Archivos mensuales: enero 2005

Micro Photonics presenta un perfilómetro de doble escaneo y un instrumento de escaneo

Irvine, California, 25 de enero de 2005. Micro Photonics Inc. ha anunciado hoy la última incorporación a su línea de instrumentos para el análisis de materiales superficiales. El perfilómetro de doble escaneo, el primero de su clase, permite realizar simultáneamente un escaneo de espesor y un escaneo de perfilometría dual. Fijada en una plataforma entre las dos plumas, la plataforma de muestras se mueve en dirección x-y, lo que permite a las dos sondas determinar un perfil de superficie sincronizado. El software del sistema calcula la distancia conocida entre las plumas, con la longitud de onda de la luz blanca incidente reflejada desde la superficie de la muestra, para determinar el espesor de la muestra en cualquier punto dado. Utilizando el principio de la aberración cromática, dos plumas pasan luz blanca a través de la lente del objetivo y reflejan esa luz en la superficie de la muestra. A continuación, la lente recoge la longitud de onda de la luz blanca incidente y la vuelve a enfocar a una distancia variable de la lente. Esta tecnología exclusiva está disponible en Micro Photonics Inc. Micro Photonics es un proveedor líder de instrumentos de tecnología de materiales y pruebas de laboratorio desde hace más de doce años. La empresa se especializa en: pruebas nanométricas y micrométricas, microtomografía de rayos X, elipsometría, difracción de rayos X, 3D sin contacto. Perfilómetro, análisis de películas delgadas, instrumentos de imagen biológica y sistemas NSOM, SPM y AFM.