月度档案。12月 2008

Profilometer制动的新领域 突破新领域

2008年12月2日，加利福尼亚州欧文市 - Nanovea今天宣布，它的非接触式轮廓仪阵容现在将包括一个测量速度超过180倍的系统。有了这个新的进展，Nanovea的轮廓仪现在有能力达到适合更多时间限制的生产和质量控制环境的速度。轮廓仪技术的这一新进展是在这些特定环境中使用的一个突破性进展。在这项新进展之前，这种轮廓测量技术需要逐点测量，即在被测样品在光学系统下来回移动时获取单个数据点，以创建三维地图。有了这项新技术，将有180个可测量的点同时被获取，这将大大减少创建表面三维图的时间。"我对这种新能力感到兴奋；这将使我们有能力与需要高产量的新市场合作"。Nanovea的产品经理Craig Leising说。新的 轮廓仪 系统使用1 x 180的测量点阵列，每秒可扫描1800行，形成每秒高达324,000点的总体扫描率。该系统将能够在几秒钟内以高分辨率测量大片区域，并可配备图像识别软件进行高速检测。选项还将包括一个扫描镜，以创建一个现场扫描功能，可以测量180点230线。也将提供定制的内联系统。