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Profilometer bremst neue Wege Neue Wege gehen

Irvine, Kalifornien, 02. Dezember 2008 - Nanovea gab heute bekannt, dass die Produktreihe der berührungslosen Profilometer nun ein System mit einer über 180-fachen Messgeschwindigkeit umfasst. Mit dieser neuen Entwicklung sind die Profilometer von Nanovea nun in der Lage, Geschwindigkeiten zu erreichen, die für zeitlich begrenzte Produktions- und Qualitätskontrollumgebungen geeignet sind. Dieser neue Fortschritt in der Profilometer-Technologie ist ein Durchbruch für den Einsatz in diesen speziellen Umgebungen. Vor dieser neuen Entwicklung war für diese Profilierungstechnik eine Punkt-für-Punkt-Messung erforderlich, bei der einzelne Datenpunkte erfasst wurden, während sich die zu messende Probe unter der Optik hin und her bewegte, um eine 3D-Abbildung zu erstellen. Mit dieser neuen Technologie können 180 Messpunkte gleichzeitig erfasst werden, was die Zeit für die Erstellung eines 3D-Mappings der Oberfläche erheblich verkürzt. "Ich bin begeistert von dieser neuen Fähigkeit; sie gibt uns die Möglichkeit, mit neuen Märkten zu arbeiten, die einen hohen Durchsatz erfordern." Sagte Craig Leising, Produktmanager bei Nanovea. Die neue Profilometer Das System verwendet eine Anordnung von 1 x 180 Messpunkten und kann bis zu 1800 Zeilen pro Sekunde abtasten, was eine Gesamtabtastrate von bis zu 324.000 Punkten pro Sekunde ergibt. Das System ist in der Lage, große Flächen in Sekundenschnelle mit hoher Auflösung zu messen und kann mit Bilderkennungssoftware für Hochgeschwindigkeitsinspektionen ausgestattet werden. Zu den Optionen gehört auch ein Scannerspiegel für eine Feldscanfunktion, die 180 Punkte mal 230 Zeilen messen kann. Auch ein kundenspezifisches Inline-System wird verfügbar sein.