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AR Categoría: Perfilometría | Altura y espesor de los escalones
Medición de película transparente sobre sustrato transparente
El perfilómetro Nanovea PS50 se utiliza para medir la rugosidad, la altura de los escalones y el espesor óptico de una película transparente delgada sobre un sustrato de vidrio transparente. La altura de los escalones se obtiene midiendo un área de la película y un área donde el sustrato queda expuesto para determinar la diferencia de altura relativa, mientras que el espesor óptico se mide utilizando el ProfilometeCapacidad para medir a través de la película transparente y detectar simultáneamente los reflejos tanto de la superficie superior de la película como del sustrato.
Medición de película transparente sobre sustrato transparente mediante perfilometría 3D
Medición de la profundidad de microarañazos mediante perfilometría 3D
En esta aplicación, el Nanovea ST400 Profilometer se utiliza para medición de la profundidad de una hilera de microrrayaduras creadas con el Comprobador mecánico en modo rayado. En segundos, el perfilómetro, con una sola pasada de línea en modo 2D, proporciona mediciones de área y profundidad.
Medición de la profundidad de microarañazos mediante perfilometría 3D
