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El perfilómetro abre nuevos caminos

Irvine CA, 02 de diciembre de 2008 - Nanovea ha anunciado hoy que su línea de perfilómetros sin contacto incluirá ahora un sistema con velocidades de medición más de 180 veces más rápidas. Con este nuevo avance, el perfilómetro de Nanovea tendrá ahora la capacidad de alcanzar velocidades adecuadas para entornos de producción y control de calidad con más limitaciones de tiempo. Este nuevo avance en la tecnología del perfilómetro supone un gran avance para su uso en estos entornos concretos. Antes de este nuevo avance, esta técnica de perfilado requería una medición punto por punto, que adquiría puntos de datos individuales mientras la muestra que se estaba midiendo se movía de un lado a otro bajo la óptica para crear mapas en 3D. Con esta nueva tecnología habrá una línea de 180 puntos medibles que se adquirirán simultáneamente, lo que reducirá significativamente el tiempo para crear un mapeado 3D de la superficie. "Estoy entusiasmado con esta nueva capacidad; esto nos dará la posibilidad de trabajar con nuevos mercados que requieren altos rendimientos". afirmó Craig Leising, director de producto de Nanovea. La nueva Perfilómetro El sistema utiliza una matriz de 1 x 180 puntos de medición y puede escanear hasta 1.800 líneas por segundo para crear una velocidad de escaneado total de hasta 324.000 puntos por segundo. El sistema será capaz de medir grandes áreas en segundos con alta resolución y puede equiparse con software de reconocimiento de imágenes para inspecciones de alta velocidad. Las opciones también incluirán un espejo de escaneado para crear una función de escaneado de campo que medirá 180 puntos por 230 líneas. También habrá disponible un sistema en línea personalizado.