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AR Estos son algunos ejemplos de materiales que hemos probado este mes:
Mecánica:
• Nanoindentation oscillation of thin films
• Nanoindentation of peened surface
• Nano yield strength of mems
• Nano scratch of stent
• Nano scratch of microstrip
• Nano wear of implant
• Micro scratch of aluminum parts
Perfilometría 3D sin contacto:
• Profile of micro machined surface
• Profile of anodization surface
• Planarity of micro marks
• Rugosidad de la superficie granallada
• Topography of wood surface
• Step height of micro channel
• Step height of printed electronics
Tribología:
• Friction testing of silicon
• Ptfe coating wear friction testing
• 36hr wear rate of dlc coating
• Wear resistance of glass
• High temp wear resistance of graphite
Estos son algunos ejemplos de materiales que hemos probado este mes:
Mecánica:
• Nano fracture of ceramic
• Nano scratch of microelectronic coating
• Nano scratch of medical coating
• Nano compression of micro feature
• Nano stress strain solar film
• Micro scratch of TiN coating
• Microindentation of concrete
Perfilometría 3D sin contacto:
• Texture patterns of fracture
• Flatness of flip chip
• Planarity of microelectronic
• Profile of dental samples
• Roughness of micro pitting
• Roughness of micro medical parts
• Step Height of solder paste
• Coefficient of friction polyurethane coating
• Coefficient of friction medical plastic
• 24hr Wear resistance of coated glass
• Wear resistance of submerged implant
• chrome carbide coating wear resistance
Estos son algunos ejemplos de materiales que hemos probado este mes:
Mecánica:
• Nano scratch of composite foil
• Nano scratch of composite samples
• Nano scratch of hard polymer
• Nano wear of implant
• Nanoindentaion of wafer samples
• Mechanical properties of laser welds with Nanoindentación
• Microindentation of rock
Perfilometría 3D sin contacto:
• Roughness of print rollers
• Roughness of micro cones
• Roughness of dental implants
• Topography of laser etched polymer
• Flatness of ceramic samples
• Height variations of micro bumps
• Coplanarity of tool bit surface
• Depth consistency of micro channels
Tribología:
• Coefficient of friction powders
• Coefficient of friction gels
• Coefficient of friction grip samples
• Wear resistance of engine parts
• Wear resistance of hard fiber
• Wear resistance of hard glass composite
Estos son algunos ejemplos de materiales que hemos probado este mes:
Mecánica:
• Nano scratch of solar film
• Nano scratch of micro wires
• Nano wear of composite seals
• Nanoindentaion of wafer samples
• Nanoindentation of mineral particles
• Nano Compression of silicon
• Micro Fracture Toughness of carbon
3D sin contacto Perfilometría:
• Roughness of thin clear plastic
• Roughness of o-ring
• Sandblasted steel texture measurement
• Dimension of micro component
• Topography of rock drill head
• Profile of micro features
• Step Height of thin films
• CoPlanarity of samtec connector
Tribología:
• Coefficient of friction polished concrete
• Coefficient of friction elastomer
• Wear resistance of hard plastic casing
• Wear resistance of hard carbon coating
• Wear resistance of epoxy coating
Lanzamiento del perfilómetro portátil Jr25 True
Noviembre de 2010 (Irvine, California) – El Nanovea Jr25, perfilómetro portátil 3D sin contacto, es el primer perfilómetro verdaderamente portátil y de alto rendimiento de su clase. Con una batería opcional y un estuche de transporte, el Jr25 ofrece una capacidad de medición poco habitual en los estudios de campo. El Jr25 está diseñado para utilizar fácilmente lápices ópticos de última generación que utilizan una medición superior del cromatismo axial de la luz blanca. Durante la medición se puede obtener un rango que va desde lo nano hasta lo macro (perfil/dimensión, rugosidad/acabado/textura, forma/topografía, planitud/deformación, área de volumen, altura/profundidad/espesor de los escalones y otros) en una gama más amplia de geometrías y materiales que cualquier otro. Perfilómetro y ahora con verdadera capacidad portátil. Con un peso total inferior a 5,5 kg, el operador puede colocar con seguridad el Jr25 sobre la superficie que se va a inspeccionar. El Jr25 tiene la capacidad de medir un área de hasta 25 mm x 25 mm y, dependiendo del lápiz óptico, una profundidad de hasta 27 mm y una resolución de hasta 5 nm. El enfoque de la superficie se realiza manualmente con un micrómetro de tacto suave y un rango de desplazamiento de 30 mm. Se pueden medir superficies de casi cualquier tipo, independientemente de si el material es reflectante o no, transparente u opaco, especular o difuso. Con un cabezal totalmente giratorio de un solo eje, el Jr25 tiene la capacidad de medir superficies en ángulos difíciles. Además de su rapidez y facilidad de uso, el Jr25 ha sido diseñado específicamente para entornos de producción en los que no se pueden mover las muestras y para estudios de campo abierto. “Se ha abierto la puerta para que nuestra técnica 3D sin contacto llegue a entornos que no habían sido alcanzados por este tipo de capacidad de medición, desde la luna hasta el desierto y todo lo que hay entre ambos. El campo se ha convertido realmente en un laboratorio con este tipo de recurso de medición a su lado”. – Craig Leising | Gerente de producto
Un fabricante estadounidense de instrumentos de nanotecnología demuestra el éxito del estímulo a la investigación y el desarrollo
Irvine, California, 25 de enero de 2010. Al igual que muchos en todo el país, quizá se pregunte cómo los miles de millones invertidos en I+D científico han ayudado a estimular nuestra economía. Pues bien, no hay más que fijarse en la empresa fabricante de instrumentos nanotecnológicos Nanovea, con sede en Irvine, California. El año 2009 acaba de terminar y ha sido su primer año de marca propia, con nuevas contrataciones, nuevos instrumentos y más negocio para sus talleres mecánicos y proveedores de piezas locales. Desde su oficina de Irvine, California, Nanovea diseña y fabrica instrumentos 3D. Perfilómetros, Probadores mecánicos y Tribómetros para combinar las capacidades de prueba más avanzadas de la industria: rayado, adhesión, dureza, desgaste, fricción y metrología 3D sin contacto en rango nano, micro y macro. A diferencia de otros fabricantes, Nanovea también ofrece servicios de laboratorio, lo que brinda a los clientes acceso a la última tecnología y resultados óptimos gracias a las mejoras en los estándares de prueba de materiales. Entonces, ¿qué tiene que ver Nanovea con el estímulo dado a la investigación en Estados Unidos? Pues bien, casualmente, todo, y aquí explicamos por qué. El estímulo dado a los laboratorios de investigación, las universidades y las empresas tenía como objetivo el desarrollo de nuevas innovaciones y materiales para apoyar a industrias en crecimiento como la solar, la energética, la biomédica, etc. Para crear nuevos materiales o mejorarlos, se necesitan nuevos instrumentos que midan y garanticen las características de los materiales durante la investigación y el desarrollo. Además, también se necesitarían instrumentos para supervisar el desarrollo masivo de estos nuevos materiales con fines de control de calidad. Nanovea llevaba desde 2004 diseñando y fabricando instrumentos con este fin y se había estado preparando para el lanzamiento de la marca a finales de 2008. Bajo la dirección de un nuevo director de marketing, Nanovea preparó su lanzamiento en uno de los momentos económicos más difíciles que ha vivido Estados Unidos. Nanovea aceptó el reto y aprovechó al máximo las necesidades de la comunidad investigadora tanto en Estados Unidos como a nivel internacional. Con tres líneas de productos y servicios claras, Nanovea proporcionó soluciones a lo largo de 2009 a industrias de alto crecimiento que necesitaban mediciones a escala nano y macro. Ahora, 2010 ya ha comenzado con varios proyectos nuevos en todo el mundo y con clientes locales de los sectores solar, farmacéutico y médico en toda California. “Ser un fabricante estadounidense de instrumentos y servicios nano durante este periodo nos ha brindado grandes oportunidades para consolidar nuestra marca. Estamos muy agradecidos y también muy orgullosos de haber podido apoyar la economía con nuevas contrataciones y negocios para nuestros socios locales”. —Pierre Leroux, Presidente de Nanovea | Director ejecutivo
Inspección nanométrica en línea con el perfilómetro 3D sin contacto Nanovea
Irvine, California, 5 de enero de 2010. El perfilómetro sin contacto Nanovea 3D contará ahora con una función opcional en línea para la inspección automatizada y la generación de informes. Con este avance, Nanovea... Perfilómetro Ahora se puede integrar sin esfuerzo en entornos de control de calidad grandes o pequeños. Las aplicaciones cruciales en todas las industrias, que antes se inspeccionaban con visión y/o sonda táctil, ahora se inspeccionarán con la garantía de una medición nanométrica sin contacto de alta velocidad. Esto es especialmente importante para la producción por lotes con niveles de tolerancia estrictos, que ahora se pueden supervisar fácilmente para garantizar el control de calidad a través de la comunicación en línea. Con esta nueva función, las aplicaciones se pueden escanear y analizar automáticamente según las instrucciones que se encuentran en una base de datos del servidor. La función de inspección en línea permite el escaneo automático de la identificación del producto con un lector de códigos de barras (también se puede introducir manualmente); a continuación, la identificación del producto se compara con los requisitos de medición y aprobación/rechazo predefinidos almacenados en una base de datos de la empresa. La pieza se mide automáticamente y, una vez completada, se genera automáticamente un informe. El informe y la información de aprobación/rechazo se envían automáticamente al servidor y se almacenan con ese número de pieza. Las velocidades de medición oscilan entre 1 m/s y 31 000 puntos/segundo con una precisión de nanómetros. Existen varios tipos de escaneo, funciones de análisis y opciones de tamaño que se pueden personalizar para adaptarse a aplicaciones de todos los sectores. “Esta es una capacidad muy interesante para Nanovea. Nuestros perfilómetros pueden aprovechar al máximo la inspección en línea en este momento, pero también es una nueva opción para nuestros probadores mecánicos cuando se puede utilizar la dureza para el control de calidad”.”
—Craig Leising, Gerente de Producto
Pruebas de nanoindentación revolucionarias con reconocimiento de patrones de imagen
Irvine CA, 1 de abril de 2009 - Nanovea ha anunciado hoy un avance decisivo en Nanoindentación combinando capacidades avanzadas de reconocimiento de patrones de imagen con el nanoindentador más avanzado para aplicaciones de control de calidad. Nanovea ha combinado su cámara de visión artificial PRVision con los ensayos de nanoindentación, lo que permite el reconocimiento automático de características elegidas con precisión sin apenas interacción por parte del usuario. El software de fácil manejo PRVision de Nanovea permite realizar ensayos automáticos de dureza y módulo elástico en muestras con patrones o en áreas de interés elegidas específicamente. Las propiedades de nanoindentación, incluidas la dureza y el módulo elástico, pueden medirse y registrarse automáticamente. Las bajas cargas "casi no destructivas" asociadas a los ensayos de nanoindentación hacen de esta técnica una herramienta de vanguardia ideal para supervisar el control de calidad de entornos en los que la dureza y el módulo elástico son cruciales: Microelectrónica, energía solar, productos farmacéuticos y muchos otros. "Hasta ahora, la nanoindentación se realizaba mediante opciones de mapeado primitivo. Nuestra opción PRVision acelerará las pruebas de nanoindentación y abre la puerta a aplicaciones de control de calidad de producción automática a gran escala en las que la dureza y el módulo elástico son los mejores parámetros de control." afirmó Pierre Leroux, Director General/Presidente de Nanovea.
Top Semiconductor Mfg Chooses Nanovea Profilometer Over Many
Irvine CA, March 5, 2009 – Nanovea announced today that it will ship a top Semiconductor Mfg its first HS1000 Profilometer. The HS1000 delivery adds yet another highlight to Nanovea’s impressive Optical Profiler history and offers customers a more advanced measurement speed option for high throughput demands. The HS1000 Profilometer is equipped with an unmatched combination of measurement speed, automation and nanometer resolution.Until the Nanovea HS1000 Profilometer, full automation and the unique advantages of white-light axial chromatism technique were features rarely found in a single high scanning speed instrument; a feature the Client requested and only Nanovea could deliver. Traditional high speed instruments would typically sacrifice one feature for another, speed or resolution, which limited the users overall measurement capability. The HS1000 Profilometer stage speed can reach 1m/s, up to 50 times faster than most optical profilers in its class. The HS1000 Profilometer is equipped with a 31KHz white-light axial chromatism sensor and XY measurement area of 400mm x 600mm, which at maximum stage speed can measure 1 point every 32µm and traverse the full 400mm in less than 1 sec. (higher resolution can be obtained with proportionally slower stage speeds). In addition, the HS1000 Profilometer has a machine vision camera option that allows auto-recognition on precisely chosen surface features with little to no user interaction. The user-friendly software and the optional machine vision camera allows for an automatic scan of the surface to recognize all features of interest. These features can then be automatically measured or the user can select from a list from which to measure. The combination of superior overall features makes the HS1000 Perfilómetro unquestionably the instrument of choice for high throughput demands found in Semiconductor, Solar and Pharmaceutical industries. “It goes without saying the importance of gaining this client’s choice. I’m proud of our team’s ability to deliver with such an important opportunity,” Said Craig Leising, Product Manager, Nanovea.
El perfilómetro Nanovea recibe la certificación de sala limpia “Clase 1”
Irvine, California, 22 de enero de 2009. Nanovea Inc. ha anunciado hoy la instalación satisfactoria de su perfilómetro en la sala limpia de clase 1 de un fabricante líder en microelectrónica. Las salas limpias de clase 1 son conocidas por su estricto cumplimiento de las normas y sus exigentes requisitos en cuanto a los materiales utilizados en el desarrollo de los instrumentos. Las avanzadas capacidades de perfilado 3D sin contacto de los perfilómetros de Nanovea serán ahora una opción para los requisitos más estrictos de las salas limpias microelectrónicas. Mediante el uso de etapas lineales motorizadas “limpias” y la selección adecuada de materiales, los ingenieros de Nanovea diseñaron un sistema a medida que fuera compatible con las estrictas normas de clase 1. Las salas limpias de clase 1 tienen un nivel de contaminación estrictamente controlado y permiten muy pocas partículas de cualquier tipo. La selección de materiales fue crucial en el diseño de las etapas X-Y, de modo que se emitieran pocas partículas al aire durante las pruebas. El sistema también se diseñó con un alto grado de planitud, precisión y un nivel de automatización que permite al usuario medir múltiples áreas y unirlas. Esto permitirá al usuario crear una gran superficie plana para comparar la planitud relativa con muy poca interacción por su parte. El área medible del perfilómetro personalizado puede ser de hasta 30 cm x 30 cm con una resolución vertical de hasta 2 nm. También hay disponible un diseño para escanear piezas grandes, pesadas e incluso inamovibles. Esto es solo un pequeño ejemplo de los proyectos que los ingenieros de Nanovea han personalizado. También han proporcionado un perfilómetro de alta velocidad construido a medida con velocidades de más de 30 000 puntos/segundo y visión artificial con reconocimiento de imágenes para mejorar la eficiencia. Además, Perfilómetro Se han construido con capacidades de escaneo personalizadas para obtener mediciones de la superficie tanto de la parte superior como de la inferior, al tiempo que se mide el espesor del material, todo ello con una resolución nanométrica. “La incorporación del diseño de sala limpia permitirá a Nanovea trabajar más estrechamente con entornos estrictos y demuestra una vez más nuestra dedicación a la ingeniosidad”, afirmó Craig Leising, director de producto de Nanovea, Inc.
