PL 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
TR 
KO 
AR 
WPROWADZENIE
Fraktografia to badanie cech pękniętych powierzchni, które w przeszłości było badane za pomocą mikroskopu lub SEM. W zależności od wielkości cechy do analizy powierzchni wybiera się mikroskop (cechy makro) lub SEM (cechy nano i mikro). Obydwa ostatecznie pozwalają na identyfikację rodzaju mechanizmu pękania. Chociaż mikroskop jest skuteczny, ma wyraźne ograniczenia, a SEM w większości przypadków, z wyjątkiem analizy na poziomie atomowym, jest niepraktyczny do pomiaru powierzchni pęknięć i nie ma szerszych możliwości wykorzystania. Dzięki postępowi w technologii pomiarów optycznych, NANOVEA Bezkontaktowy profilometr 3D jest obecnie uważany za instrument z wyboru, umożliwiający pomiary powierzchni w skali nano w makroskali 2D i 3D
ZNACZENIE PROFILOMETRU BEZKONTAKTOWEGO 3D W KONTROLI PĘKNIĘĆ
W przeciwieństwie do SEM, bezkontaktowy profilometr 3D może mierzyć prawie każdą powierzchnię, wielkość próbki, przy minimalnym przygotowaniu próbki, oferując jednocześnie lepsze wymiary pionowe/poziome niż SEM. Dzięki profilometrowi, cechy w zakresie od nano do makro są rejestrowane w jednym pomiarze, bez wpływu odbicia próbki. Łatwo mierzyć dowolny materiał: przezroczysty, nieprzezroczysty, spekularny, dyfuzyjny, polerowany, chropowaty, itp. Profilometr bezdotykowy 3D zapewnia szerokie i przyjazne dla użytkownika możliwości maksymalizacji badań nad pękaniem powierzchni za ułamek kosztów SEM.
