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El perfilómetro Nanovea recibe la certificación de sala limpia “Clase 1”

Irvine, California, 22 de enero de 2009. Nanovea Inc. ha anunciado hoy la instalación satisfactoria de su perfilómetro en la sala limpia de clase 1 de un fabricante líder en microelectrónica. Las salas limpias de clase 1 son conocidas por su estricto cumplimiento de las normas y sus exigentes requisitos en cuanto a los materiales utilizados en el desarrollo de los instrumentos. Las avanzadas capacidades de perfilado 3D sin contacto de los perfilómetros de Nanovea serán ahora una opción para los requisitos más estrictos de las salas limpias microelectrónicas. Mediante el uso de etapas lineales motorizadas “limpias” y la selección adecuada de materiales, los ingenieros de Nanovea diseñaron un sistema a medida que fuera compatible con las estrictas normas de clase 1. Las salas limpias de clase 1 tienen un nivel de contaminación estrictamente controlado y permiten muy pocas partículas de cualquier tipo. La selección de materiales fue crucial en el diseño de las etapas X-Y, de modo que se emitieran pocas partículas al aire durante las pruebas. El sistema también se diseñó con un alto grado de planitud, precisión y un nivel de automatización que permite al usuario medir múltiples áreas y unirlas. Esto permitirá al usuario crear una gran superficie plana para comparar la planitud relativa con muy poca interacción por su parte. El área medible del perfilómetro personalizado puede ser de hasta 30 cm x 30 cm con una resolución vertical de hasta 2 nm. También hay disponible un diseño para escanear piezas grandes, pesadas e incluso inamovibles. Esto es solo un pequeño ejemplo de los proyectos que los ingenieros de Nanovea han personalizado. También han proporcionado un perfilómetro de alta velocidad construido a medida con velocidades de más de 30 000 puntos/segundo y visión artificial con reconocimiento de imágenes para mejorar la eficiencia. Además, Perfilómetro Se han construido con capacidades de escaneo personalizadas para obtener mediciones de la superficie tanto de la parte superior como de la inferior, al tiempo que se mide el espesor del material, todo ello con una resolución nanométrica. “La incorporación del diseño de sala limpia permitirá a Nanovea trabajar más estrechamente con entornos estrictos y demuestra una vez más nuestra dedicación a la ingeniosidad”, afirmó Craig Leising, director de producto de Nanovea, Inc.