Aylık Arşivler: Ocak 2005

Micro Photonics Çift Taramalı Profilometre ve Tarama Cihazını Tanıttı

Irvine CA, 25 Ocak 2005 - Micro Photonics Inc. bugün yüzey malzemeleri test cihazları serisine en son eklenen ürünü duyurdu. Türünün ilk örneği olan Çift Taramalı Profilometre, eşzamanlı kalınlık ve çift profilometri taraması sağlıyor. İki kalem arasındaki bir platforma sabitlenen numune tablası, x-y yönünde hareket ederek iki probun senkronize bir yüzey profili belirlemesini sağlar. Sistem yazılımı, herhangi bir noktada numunenin kalınlığını belirlemek için numune yüzeyinden yansıyan beyaz ışığın dalga boyu ile kalemler arasındaki bilinen mesafeyi hesaplar. Kromatik Aberasyon prensibini kullanarak, iki kalem beyaz ışığı objektif merceğinden geçirir ve bu ışığı numune yüzeyinden yansıtır. Lens daha sonra gelen beyaz ışığın dalga boyunu toplar ve lensten değişken bir mesafede yeniden odaklar. Bu özel teknoloji Micro Photonics Inc. tarafından sunulmaktadır. Micro Photonics, on iki yılı aşkın bir süredir malzeme teknolojisi cihazları ve laboratuvar testleri konusunda lider bir tedarikçidir. Şirket şu alanlarda uzmanlaşmıştır: Nano ve Mikro Mekanik Testler, X-Ray Mikro Tomografi, Elipsometre, X-Ray Kırınımı, 3D Temassız Profilometreİnce Film Analizi, Biyolojik Görüntüleme Cihazları ve NSOM, SPM ve AFM sistemleri.