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Organische Oberflächentopographie mit tragbarem 3D-Profilometer

ORGANISCHE OBERFLÄCHENTOPOGRAPHIE

MIT TRAGBAREM 3D-PROFILOMETER

Vorbereitet von

CRAIG LEISING

EINFÜHRUNG

Die Natur ist zu einer wichtigen Inspirationsquelle für die Entwicklung verbesserter Oberflächenstrukturen geworden. Das Verständnis der in der Natur vorkommenden Oberflächenstrukturen hat u. a. zu Studien über die Adhäsion von Geckofüßen, über die Widerstandsfähigkeit von Seegurken und über die Abstoßung von Blättern geführt. Diese Oberflächen haben eine Reihe potenzieller Anwendungen, von der Biomedizin bis hin zu Kleidung und Automobilen. Damit diese bahnbrechenden Oberflächen erfolgreich sein können, müssen Herstellungstechniken entwickelt werden, mit denen die Oberflächeneigenschaften nachgeahmt und reproduziert werden können. Dieser Prozess muss identifiziert und kontrolliert werden.

BEDEUTUNG EINES TRAGBAREN BERÜHRUNGSLOSEN OPTISCHEN 3D-PROFILERS FÜR ORGANISCHE OBERFLÄCHEN

Der NANOVEA Jr25 Portable nutzt die Chromatic Light-Technologie Optischer Profiler verfügt über eine hervorragende Fähigkeit, nahezu jedes Material zu messen. Dazu gehören die einzigartigen und steilen Winkel sowie die reflektierenden und absorbierenden Oberflächen, die in der breiten Palette an Oberflächeneigenschaften der Natur zu finden sind. Berührungslose 3D-Messungen liefern ein vollständiges 3D-Bild, um ein umfassenderes Verständnis der Oberflächenmerkmale zu ermöglichen. Ohne 3D-Fähigkeiten würde die Identifizierung natürlicher Oberflächen ausschließlich auf 2D-Informationen oder Mikroskopaufnahmen beruhen, die nicht genügend Informationen liefern, um die untersuchte Oberfläche richtig nachzubilden. Das Verständnis des gesamten Spektrums der Oberflächeneigenschaften, einschließlich Textur, Form, Abmessung und vielem mehr, ist für eine erfolgreiche Fertigung von entscheidender Bedeutung.

Die Möglichkeit, vor Ort auf einfache Weise Ergebnisse in Laborqualität zu erhalten, öffnet die Tür für neue Forschungsmöglichkeiten.

MESSZIEL

Bei dieser Anwendung ist die NANOVEA Jr25 wird verwendet, um die Oberfläche eines Blattes zu messen. Es gibt eine endlose Liste von Oberflächenparametern, die nach dem 3D-Oberflächenscan automatisch berechnet werden können.

Hier werden wir die 3D-Oberfläche überprüfen und wählen
Bereiche von Interesse, die weiter analysiert werden sollen, darunter
Quantifizierung und Untersuchung der Oberflächenrauhigkeit, der Kanäle und der Topografie

NANOVEA

JR25

TESTBEDINGUNGEN

PFEILTIEFE

Mittlere Dichte der Furchen: 16,471 cm/cm2
Mittlere Tiefe der Furchen: 97,428 μm
Maximale Tiefe: 359,769 μm

SCHLUSSFOLGERUNG

In dieser Anwendung haben wir gezeigt, wie die NANOVEA Der tragbare, berührungslose optische 3D-Profiler Jr25 kann sowohl die Topografie als auch die Details im Nanometerbereich einer Blattoberfläche im Feld präzise charakterisieren. Anhand dieser 3D-Oberflächenmessungen können Bereiche von Interesse schnell identifiziert und dann mit einer Liste von endlosen Studien analysiert werden (Abmessung, Rauheit, Textur, Form, Topographie, Ebenheit, Verzug, Ebenheit, Volumen, Stufenhöhe und andere). Ein 2D-Querschnitt kann leicht ausgewählt werden, um weitere Details zu analysieren. Mit diesen Informationen können organische Oberflächen mit einem kompletten Satz von Oberflächenmessmitteln umfassend untersucht werden. Spezielle Bereiche von Interesse können mit dem integrierten AFM-Modul auf Tischmodellen weiter analysiert werden.

NANOVEA bietet auch tragbare Hochgeschwindigkeitsprofilometer für die Feldforschung und eine breite Palette von Laborsystemen an und erbringt Labordienstleistungen.

UND NUN ZU IHRER BEWERBUNG

Haftungseigenschaften einer Goldbeschichtung auf einem Quarzkristallsubstrat

Adhäsionseigenschaften der Goldbeschichtung

auf Quarzkristall-Substrat

Vorbereitet von

DUANJIE LIPhD

EINFÜHRUNG

Die Quarzkristall-Mikrowaage (QCM) ist ein äußerst empfindlicher Massensensor, der präzise Messungen von kleinen Massen im Nanogrammbereich vornehmen kann. Die QCM misst die Massenänderung auf der Oberfläche, indem sie Veränderungen der Resonanzfrequenz des Quarzkristalls mit zwei Elektroden auf jeder Seite der Platte feststellt. Die Fähigkeit, extrem kleine Gewichte zu messen, macht es zu einer Schlüsselkomponente in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieinstrumenten, um die Veränderung von Masse, Adsorption, Dichte und Korrosion usw. zu erkennen und zu überwachen.

BEDEUTUNG DES SCRATCH-TESTS FÜR QCM

Als extrem genaues Gerät misst das QCM die Massenänderung bis auf 0,1 Nanogramm genau. Jeder Massenverlust oder jede Delamination der Elektroden auf der Quarzplatte wird vom Quarzkristall erkannt und führt zu erheblichen Messfehlern. Daher spielen die Qualität der Elektrodenbeschichtung und die Unversehrtheit der Grenzflächen des Beschichtungs-/Substratsystems eine wesentliche Rolle bei der Durchführung genauer und wiederholbarer Massenmessungen. Der Mikrokratztest ist eine weit verbreitete Vergleichsmessung zur Bewertung der relativen Kohäsions- oder Adhäsionseigenschaften von Beschichtungen auf der Grundlage eines Vergleichs der kritischen Belastungen, bei denen es zu Ausfällen kommt. Er ist ein hervorragendes Instrument für die zuverlässige Qualitätskontrolle von QCMs.

MESSZIEL

Bei dieser Anwendung ist die NANOVEA Mechanischer Tester, im Mikrokratzmodus, wird verwendet, um die Kohäsions- und Haftfestigkeit der Goldbeschichtung auf dem Quarzsubstrat einer QCM-Probe zu bewerten. Wir möchten die Leistungsfähigkeit des zeigen NANOVEA Mechanisches Prüfgerät zur Durchführung von Mikrokratztests an einer empfindlichen Probe mit hoher Präzision und Wiederholbarkeit.

NANOVEA

PB1000

TESTBEDINGUNGEN

Die NANOVEA Der PB1000 Mechanical Tester wurde zur Durchführung der Mikrokratztests an einer QCM-Probe mit den unten zusammengefassten Testparametern verwendet. Es wurden drei Kratzer durchgeführt, um die Reproduzierbarkeit der Ergebnisse zu gewährleisten.

LADUNGSTYP: Progressiv

ANFANGSLADUNG

0.01 N

ENDLADUNG

30 N

ATMOSPHÄRE: Luft 24°C

GLEITGESCHWINDIGKEIT

2 mm/min

GLEITSTRECKE

2 mm

ERGEBNISSE & DISKUSSION

Die vollständige Mikrokratzspur auf der QCM-Probe ist in ABBILDUNG 1. Das Versagensverhalten bei verschiedenen kritischen Lasten ist in ABBILDUNG 2 dargestelltwobei die kritische Last, LC1 ist definiert als die Belastung, bei der das erste Anzeichen eines Klebstoffversagens in der Kratzspur auftritt, LC2 ist die Belastung, nach der es zu wiederholten Klebstoffausfällen kommt, und LC3 ist die Last, bei der die Beschichtung vollständig vom Substrat entfernt wird. Es ist zu beobachten, dass bei L+ wenig Abplatzungen stattfinden.C1 von 11,15 N, dem ersten Anzeichen für ein Versagen der Beschichtung. 

Da die normale Belastung während des Mikrokratztests weiter ansteigt, kommt es zu wiederholten Klebstoffausfällen nach LC2 von 16,29 N. Wenn LC3 von 19,09 N erreicht wird, löst sich die Beschichtung vollständig vom Quarzsubstrat ab. Solche kritischen Belastungen können für einen quantitativen Vergleich der Kohäsions- und Adhäsionskraft der Beschichtung verwendet werden, um den besten Kandidaten für bestimmte Anwendungen auszuwählen.

ABBILDUNG 1: Vollständige Mikrokratzspur auf der QCM-Probe.

ABBILDUNG 2: Mikrokratzspur bei verschiedenen kritischen Belastungen.

ABBILDUNG 3 stellt die Entwicklung des Reibungskoeffizienten und der Tiefe dar, die mehr Aufschluss über das Fortschreiten von Beschichtungsfehlern während des Mikrokratztests geben können.

ABBILDUNG 3: Entwicklung von COF und Tiefe während des Mikrokratztests.

SCHLUSSFOLGERUNG

In dieser Studie haben wir gezeigt, dass die NANOVEA Mechanical Tester führt zuverlässige und genaue Mikrokratztests an einer QCM-Probe durch. Durch die kontrollierte und genau überwachte Anwendung linear ansteigender Lasten ermöglicht die Kratzmessung die Ermittlung der kritischen Last, bei der ein typisches Versagen der kohäsiven und adhäsiven Beschichtung auftritt. Er ist ein hervorragendes Instrument zur quantitativen Bewertung und zum Vergleich der intrinsischen Qualität der Beschichtung und der Grenzflächenintegrität des Beschichtungs-/Substratsystems für QCM.

Die Nano-, Mikro- oder Makromodule des NANOVEA Die mechanischen Prüfgeräte verfügen alle über ISO- und ASTM-konforme Prüfmodi für Eindrücke, Kratzer und Abnutzung und bieten damit das breiteste und benutzerfreundlichste Prüfspektrum, das in einem einzigen System verfügbar ist. NANOVEAist die ideale Lösung für die Bestimmung der gesamten Bandbreite mechanischer Eigenschaften von dünnen oder dicken, weichen oder harten Beschichtungen, Filmen und Substraten, einschließlich Härte, E-Modul, Bruchzähigkeit, Haftung, Verschleißfestigkeit und vielen anderen.

Darüber hinaus sind ein optionaler berührungsloser 3D-Profiler und ein AFM-Modul für die hochauflösende 3D-Darstellung von Vertiefungen, Kratzern und Verschleißspuren sowie für andere Oberflächenmessungen wie Rauheit und Verzug erhältlich.

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