Archives mensuelles : décembre 2008

Le profilomètre ouvre de nouvelles perspectives

Irvine CA, 02 décembre 2008 - Nanovea a annoncé aujourd'hui que sa gamme de profileurs sans contact comprend désormais un système dont les vitesses de mesure sont 180 fois plus rapides. Grâce à cette nouvelle avancée, le profilomètre de Nanovea pourra désormais atteindre des vitesses adaptées aux environnements de production et de contrôle de la qualité soumis à des contraintes de temps plus importantes. Ce nouveau progrès dans la technologie du profilomètre est une percée pour l'utilisation dans ces environnements particuliers. Avant cette nouvelle avancée, cette technique de profilage nécessitait une mesure point par point, ce qui permettait d'acquérir des points de données uniques pendant que l'échantillon mesuré se déplaçait d'avant en arrière sous l'optique pour créer une cartographie 3D. Avec cette nouvelle technologie, il y aura une ligne de 180 points mesurables qui seront acquis simultanément, ce qui réduira considérablement le temps nécessaire pour créer une cartographie 3D de la surface. "Je suis enthousiasmé par cette nouvelle capacité ; cela nous donnera la possibilité de travailler avec de nouveaux marchés qui nécessitent des débits élevés." a déclaré Craig Leising, chef de produit chez Nanovea. La nouvelle Profilomètre Le système utilise une matrice de 1 x 180 points de mesure et peut balayer jusqu'à 1800 lignes par seconde pour créer un taux de balayage global allant jusqu'à 324 000 points par seconde. Le système sera capable de mesurer de grandes surfaces en quelques secondes avec une haute résolution et pourra être équipé d'un logiciel de reconnaissance d'image pour une inspection à grande vitesse. Les options comprendront également un miroir de balayage pour créer une fonction de balayage de champ qui mesurera 180 points par 230 lignes. Un système en ligne personnalisé sera également disponible.