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Analisi della superficie pallinata

ANALISI DELLA SUPERFICIE PALLINATA

UTILIZZO DEL PROFILOMETRO 3D SENZA CONTATTO

Preparato da

CRAIG LEISING

INTRODUZIONE

La pallinatura è un processo in cui un substrato viene bombardato con sfere sferiche di metallo, vetro o ceramica, comunemente denominate "sparate", con una forza destinata a indurre plasticità sulla superficie. L'analisi delle caratteristiche prima e dopo la martellatura fornisce spunti cruciali per migliorare la comprensione e il controllo del processo. La rugosità superficiale e l'area di copertura delle fossette lasciate dallo sparo sono aspetti di interesse particolarmente degni di nota.

Importanza del profilometro 3D senza contatto per l'analisi della superficie pallinata

A differenza dei profilometri a contatto tradizionali, tradizionalmente utilizzati per l'analisi delle superfici pallinate, la misurazione 3D senza contatto fornisce un'immagine 3D completa per offrire una comprensione più completa dell'area di copertura e della topografia della superficie. Senza funzionalità 3D, un'ispezione si baserà esclusivamente su informazioni 2D, che non sono sufficienti per caratterizzare una superficie. Comprendere la topografia, l'area di copertura e la rugosità in 3D è l'approccio migliore per controllare o migliorare il processo di pallinatura. di NANOVEA Profilometri 3D senza contatto utilizzano la tecnologia della luce cromatica con una capacità unica di misurare gli angoli ripidi riscontrati su superfici lavorate e pallinate. Inoltre, quando altre tecniche non riescono a fornire dati affidabili a causa del contatto della sonda, della variazione della superficie, dell'angolo o della riflettività, i profilometri NANOVEA riescono.

OBIETTIVO DI MISURAZIONE

In questa applicazione, il profilometro senza contatto NANOVEA ST400 viene utilizzato per misurare la materia prima e due superfici martellate in modo diverso per una revisione comparativa. C'è un elenco infinito di parametri di superficie che possono essere calcolati automaticamente dopo la scansione della superficie 3D. Qui esamineremo la superficie 3D e selezioneremo le aree di interesse per ulteriori analisi, inclusa la quantificazione e l'analisi della rugosità, delle fossette e dell'area della superficie.

NANOVEA

ST400

IL CAMPIONE

RISULTATI

SUPERFICIE IN ACCIAIO

ISO 25178 PARAMETRI DI RUGOSITÀ 3D

S.A 0,399 micron Rugosità media
Sq 0,516 micron Rugosità RMS
Sz 5,686 micron Massimo picco-valle
Sp 2,976 micron Altezza massima del picco
Sv 2,711 micron Profondità massima della fossa
Cod 3.9344 Curtosi
Ssk -0.0113 Skewness
Sal 0,0028 mm Lunghezza di correlazione automatica
str 0.0613 Proporzioni della trama
Sdar 26,539 mm² Superficie
Svk 0,589 micron Profondità della valle ridotta
 

RISULTATI

SUPERFICIE MARRELLATA 1

COPERTURA DELLA SUPERFICIE
98.105%

ISO 25178 PARAMETRI DI RUGOSITÀ 3D

Sa 4,102 micron Rugosità media
Sq 5,153 micron Rugosità RMS
Sz 44,975 micron Massimo picco-valle
Sp 24,332 micron Altezza massima del picco
Sv 20,644 micron Profondità massima della fossa
Cod 3.0187 Curtosi
Ssk 0.0625 Skewness
Sal 0,0976 mm Lunghezza di correlazione automatica
str 0.9278 Proporzioni della trama
Sdar 29.451mm² Superficie
Svk 5,008 micron Profondità della valle ridotta

RISULTATI

SUPERFICIE MARRELLATA 2

COPERTURA DELLA SUPERFICIE 97.366%

ISO 25178 PARAMETRI DI RUGOSITÀ 3D

Sa 4.330 micron Rugosità media
Sq 5,455 micron Rugosità RMS
Sz 54,013 micron Massimo picco-valle
Sp 25,908 micron Altezza massima del picco
Sv 28,105 micron Profondità massima della fossa
Cod 3.0642 Curtosi
Ssk 0.1108 Skewness
Sal 0,1034 mm Lunghezza di correlazione automatica
str 0.9733 Proporzioni della trama
Sdar 29,623 mm² Superficie
Svk 5,167 micron Profondità della valle ridotta

CONCLUSIONE

In questa applicazione di analisi della superficie pallinata, abbiamo dimostrato come il profilatore 3D senza contatto NANOVEA ST400 caratterizzi con precisione sia la topografia che i dettagli nanometrici di una superficie pallinata. È evidente che sia Surface 1 che Surface 2 hanno un impatto significativo su tutti i parametri qui riportati rispetto alla materia prima. Un semplice esame visivo delle immagini rivela le differenze tra le superfici. Ciò è ulteriormente confermato dall'osservazione dell'area di copertura e dei parametri elencati. Rispetto alla superficie 2, la superficie 1 presenta una rugosità media inferiore (Sa), ammaccature meno profonde (Sv) e un'area superficiale ridotta (Sdar), ma un'area di copertura leggermente superiore.

Da queste misurazioni della superficie 3D, le aree di interesse possono essere facilmente identificate e sottoposte a una gamma completa di misurazioni, tra cui rugosità, finitura, consistenza, forma, topografia, planarità, deformazione, planarità, volume, altezza del gradino e altre. È possibile scegliere rapidamente una sezione trasversale 2D per un'analisi dettagliata. Queste informazioni consentono un'analisi completa delle superfici martellate, utilizzando una gamma completa di risorse per la misurazione della superficie. Aree di interesse specifiche potrebbero essere ulteriormente esaminate con un modulo AFM integrato. I profilometri 3D NANOVEA offrono velocità fino a 200 mm/s. Possono essere personalizzati in termini di dimensioni, velocità, capacità di scansione e possono persino essere conformi agli standard delle camere bianche di classe 1. Sono inoltre disponibili opzioni come Indexing Conveyor e integrazione per l'utilizzo in linea o online.

Un ringraziamento speciale a Mr. Hayden della IMF per aver fornito il campione mostrato in questa nota. Industrial Metal Finishing Inc. | www.indmetfin.com

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