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INTRODUCCIÓN
La fractografía es el estudio de las características de las superficies fracturadas y se ha investigado históricamente mediante microscopio o SEM. Dependiendo del tamaño del rasgo, se selecciona un microscopio (rasgos macro) o un SEM (rasgos nano y micro) para el análisis de la superficie. En última instancia, ambos permiten identificar el tipo de mecanismo de fractura. Aunque eficaz, el microscopio tiene claras limitaciones y el SEM, en la mayoría de los casos, aparte del análisis a nivel atómico, es poco práctico para la medición de la superficie de la fractura y carece de una capacidad de uso más amplia. Con los avances en la tecnología de medición óptica, el NANOVEA Perfilómetro 3D sin contacto se considera actualmente el instrumento de elección, gracias a su capacidad para realizar mediciones de superficies 2D y 3D desde la nanoescala hasta la macroescala.
IMPORTANCIA DEL PERFILÓMETRO 3D SIN CONTACTO PARA LA INSPECCIÓN DE FRACTURAS
A diferencia de un SEM, un perfilómetro 3D sin contacto puede medir casi cualquier superficie y tamaño de muestra, con una preparación mínima de la muestra, a la vez que ofrece unas dimensiones verticales/horizontales superiores a las de un SEM. Con un perfilómetro, las características de rango nano a macro se capturan en una sola medición con influencia cero de la reflectividad de la muestra. Mida fácilmente cualquier material: transparente, opaco, especular, difusivo, pulido, rugoso, etc. El perfilómetro 3D sin contacto proporciona una capacidad amplia y fácil de usar para maximizar los estudios de fractura de superficies a una fracción del coste de un SEM.
