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AR Monatliches Archiv: September 2013
BESUCHEN SIE DEN NANOVEA-VERTRIEBSPARTNER AUF DER NANOTECH DUBAI
28.-30. Oktober | Dubai, VAE. Die Nanotech Dubai bringt führende Wissenschaftler, Forscher, Ingenieure, Praktiker, Technologieentwickler und politische Entscheidungsträger aus dem Bereich der Nanotechnologie zusammen, um Informationen über ihre neuesten Forschungsfortschritte, Innovationen und Geschäftsmöglichkeiten auszutauschen. Sie gehört zu den wichtigsten Veranstaltungen im Hinblick auf die internationale Regulierungspolitik. ►Nanotech Dubai 2013
Analyse von Beschichtungsfehlern durch Mikrokratztests
Wir müssen den Prozess simulieren, der Kratzertest in einer kontrollierten und überwachten Weise, um die Analyse des Versagens der Beschichtung zu beobachten. In dieser Anwendung wird das Nanovea-Mechanikprüfgerät in seinem Mikrokratzmodus verwendet, um die Last zu messen, die erforderlich ist, um das Versagen von drei separat verarbeiteten DLC-Beschichtungen zu verursachen. Ein 20-μm-Diamantstift mit 90°-Konus wird mit einer progressiven Kraft von 0,01 mN bis 15 N verwendet, um die DLC-Beschichtung zu zerkratzen. Der Punkt, an dem die Beschichtung durch Rissbildung versagt, gilt als Versagenspunkt.
Mechanische Stabilität von Schmierfett mit Tribometer
Die Nanovea Pin-On-Disk Tribometer wird im Rotationsmodus verwendet, es hätte aber auch ein linearer Modus verwendet werden können. Eine Stahlkugelspitze wird gegen eine mit Lithiumkomplexfett beschichtete Stahlprobe verwendet. Die Belastung beträgt 5 N bei einer konstanten Drehzahl von 150 U/min. Zwei separat formulierte Lithiumkomplexfette werden für eine vergleichende Bewertung getestet.
Hier finden Sie Beispiele für Materialien, die wir diesen Monat getestet haben:
Mechanisch:
- Nanoindentation Spannungsdehnung von Stählen
- Nanoindentation - Streckgrenze von Mikroteilen
- Nanoindentationssteifigkeit von Polymeren
- Nano-Kratzer in optischer Beschichtung
- Mikrokratzer in Lackbeschichtungen
- Makroindentation von dlc-Beschichtungen
- Makrokratzer von dlc-Beschichtungen
Berührungslose 3D-Profilometrie:
- Topographie von Geloberflächen
- Rauheit von Spritzgusswerkzeugen
- Textur von Silikonproben
- Ebenheit und Ko-Planarität von Wafer-Arrays
- Schritt Höhe der Fotomaske
- Abmessungen von Mikroteilen
- Prüfung von dlc-Beschichtungen unter Wasser auf Abnutzung
- Verschleißprüfung von Silikonbeschichtungen
- Reibungsprüfung von Smart-Glass-Proben
Ebenheitsmessung eines Wafers mit 3D-Profilometrie
In dieser Anwendung wird das Nanovea ST400 Profilometer wird verwendet, um den Querschnitt einer Wafer-Anordnung zu messen. Die gemessene Fläche wurde nach dem Zufallsprinzip ausgewählt und als groß genug angenommen, um Annahmen über eine viel größere Fläche treffen zu können. Oberfläche Ebenheitsmessung, Ebenheit und andere Oberflächenparameter werden zur Analyse der Oberfläche verwendet.
MS&T 2013
MS&T | 29.-30. Oktober Montreal, Quebec Kanada. Die MS&T-Partnerschaft von ACerS, AIST, ASM, MetSoc und TMS bringt Wissenschaftler, Ingenieure, Studenten, Zulieferer und andere zusammen, um aktuelle Forschung und technische Anwendungen zu diskutieren und die Zukunft der Materialwissenschaft und -technologie zu gestalten. NACE International ist Co-Sponsor der MS&T'13. www.matscitech.org
