ANÁLISIS DE SUPERFICIES GRANALLADAS

En esta aplicación de análisis de superficies granalladas, hemos demostrado cómo el perfilador 3D sin contacto NANOVEA ST400 caracteriza con precisión tanto la topografía como los detalles nanométricos de una superficie granallada. Es evidente que tanto la Superficie 1 como la Superficie 2 tienen un impacto significativo en todos los parámetros informados aquí en comparación con la materia prima. Un simple examen visual de las imágenes revela las diferencias entre las superficies. Esto se confirma aún más al observar el área de cobertura y los parámetros enumerados. En comparación con la Superficie 2, la Superficie 1 exhibe una rugosidad promedio más baja (Sa), abolladuras menos profundas (Sv) y un área de superficie reducida (Sdar), pero un área de cobertura ligeramente mayor.

A partir de estas mediciones de superficie 3D, las áreas de interés pueden identificarse fácilmente y someterse a una amplia gama de mediciones, que incluyen rugosidad, acabado, textura, forma, topografía, planeidad, alabeo, planaridad, volumen, altura de paso y otras. Se puede elegir rápidamente una sección transversal 2D para un análisis detallado. Esta información permite una investigación integral de las superficies granalladas, utilizando una gama completa de recursos de medición de superficies. Las áreas específicas de interés podrían examinarse más a fondo con un módulo AFM integrado. Los perfilómetros NANOVEA 3D ofrecen velocidades de hasta 200 mm/s. Se pueden personalizar en términos de tamaño, velocidades, capacidades de escaneo e incluso pueden cumplir con los estándares de sala limpia Clase 1. También están disponibles opciones como Indexing Conveyor e integración para uso en línea o en línea.