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Analisi della texture della buccia d'arancia della vernice con la profilometria 3D

Analisi della texture della buccia d'arancia della vernice con la profilometria 3D

Introduzione

Le dimensioni e la frequenza delle strutture superficiali sui substrati influenzano la qualità dei rivestimenti lucidi. La struttura a buccia d'arancia, che prende il nome dal suo aspetto, può svilupparsi a causa dell'influenza del substrato e della tecnica di applicazione della vernice. I problemi di struttura sono comunemente quantificati in base all'ondulazione, alla lunghezza d'onda e all'effetto visivo che hanno sui rivestimenti lucidi. Le texture più piccole riducono la brillantezza, mentre quelle più grandi provocano increspature visibili sulla superficie rivestita. La comprensione dello sviluppo di queste texture e la loro relazione con i substrati e le tecniche sono fondamentali per il controllo della qualità.

Importanza della profilometria per la misurazione della struttura

A differenza dei tradizionali strumenti 2D utilizzati per misurare la struttura della lucentezza, la misurazione 3D senza contatto fornisce rapidamente un'immagine 3D utilizzata per comprendere le caratteristiche della superficie, con l'ulteriore possibilità di esaminare rapidamente le aree di interesse. Senza la velocità e l'esame 3D, un ambiente di controllo della qualità si baserebbe esclusivamente su informazioni 2D che forniscono una scarsa prevedibilità dell'intera superficie. La comprensione delle texture in 3D consente di selezionare al meglio le misure di lavorazione e di controllo. La garanzia di un controllo di qualità di questi parametri si basa molto su un'ispezione quantificabile, riproducibile e affidabile. Nanovea 3D senza contatto Profilometri utilizzano la tecnologia confocale cromatica per avere la capacità unica di misurare gli angoli ripidi che si trovano durante le misure veloci. I profilometri Nanovea riescono dove altre tecniche non riescono a fornire dati affidabili a causa del contatto con la sonda, della variazione della superficie, dell'angolo o della riflettività.

Obiettivo di misurazione

In questa applicazione, il Nanovea HS2000L misura la struttura a buccia d'arancia di una vernice lucida. Ci sono infiniti parametri di superficie calcolati automaticamente dalla scansione della superficie 3D. Qui analizziamo una superficie 3D scansionata quantificando le caratteristiche della texture a buccia d'arancia della vernice.

Risultati e discussione

Il Nanovea HS2000L ha quantificato i parametri di isotropia e altezza della vernice a buccia d'arancia. La texture a buccia d'arancia ha quantificato la direzione del modello casuale con un'isotropia di 94,4%. I parametri di altezza quantificano la texture con una differenza di altezza di 24,84 µm.

La curva del rapporto di portanza nella Figura 4 è una rappresentazione grafica della distribuzione della profondità. Si tratta di una funzione interattiva del software che consente all'utente di visualizzare le distribuzioni e le percentuali a diverse profondità. Il profilo estratto nella Figura 5 fornisce valori di rugosità utili per la texture a buccia d'arancia. I picchi di estrazione al di sopra di una soglia di 144 micron mostrano la texture a buccia d'arancia. Questi parametri possono essere facilmente adattati ad altre aree o parametri di interesse.

Conclusione

In questa applicazione, il profilometro 3D senza contatto Nanovea HS2000L caratterizza con precisione sia la topografia che i dettagli nanometrici della struttura a buccia d'arancia della vernice su un rivestimento lucido. Le aree di interesse delle misurazioni 3D della superficie vengono rapidamente identificate e analizzate con molte misure utili (dimensione, rugosità della finitura, topografia della forma, planarità della curvatura, area del volume, altezza del gradino, ecc.) Sezioni trasversali 2D di rapida scelta forniscono una serie completa di risorse per la misurazione della superficie sulla struttura della lucentezza. Aree speciali di interesse possono essere ulteriormente analizzate con un modulo AFM integrato. La velocità del profilometro 3D Nanovea varia da <1 mm/s a 500 mm/s per adattarsi alle applicazioni di ricerca e alle esigenze di ispezione ad alta velocità. I profilometri 3D Nanovea hanno un'ampia gamma di configurazioni per adattarsi alle vostre applicazioni.

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