Categoria: Profilometria | Planarità e deformazione
Ruvidità della superficie e caratteristiche di una cella solare
Ispezione della finitura superficiale dei pavimenti in legno
Portabilità e flessibilità del profilometro senza contatto Jr25 3D
Misura della planarità dello schermo mediante profilometria 3D veloce
Misura della planarità è un'importante qualità geometrica della superficie nella produzione di pezzi e gruppi di precisione. La planarità della superficie gioca un ruolo fondamentale nell'utilizzo finale del prodotto. Ad esempio, le parti collegate a tenuta d'aria o di liquidi attraverso un'area superficiale richiedono condizioni di superficie rigorose, con una planarità superiore sulla faccia di contatto. La planarità dello schermo è fondamentale per la funzionalità e l'estetica di dispositivi elettronici come cellulari, pad e laptop. Qualsiasi imperfezione nella planarità dello schermo può creare un'impressione e un'esperienza negativa del prodotto da parte dell'utente.
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Effetto dell'umidità sulla planarità della carta
La planarità della carta è fondamentale per il corretto funzionamento della carta da stampa. Comunica le caratteristiche funzionali e dà un'impressione della qualità della carta. Una migliore comprensione dell'effetto dell'umidità sulla planarità, struttura e consistenza della carta consente di ottimizzare le misure di lavorazione e controllo per ottenere il miglior prodotto. È necessaria un'ispezione superficiale quantificabile, precisa e affidabile della carta in diversi ambienti umidi per simulare l'uso della carta nell'applicazione realistica. La Nanovea Profilometri 3D senza contatto utilizza la tecnologia confocale cromatica con capacità unica di misurare con precisione la superficie della carta. Un controller di umidità fornisce un controllo preciso dell'umidità in una camera sigillata in cui il campione di prova è esposto all'umidità.
Misura della planarità del wafer mediante profilometria 3D
In questa applicazione il Nanovea ST400 Profilometro viene utilizzato per misurare la sezione di un array di wafer. L'area misurata è stata scelta a caso e si presume che sia sufficientemente grande da poter essere estrapolata per fare ipotesi su una superficie molto più ampia. Superficie misura della planaritàPer analizzare la superficie vengono utilizzati i parametri di planarità e altri parametri di superficie.