wear Testing mediante el uso de un sistema de altavoces de bobina que permite un desplazamiento rápido y suave. Añadiendo el uso de Nanovea Módulo Nano con un actuador piezoeléctrico y una célula de carga ultrasensible crea un control de carga rápido con montaje vertical para garantizar una respuesta superior a la velocidad.
“Este proyecto nos ha brindado la oportunidad de demostrar realmente la capacidad de nuestro equipo. Estamos muy orgullosos de este logro. Esta nueva tecnología acelerará la introducción en el mercado de nuevos dispositivos con una mayor vida útil para el cliente”. –Director general, Pierre Leroux
Avance revolucionario en las pruebas de nanotribología de alta velocidad
21 de febrero de 2013 – Irvine, California – Nanovea ha anunciado hoy la finalización de un Nanotribología Sistema capaz de alcanzar velocidades de hasta 1400 mm/seg. La longitud única de la carrera, de hasta 10 mm, combinada con un movimiento lineal a una velocidad de hasta 70 Hz, y posiblemente a frecuencias más altas, permite alcanzar velocidades nunca antes disponibles para las pruebas de desgaste nano.
Los instrumentos de ensayo de desgaste existen desde hace más de medio siglo. Desde el principio, las cargas de ensayo solían ser superiores a 1 N y las velocidades eran lentas, excepto en las aplicaciones más recientes de fricción, en las que el desplazamiento se limitaba a decenas de micras. A finales de los años 80 apareció por primera vez la nanoindentación, con la capacidad de proporcionar cargas mucho más bajas. Los primeros sistemas se basaban, y siguen basándose en su mayoría, en un sistema de bobinas sin bucle de control de retroalimentación. El bucle de control de retroalimentación es esencial para proporcionar un control de carga superior cuando se mueve la posición de contacto, como el que se requiere para las pruebas de rayado o desgaste. Las pruebas de rayado nano con combinación de células de carga piezoeléctricas aparecieron a finales de los años 90. Los primeros sistemas utilizaban tecnologías en voladizo que proporcionaban una velocidad suficiente para el control de retroalimentación durante las pruebas de rayado y desgaste, pero la velocidad de desplazamiento estaba, y sigue estando, limitada a menos de 10 mm/s. Para muchas aplicaciones, la vida útil requiere un número muy elevado de ciclos para garantizar que el dispositivo resista tras años de uso. A la baja velocidad que ofrecen las tecnologías de voladizo, se podrían necesitar más de seis meses para realizar una sola prueba de desgaste. Esto es poco práctico y ralentiza claramente el desarrollo y la aprobación de nuevas tecnologías.
Nanovea es capaz de alcanzar velocidades más rápidas y un control seguro de las cargas durante las pruebas de desgaste Nano Wear Testing mediante el uso de un sistema de altavoces de bobina para un desplazamiento rápido y suave. Al añadir el uso del módulo Nanovea Nano con un actuador piezoeléctrico y una célula de carga ultrasensible, se consigue un control rápido de la carga con montaje vertical para garantizar una respuesta superior a la velocidad.
“Este proyecto nos ha brindado la oportunidad de demostrar realmente la capacidad de nuestro equipo. Estamos muy orgullosos de este logro. Esta nueva tecnología acelerará la introducción en el mercado de nuevos dispositivos con una mayor vida útil para el cliente”. –Pierre Leroux, director ejecutivo
Nanovea presenta su nueva y revolucionaria línea N3
Irvine, California, 18 de enero de 2012. Nanovea ha anunciado hoy la llegada de la línea N3, dedicada a proporcionar tecnología de medición de alta gama al mercado en general. Nanovea ha automatizado por completo sus técnicas de medición y ha diseñado sus productos para el mercado $20K.
El producto estrella de la línea N3 es el M3, un avance tecnológico que aborda dos aspectos distintos que faltaban en el mercado de los ensayos de dureza. En primer lugar, la combinación de tres factores nunca antes disponibles: rango nanométrico, carga y profundidad controladas y un precio competitivo para competir en el mercado $20K. Esto proporciona a las universidades y a las unidades de I+D más pequeñas una capacidad de nanoindentación asequible. El M3 introduce una capacidad de usuario completamente nueva en este rango de precios, proporcionando un acceso asequible a resultados de nanoindentación rápidos y fáciles según la norma ASTM. En segundo lugar, ofrece tecnología de última generación para sustituir a los tradicionales durómetros Visual Micro Vickers, que no han cambiado en más de 15 años. Para lograrlo, el método de indentación se ha automatizado por completo, sin necesidad de observar visualmente la indentación, lo que elimina los errores del usuario o los problemas con el software de reconocimiento de imágenes que pueden tener problemas con el color y la textura del material. Además, esta nueva tecnología puede alcanzar una carga menor y funciona en recubrimientos delgados y en toda la gama de materiales, incluyendo cerámicas, polímeros, metales y otros. El sistema totalmente automatizado tiene una pantalla táctil de inicio que proporciona el promedio automático de múltiples mediciones en cuestión de minutos. La unidad es compacta y está totalmente integrada, con un solo cable eléctrico estándar para conectarla. Gracias a estos avances tecnológicos y a su precio muy competitivo, la línea M3 será la sustituta ideal de los antiguos medidores Micro Vickers que se utilizan actualmente en entornos industriales de control de calidad de alto rendimiento.
El M3 marca el inicio de una nueva era en los ensayos de dureza al ofrecer una capacidad de medición que hasta ahora se reservaba exclusivamente a la investigación de alto nivel. Básicamente, como ocurre con la mayoría de los avances tecnológicos, el precio se ha mantenido nanoindentación capacidad fuera del alcance del mercado en general, que sigue utilizando equipos estándar para ensayos de dureza. El M3 será un sustituto significativo a un costo asequible y el resultado será revolucionario. Pero Nanovea no se detuvo ahí. El M3 es solo uno de los tres nuevos productos de la nueva línea N3 de Nanovea. Junto con el M3, Nanovea también presenta el P3 y el T3.
El P3 supone un avance significativo en la metrología 3D sin contacto, ya que proporciona datos automáticos de rugosidad y escalonamiento ISO en nanómetros en casi cualquier material, una capacidad que no está disponible en el mercado de 20 000 dólares. El P3 se dirigirá a un mercado más amplio que necesita datos automáticos de rugosidad, desde nano hasta macro, sin el alto costo asociado a un sistema perfilómetro completo. Por último, pero no por ello menos importante, el T3, al igual que el P3, se ha desarrollado para proporcionar un acceso rápido, fácil y asequible a una capacidad de medición de alta gama. El T3 es un medidor automático de desgaste nano que utiliza un movimiento lineal recíproco, ASTM g133, para el estudio de la tasa de desgaste.
“La línea N3 supone una revolución en los instrumentos de medición de materiales de alta gama, cada uno a su manera y en sus propios mercados. Todos ellos han sido diseñados estratégicamente para cumplir el objetivo de Nanovea de proporcionar nanotecnología crucial a un mercado más amplio. Al igual que ocurre con muchas tecnologías que se desarrollan hoy en día para hacer avanzar nuestra sociedad, el precio será, en última instancia, lo que determine su aceptación y uso generalizados. Lo mismo ocurre con la tecnología de medición, que es igual de crucial, si no más”, afirma Pierre Leroux, director ejecutivo de Nanovea.
Nanovea presentará la línea N3 por primera vez al público en la feria MRS de otoño de 2012. Los pedidos de compra de la línea N3 comenzarán en abril y la entrega se realizará en junio de 2012.
Lanzamiento del perfilómetro portátil Jr25 True
Noviembre de 2010 (Irvine, California) – El Nanovea Jr25, perfilómetro portátil 3D sin contacto, es el primer perfilómetro verdaderamente portátil y de alto rendimiento de su clase. Con una batería opcional y un estuche de transporte, el Jr25 ofrece una capacidad de medición poco habitual en los estudios de campo. El Jr25 está diseñado para utilizar fácilmente lápices ópticos de última generación que utilizan una medición superior del cromatismo axial de la luz blanca. Durante la medición se puede obtener un rango que va desde lo nano hasta lo macro (perfil/dimensión, rugosidad/acabado/textura, forma/topografía, planitud/deformación, área de volumen, altura/profundidad/espesor de los escalones y otros) en una gama más amplia de geometrías y materiales que cualquier otro. Perfilómetro y ahora con verdadera capacidad portátil. Con un peso total inferior a 5,5 kg, el operador puede colocar con seguridad el Jr25 sobre la superficie que se va a inspeccionar. El Jr25 tiene la capacidad de medir un área de hasta 25 mm x 25 mm y, dependiendo del lápiz óptico, una profundidad de hasta 27 mm y una resolución de hasta 5 nm. El enfoque de la superficie se realiza manualmente con un micrómetro de tacto suave y un rango de desplazamiento de 30 mm. Se pueden medir superficies de casi cualquier tipo, independientemente de si el material es reflectante o no, transparente u opaco, especular o difuso. Con un cabezal totalmente giratorio de un solo eje, el Jr25 tiene la capacidad de medir superficies en ángulos difíciles. Además de su rapidez y facilidad de uso, el Jr25 ha sido diseñado específicamente para entornos de producción en los que no se pueden mover las muestras y para estudios de campo abierto. “Se ha abierto la puerta para que nuestra técnica 3D sin contacto llegue a entornos que no habían sido alcanzados por este tipo de capacidad de medición, desde la luna hasta el desierto y todo lo que hay entre ambos. El campo se ha convertido realmente en un laboratorio con este tipo de recurso de medición a su lado”. – Craig Leising | Gerente de producto
Un fabricante estadounidense de instrumentos de nanotecnología demuestra el éxito del estímulo a la investigación y el desarrollo
Irvine, California, 25 de enero de 2010. Al igual que muchos en todo el país, quizá se pregunte cómo los miles de millones invertidos en I+D científico han ayudado a estimular nuestra economía. Pues bien, no hay más que fijarse en la empresa fabricante de instrumentos nanotecnológicos Nanovea, con sede en Irvine, California. El año 2009 acaba de terminar y ha sido su primer año de marca propia, con nuevas contrataciones, nuevos instrumentos y más negocio para sus talleres mecánicos y proveedores de piezas locales. Desde su oficina de Irvine, California, Nanovea diseña y fabrica instrumentos 3D. Perfilómetros, Probadores mecánicos y Tribómetros para combinar las capacidades de prueba más avanzadas de la industria: rayado, adhesión, dureza, desgaste, fricción y metrología 3D sin contacto en rango nano, micro y macro. A diferencia de otros fabricantes, Nanovea también ofrece servicios de laboratorio, lo que brinda a los clientes acceso a la última tecnología y resultados óptimos gracias a las mejoras en los estándares de prueba de materiales. Entonces, ¿qué tiene que ver Nanovea con el estímulo dado a la investigación en Estados Unidos? Pues bien, casualmente, todo, y aquí explicamos por qué. El estímulo dado a los laboratorios de investigación, las universidades y las empresas tenía como objetivo el desarrollo de nuevas innovaciones y materiales para apoyar a industrias en crecimiento como la solar, la energética, la biomédica, etc. Para crear nuevos materiales o mejorarlos, se necesitan nuevos instrumentos que midan y garanticen las características de los materiales durante la investigación y el desarrollo. Además, también se necesitarían instrumentos para supervisar el desarrollo masivo de estos nuevos materiales con fines de control de calidad. Nanovea llevaba desde 2004 diseñando y fabricando instrumentos con este fin y se había estado preparando para el lanzamiento de la marca a finales de 2008. Bajo la dirección de un nuevo director de marketing, Nanovea preparó su lanzamiento en uno de los momentos económicos más difíciles que ha vivido Estados Unidos. Nanovea aceptó el reto y aprovechó al máximo las necesidades de la comunidad investigadora tanto en Estados Unidos como a nivel internacional. Con tres líneas de productos y servicios claras, Nanovea proporcionó soluciones a lo largo de 2009 a industrias de alto crecimiento que necesitaban mediciones a escala nano y macro. Ahora, 2010 ya ha comenzado con varios proyectos nuevos en todo el mundo y con clientes locales de los sectores solar, farmacéutico y médico en toda California. “Ser un fabricante estadounidense de instrumentos y servicios nano durante este periodo nos ha brindado grandes oportunidades para consolidar nuestra marca. Estamos muy agradecidos y también muy orgullosos de haber podido apoyar la economía con nuevas contrataciones y negocios para nuestros socios locales”. —Pierre Leroux, Presidente de Nanovea | Director ejecutivo
Inspección nanométrica en línea con el perfilómetro 3D sin contacto Nanovea
Irvine, California, 5 de enero de 2010. El perfilómetro sin contacto Nanovea 3D contará ahora con una función opcional en línea para la inspección automatizada y la generación de informes. Con este avance, Nanovea... Perfilómetro Ahora se puede integrar sin esfuerzo en entornos de control de calidad grandes o pequeños. Las aplicaciones cruciales en todas las industrias, que antes se inspeccionaban con visión y/o sonda táctil, ahora se inspeccionarán con la garantía de una medición nanométrica sin contacto de alta velocidad. Esto es especialmente importante para la producción por lotes con niveles de tolerancia estrictos, que ahora se pueden supervisar fácilmente para garantizar el control de calidad a través de la comunicación en línea. Con esta nueva función, las aplicaciones se pueden escanear y analizar automáticamente según las instrucciones que se encuentran en una base de datos del servidor. La función de inspección en línea permite el escaneo automático de la identificación del producto con un lector de códigos de barras (también se puede introducir manualmente); a continuación, la identificación del producto se compara con los requisitos de medición y aprobación/rechazo predefinidos almacenados en una base de datos de la empresa. La pieza se mide automáticamente y, una vez completada, se genera automáticamente un informe. El informe y la información de aprobación/rechazo se envían automáticamente al servidor y se almacenan con ese número de pieza. Las velocidades de medición oscilan entre 1 m/s y 31 000 puntos/segundo con una precisión de nanómetros. Existen varios tipos de escaneo, funciones de análisis y opciones de tamaño que se pueden personalizar para adaptarse a aplicaciones de todos los sectores. “Esta es una capacidad muy interesante para Nanovea. Nuestros perfilómetros pueden aprovechar al máximo la inspección en línea en este momento, pero también es una nueva opción para nuestros probadores mecánicos cuando se puede utilizar la dureza para el control de calidad”.”
—Craig Leising, Gerente de Producto
