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AR Category: Profilometry | Step Height and Thickness
Transparent Film on Transparent Substrate Measurement
The Nanovea PS50 Profilometer is used for roughness measurement, step height thickness and optical thickness of a thin transparent film on a transparent glass substrate. Step height will be obtained by measuring an area of the film and an area where the substrate is exposed for relative height difference, while optical thickness will be measured by using the Profilometer capability of measuring through the transparent film and detecting a reflecting both from the top surface of the film and the substrate simultaneously.
Transparent Film on Transparent Substrate Measurement Using 3D Profilometry
Medición de la profundidad de microarañazos mediante perfilometría 3D
En esta aplicación, el Nanovea ST400 Profilometer se utiliza para medición de la profundidad de una hilera de microarañazos creados con la tecnología Comprobador mecánico en modo rayado. En segundos, el perfilómetro, con una sola pasada de línea en modo 2D, proporciona mediciones de área y profundidad.
Medición de la profundidad de microarañazos mediante perfilometría 3D
