La medición de muestras no convencionales resulta difícil debido principalmente a los problemas que plantea el montaje de la muestra en una plataforma. Con el JR25 de Nanovea, no es necesario montar la muestra, solo hay que mantenerla inmóvil. Esto significa que se pueden escanear fácilmente objetos grandes, como paredes, automóviles o máquinas. Su tamaño compacto lo hace portátil y versátil. Puede inclinar su sensor de lápiz en un ángulo, lo que lo hace ideal para medir muestras que no son planas y que presentan dificultades para exponer el área de interés a una sonda de escaneo. Dado que el 3D sin contacto Perfilómetro utiliza tecnología de cromatismo axial, también puede medir cualquier superficie con una preparación mínima de la muestra. Se pueden medir alturas de nano a macro sin que influyan en absoluto la reflectividad, la transparencia y la curvatura de la muestra. La flexibilidad y portabilidad del perfilómetro 3D sin contacto Nanovea JR25 hace que medir una gama más amplia de muestras sea más sencillo en comparación con los perfilómetros convencionales.



