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AR Categoría: Notas de aplicación
Resistencia al rayado de la microestructura mediante pruebas de rayado
En esta aplicación, el Nanovea Mechanical Tester en su nano prueba de rascado El modo se utiliza para medir la carga necesaria para provocar el fallo de una microestructura. Debemos simular el proceso de rayado de forma controlada y supervisada para observar la resistencia al rayado. Se utiliza una aguja con punta de diamante de 10 μm con una carga progresiva que oscila entre 10 mN y 20 mN para rayar la microestructura. El punto en el que el recubrimiento falla al agrietarse se toma como el punto de fallo.
Resistencia a los rayones de la microestructura mediante ensayos de rayado
Inspección de pines de conectores con perfilometría 3D
En esta aplicación, el Nanovea ST400 Perfilómetro se utiliza para medir toda la superficie de un conector y sus pines. La aplicación se eligió por sus características desafiantes, al tiempo que se resaltaban las opciones de medición con la técnica de Nanovea. Hay una lista interminable de parámetros de superficie que se pueden calcular automáticamente después del escaneo de la superficie. Aquí revisaremos un perfil 3D completo, la planitud de la base del conector, la coplanaridad de los pines y la rugosidad de la punta de un pin.
