ABD/GLOBAL: +1-949-461-9292
AVRUPA: +39-011-3052-794
tr_TR TR
tr_TR TR en_US EN es_MX ES de_DE DE fr_FR FR it_IT IT zh_CN ZH ja JA pt_BR PT ko_KR KO pl_PL PL ar AR
BİZE ULAŞIN

Bilye Dövülmüş Yüzey Analizi

PİLLENMİŞ YÜZEY ANALİZİ

3D TEMASSIZ PROFİLOMETRE KULLANIMI

Tarafından hazırlanmıştır

CRAIG LEISING

GİRİŞ

Bilyalı dövme, bir alt tabakanın küresel metal, cam veya seramik boncuklarla (genelde "shot" olarak anılır) yüzeyde plastisite oluşturmayı amaçlayan bir kuvvetle bombardımana tutulduğu bir işlemdir. Dövme öncesi ve sonrası özelliklerin analiz edilmesi, süreç kavrayışını ve kontrolünü geliştirmek için çok önemli bilgiler sağlar. Yüzey pürüzlülüğü ve çekimin bıraktığı çukurların kapsama alanı özellikle ilgi çekici yönlerdir.

Shot-Peened Yüzey Analizi için 3D Temassız Profilometrenin Önemi

Geleneksel olarak bilyalı dövmeli yüzey analizi için kullanılan geleneksel temaslı profilometrelerin aksine, 3D temassız ölçüm, kapsama alanı ve yüzey topografyasının daha kapsamlı anlaşılmasını sağlamak için eksiksiz bir 3D görüntü sağlar. 3D yetenekleri olmadan, bir inceleme yalnızca 2D bilgilerine dayanacaktır ve bu da bir yüzeyin karakterize edilmesi için yeterli değildir. Topografyayı, kapsama alanını ve pürüzlülüğü 3 boyutlu olarak anlamak, dövme sürecini kontrol etmek veya iyileştirmek için en iyi yaklaşımdır. NANOVEA'lar 3D Temassız Profilometreler İşlenmiş ve dövülmüş yüzeylerde bulunan dik açıları ölçmek için benzersiz bir yeteneğe sahip Chromatic Light teknolojisini kullanır. Ayrıca diğer teknikler prob teması, yüzey değişimi, açı veya yansıma nedeniyle güvenilir veri sağlayamadığında NANOVEA Profilometreler başarılı olur.

ÖLÇÜM HEDEFI

Bu uygulamada, NANOVEA ST400 Temassız Profilometre, karşılaştırmalı bir inceleme için ham maddeyi ve iki farklı şekilde dövülmüş yüzeyi ölçmek için kullanılır. 3D yüzey taramasından sonra otomatik olarak hesaplanabilen sonsuz bir yüzey parametreleri listesi vardır. Burada, 3B yüzeyi gözden geçireceğiz ve pürüzlülük, çukurlar ve yüzey alanını ölçmek ve araştırmak da dahil olmak üzere daha fazla analiz için ilgi alanlarını seçeceğiz.

NANOVEA

ST400

DAHA FAZLA BİLGİ EDİNİN
profilometre temassız optik 3d

ÖRNEK

SONUÇLAR

ÇELİK YÜZEY

ISO 25178 3D PÜRÜZLÜLÜK PARAMETRELERİ

SA 0,399 mikron Ortalama Pürüzlülük
Sq 0,516 mikron RMS Pürüzlülüğü
Sz 5.686 mikron Maksimum Zirveden Vadiye
Sp 2,976 mikron Maksimum Tepe Yüksekliği
Sv 2,711 mikron Maksimum Çukur Derinliği
Sku 3.9344 Kurtosis
Ssk -0.0113 Çarpıklık
Sal 0,0028 mm Otomatik Korelasyon Uzunluğu
Sokak 0.0613 Doku En Boy Oranı
Sdar 26.539 mm² Yüzey alanı
Svk 0,589 mikron Azaltılmış Vadi Derinliği
 

SONUÇLAR

Dövülmüş YÜZEY 1

YÜZEY KAPLAMASI
98.105%

ISO 25178 3D PÜRÜZLÜLÜK PARAMETRELERİ

Sa 4.102 mikron Ortalama Pürüzlülük
Sq 5.153 mikron RMS Pürüzlülüğü
Sz 44.975 mikron Maksimum Zirveden Vadiye
Sp 24.332 mikron Maksimum Tepe Yüksekliği
Sv 20.644 mikron Maksimum Çukur Derinliği
Sku 3.0187 Kurtosis
Ssk 0.0625 Çarpıklık
Sal 0,0976 mm Otomatik Korelasyon Uzunluğu
Sokak 0.9278 Doku En Boy Oranı
Sdar 29.451 mm² Yüzey alanı
Svk 5.008 mikron Azaltılmış Vadi Derinliği

SONUÇLAR

Dövülmüş YÜZEY 2

YÜZEY KAPLAMASI 97.366%

ISO 25178 3D PÜRÜZLÜLÜK PARAMETRELERİ

Sa 4.330 mikron Ortalama Pürüzlülük
Sq 5.455 mikron RMS Pürüzlülüğü
Sz 54.013 mikron Maksimum Zirveden Vadiye
Sp 25.908 mikron Maksimum Tepe Yüksekliği
Sv 28.105 mikron Maksimum Çukur Derinliği
Sku 3.0642 Kurtosis
Ssk 0.1108 Çarpıklık
Sal 0,1034 mm Otomatik Korelasyon Uzunluğu
Sokak 0.9733 Doku En Boy Oranı
Sdar 29.623 mm² Yüzey alanı
Svk 5.167 mikron Azaltılmış Vadi Derinliği

SONUÇ

Bu bilyeli yüzey analizi uygulamasında, NANOVEA ST400 3D Temassız Profil Oluşturucunun, dövülmüş bir yüzeyin hem topografyasını hem de nanometre ayrıntılarını tam olarak nasıl karakterize ettiğini gösterdik. Hem Yüzey 1'in hem de Yüzey 2'nin, ham maddeye kıyasla burada bildirilen tüm parametreler üzerinde önemli bir etkiye sahip olduğu açıktır. Görüntülerin basit bir görsel incelemesi, yüzeyler arasındaki farklılıkları ortaya çıkarır. Bu, kapsama alanı ve listelenen parametreler gözlemlenerek daha da doğrulanır. Yüzey 2 ile karşılaştırıldığında, Yüzey 1 daha düşük bir ortalama pürüzlülük (Sa), daha sığ çentikler (Sv) ve azaltılmış yüzey alanı (Sdar) sergiler, ancak biraz daha yüksek kapsama alanı gösterir.

Bu 3B yüzey ölçümlerinden, ilgili alanlar kolayca belirlenebilir ve Pürüzlülük, Bitiş, Doku, Şekil, Topografya, Yassılık, Çarpıklık, Düzlemsellik, Hacim, Adım Yüksekliği ve diğerleri dahil olmak üzere kapsamlı bir ölçüm dizisine tabi tutulabilir. Ayrıntılı analiz için bir 2B kesit hızla seçilebilir. Bu bilgi, eksiksiz bir yüzey ölçüm kaynakları yelpazesi kullanılarak, dövülmüş yüzeylerin kapsamlı bir şekilde araştırılmasına olanak tanır. Belirli ilgi alanları, entegre bir AFM modülü ile daha fazla incelenebilir. NANOVEA 3D Profilometreler, 200 mm/sn'ye varan hızlar sunar. Boyut, hız, tarama özellikleri açısından özelleştirilebilirler ve hatta Sınıf 1 Temiz Oda standartlarına bile uyum sağlayabilirler. İndeksleme Konveyörü ve Inline veya Online kullanım için entegrasyon gibi seçenekler de mevcuttur.

Bu notta gösterilen örneği sağladığı için IMF'den Bay Hayden'a özel bir teşekkür. Endüstriyel Metal Kaplama A.Ş. | indmetfin.com

Yorum

Telif Hakkı © 2024 Nanovea. Her hakkı saklıdır.