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AR Archivio mensile: Gennaio 2012
Ecco alcuni esempi di materiali che abbiamo testato questo mese:
Meccanico:
- Nanoscratch cedimento del rivestimento di microbarre
- Compressione per nanoindentazione di microparticelle
- Nanoindentazione DMA di polimeri morbidi
- Nanorivestimento dell'impianto
- Microindentazione della resistenza del motore
- Micrograffio/marmo del composito duro
Profilometria 3D senza contatto:
- Area superficiale dei biomateriali
- Volume del microugello
- Topografia dell'adesivo
- Rugosità del microfilo
- Ruvidità dei film sottili
- Struttura di vari campioni di roccia
- Planarità dei campioni di vetro
Tribologia:
- Test di attrito di soluzioni liquide
- Resistenza all'usura della porcellana
- Resistenza all'usura dei rivestimenti ottici duri
- Resistenza all'usura dei campioni di impianti
Resistenza al graffio della microstruttura mediante test al graffio
In questa applicazione, il tester meccanico Nanovea, nella sua versione nano test di graffiatura La modalità di graffiatura viene utilizzata per misurare il carico necessario a causare il cedimento di una microstruttura. Per osservare la resistenza alla scalfittura è necessario simulare il processo di scalfittura in modo controllato e monitorato. Uno stilo con punta di diamante di 10μm viene utilizzato con un carico progressivo che va da 10 mN a 20 mN per graffiare la microstruttura. Il punto in cui il rivestimento cede per fessurazione è considerato il punto di rottura.
Resistenza ai graffi della microstruttura con la prova del graffio
Ispezione dei pin dei connettori con la profilometria 3D
In questa applicazione, il Nanovea ST400 Profilometro è utilizzato per misurare l'intera area della superficie di un connettore e dei suoi pin. L'applicazione è stata scelta per le sue caratteristiche impegnative e per evidenziare le opzioni di misura della tecnica di Nanovea. Esiste un elenco infinito di parametri di superficie che possono essere calcolati automaticamente dopo la scansione della superficie. Qui esamineremo un profilo 3D completo, la planarità della base del connettore, la complanarità dei pin e la rugosità della punta di un pin.
