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AR Kategorie: Anwendungshinweise
Oberflächenmessung der Oxidation mit 3D-Profilometrie
Der 3D-Nicht-Kontakt Profilometer wird zur Charakterisierung der Flächenmessung von zwei Proben mit A1SiN-Beschichtungen, eine mit niedrigem, die andere mit hohem Siliziumgehalt. Die A1SiN-Beschichtung wurde durch Magnetronsputtern auf H13-Stahl aufgebracht und anschließend einer Oxidationsbeständigkeitsprüfung (900°C - 1 Stunde) unterzogen.
Messung des Oberflächenbereichs von Oxidation Mit 3D-Profilometrie
Tribologische Charakterisierung einer Ti-WS2-Beschichtung
In diesem Bericht werden wir die tribologische Charakterisierung von Ti-WS2-Beschichtungen untersuchen, die durch Magnetronsputtern abgeschieden wurden. Die Reibung und der Verschleiß Tribologie wird mit dem Tribometer im Hin- und Herbewegungsmodus gemessen, und ein integrierter optischer Profiler wird zur Ermittlung der Verschleißrate verwendet.
Kratzfestigkeit des Gefüges durch Kratzprüfung
Bei dieser Anwendung wird der Nanovea Mechanical Tester in seiner Nano Kratzertest Modus wird verwendet, um die Belastung zu messen, die erforderlich ist, um ein Mikrogefüge zu zerstören. Wir müssen den Prozess des Kratzens kontrolliert und überwacht simulieren, um die Kratzfestigkeit zu beobachten. Ein 10-μm-Diamantstift wird mit einer progressiven Kraft von 10 mN bis 20 mN verwendet, um die Mikrostruktur zu zerkratzen. Der Punkt, an dem die Beschichtung durch Rissbildung versagt, wird als Versagenspunkt angenommen.
Inspektion von Steckerstiften mit 3D-Profilometrie
Bei dieser Anwendung wird das Nanovea ST400 Profilometer wird zur Messung der gesamten Fläche eines Steckverbinders und seiner Stifte verwendet. Die Anwendung wurde aufgrund ihrer anspruchsvollen Eigenschaften ausgewählt, um die Messmöglichkeiten mit der Nanovea-Technik zu verdeutlichen. Es gibt eine endlose Liste von Oberflächenparametern, die nach dem Oberflächenscan automatisch berechnet werden können. Hier werden wir ein vollständiges 3D-Profil, die Ebenheit der Steckerbasis, die Koplanarität der Stifte und die Rauheit einer Stiftspitze untersuchen.
