Archivio mensile: Gennaio 2005

Micro Photonics presenta un doppio profilometro di scansione e uno strumento di scansione

Irvine CA, 25 gennaio 2005 - Micro Photonics Inc. ha annunciato oggi l'ultima aggiunta alla sua linea di strumenti per il controllo dei materiali di superficie. Il Profilometro a doppia scansione è il primo del suo genere e fornisce una scansione simultanea dello spessore e della doppia profilometria. Fissato su una piattaforma tra le due penne, lo stage del campione si muove in direzione x-y consentendo alle due sonde di determinare un profilo superficiale sincronizzato. Il software del sistema calcola la distanza nota tra le penne, con la lunghezza d'onda della luce bianca incidente riflessa dalla superficie del campione, per determinare lo spessore del campione in qualsiasi punto. Utilizzando il principio dell'aberrazione cromatica, due penne fanno passare la luce bianca attraverso l'obiettivo e la riflettono sulla superficie del campione. L'obiettivo raccoglie quindi la lunghezza d'onda della luce bianca incidente e la rifocalizza a una distanza variabile dall'obiettivo. Questa tecnologia esclusiva è disponibile presso Micro Photonics Inc. Micro Photonics è un fornitore leader di strumenti per la tecnologia dei materiali e per i test di laboratorio da oltre dodici anni. L'azienda è specializzata in: Test nano e micro meccanici, micro tomografia a raggi X, elipsometria, diffrazione a raggi X, 3D senza contatto. Profilometro, analisi di film sottili, strumenti di imaging biologico e sistemi NSOM, SPM e AFM.