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Perfilómetro Frenos Abrir nuevos caminos Abrir nuevos caminos

Irvine, California, 2 de diciembre de 2008. Nanovea ha anunciado hoy que su línea de perfilómetros sin contacto incluirá ahora un sistema con velocidades de medición más de 180 veces más rápidas. Con este nuevo avance, el perfilómetro de Nanovea tendrá ahora la capacidad de alcanzar velocidades adecuadas para entornos de producción y control de calidad con mayores restricciones de tiempo. Este nuevo avance en la tecnología de perfilómetros supone un gran avance para su uso en estos entornos concretos. Antes de este nuevo avance, esta técnica de perfilado requería una medición punto por punto, que adquiría puntos de datos individuales mientras la muestra que se medía se movía hacia adelante y hacia atrás bajo la óptica para crear un mapa 3D. Con esta nueva tecnología, habrá una línea de 180 puntos medibles que se adquirirán simultáneamente, lo que reducirá significativamente el tiempo necesario para crear un mapa 3D de la superficie. “Estoy entusiasmado con esta nueva capacidad; nos permitirá trabajar con nuevos mercados que requieren un alto rendimiento”, afirmó Craig Leising, director de producto de Nanovea. El nuevo Perfilómetro El sistema utiliza una matriz de 1 x 180 puntos de medición y puede escanear hasta 1800 líneas por segundo para crear una velocidad de escaneo total de hasta 324 000 puntos por segundo. El sistema será capaz de medir grandes áreas en segundos con alta resolución y puede equiparse con software de reconocimiento de imágenes para una inspección de alta velocidad. Las opciones también incluirán un espejo de escaneo para crear una función de escaneo de campo que medirá 180 puntos por 230 líneas. También estará disponible un sistema en línea personalizado.