Archivos mensuales: marzo 2009

El principal fabricante de semiconductores elige el perfilómetro Nanovea frente a muchos otros

Irvine, California, 5 de marzo de 2009. Nanovea ha anunciado hoy que enviará su primer perfilómetro HS1000 a una importante empresa fabricante de semiconductores. La entrega del HS1000 supone un nuevo hito en la impresionante trayectoria de Nanovea en el campo de los perfilómetros ópticos y ofrece a los clientes una opción de velocidad de medición más avanzada para satisfacer las demandas de alto rendimiento. El perfilómetro HS1000 está equipado con una combinación inigualable de velocidad de medición, automatización y resolución nanométrica. Hasta la llegada del perfilómetro HS1000 de Nanovea, la automatización total y las ventajas únicas de la técnica de cromatismo axial de luz blanca eran características que rara vez se encontraban en un solo instrumento de alta velocidad de escaneo, una característica que el cliente solicitó y que solo Nanovea pudo ofrecer. Los instrumentos tradicionales de alta velocidad solían sacrificar una característica por otra, la velocidad o la resolución, lo que limitaba la capacidad de medición general de los usuarios. La velocidad de la plataforma del perfilómetro HS1000 puede alcanzar 1 m/s, hasta 50 veces más rápida que la mayoría de los perfilómetros ópticos de su clase. El perfilómetro HS1000 está equipado con un sensor de cromatismo axial de luz blanca de 31 KHz y un área de medición XY de 400 mm x 600 mm, que a la velocidad máxima de la plataforma puede medir 1 punto cada 32 µm y recorrer los 400 mm completos en menos de 1 segundo. (Se puede obtener una mayor resolución con velocidades de plataforma proporcionalmente más lentas). Además, el perfilómetro HS1000 tiene una opción de cámara de visión artificial que permite el reconocimiento automático de características superficiales seleccionadas con precisión, con poca o ninguna interacción por parte del usuario. El software fácil de usar y la cámara de visión artificial opcional permiten un escaneo automático de la superficie para reconocer todas las características de interés. A continuación, estas características se pueden medir automáticamente o el usuario puede seleccionar de una lista las que desea medir. La combinación de características generales superiores hace que el HS1000 Perfilómetro Sin duda, el instrumento ideal para las altas exigencias de rendimiento de las industrias de semiconductores, energía solar y farmacéutica. “No hace falta decir lo importante que es haber conseguido la confianza de este cliente. Estoy orgulloso de la capacidad de nuestro equipo para aprovechar una oportunidad tan importante”, afirmó Craig Leising, director de producto de Nanovea.