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Konturmessung mit Profilometer von NANOVEA

Messung der Reifenprofiltiefe und der Rauheit der Gummioberfläche | 3D-Optischer Profiler

MESSUNG DER REIFENPROFILTIEFE UND DER RAUHIGKEIT DER GUMMIOBERFLÄCHE Verwendung eines optischen 3D-Profilmessgeräts

Referenz zur Messung der Reifenprofiltiefe mit mehreren Autoreifenprofilen

Vorbereitet von

ANDREA HERRMANN

Während die Profiltiefe von Reifen zur Sicherheit der Verbraucher üblicherweise mit Handmessgeräten gemessen wird, benötigen industrielle Forschungs- und Entwicklungsabteilungen sowie Reifenhersteller fortschrittlichere Methoden. Diese Anwendungsbeschreibung zeigt, wie ein optisches 3D-Profilometer präzise Messungen der Profiltiefe, Konturkartierungen und Analysen der Rauheit der Gummioberfläche für hochgenaue Untersuchungen ermöglicht.

EINFÜHRUNG

Wie bei allen Materialien hängt auch der Reibungskoeffizient von Gummi zum Teil von seiner Oberflächenrauheit ab. Bei Fahrzeugreifen wirken sich sowohl die Profiltiefe als auch die Oberflächenrauheit direkt auf die Traktion, das Bremsverhalten und den Verschleiß aus. In dieser Studie werden die Rauheit und die Abmessungen der Gummioberfläche und des Profils mithilfe einer berührungslosen 3D-Profilometrie analysiert.
Reifenprobe zur Messung der Profiltiefe und der Rauheit der Gummioberfläche

DIE PROBE

BEDEUTUNG DER BERÜHRUNGSLOSEN 3D-PROFILOMETRIE FÜR DIE MESSUNG DER REIFENPROFILTIEFE

Im Gegensatz zu anderen Techniken wie Tastköpfen oder Interferometrie, Die berührungslosen 3D-Optikprofiler von NANOVEA Verwenden Sie den axialen Chromatismus, um nahezu jede Oberfläche zu messen.

Das offene Staging-System des Profilers ermöglicht eine Vielzahl von Probengrößen und erfordert keinerlei Probenvorbereitung. Mit einem einzigen Scan können Benutzer sowohl die gesamte Profiltiefe des Reifens als auch die Oberflächenrauheit auf Mikroebene erfassen, ohne dass die Reflektivität oder Absorption der Probe einen Einfluss hat. Darüber hinaus verfügen diese Profiler über die fortschrittliche Fähigkeit, hohe Oberflächenwinkel zu messen, ohne dass die Ergebnisse softwaremäßig manipuliert werden müssen.

Diese Vielseitigkeit macht die Profilermessgeräte von NANOVEA ideal sowohl für die Prüfung des Reifenprofils als auch für die fortgeschrittene Forschung im Bereich Gummimaterialien.

MESSZIEL

In dieser Anwendung zeigen wir Ihnen die NANOVEA ST400, ein berührungsloses 3D-Optikprofilometer, das die Profiltiefe, Konturgeometrie und Oberflächenrauheit von Reifen misst. Für diese Studie wurde nach dem Zufallsprinzip eine Probefläche ausgewählt, die groß genug war, um die gesamte Reifenoberfläche zu repräsentieren. Zur Quantifizierung der Eigenschaften des Gummis haben wir die Analysesoftware NANOVEA Ultra 3D verwendet, um die Abmessungen der Rillen, die Profiltiefe, die Oberflächenrauheit und die entwickelte Fläche im Vergleich zur projizierten Fläche zu messen.

NANOVEA ST400 Standard
Optisches 3D-Profilometer

ANALYSE: REIFENFADEN
Die 3D-Ansicht und die Falschfarbenansicht der Laufflächen zeigen den Wert der Kartierung von 3D-Oberflächendesigns. Dies bietet Ingenieuren ein einfaches Werkzeug, um die Gleichmäßigkeit der Profiltiefe, das Rillendesign und den Verschleiß aus verschiedenen Blickwinkeln zu bewerten. Die erweiterte Konturanalyse und die Stufenhöhenanalyse sind beide äußerst leistungsstarke Werkzeuge zur präzisen Messung der Abmessungen von Musterformen und -designs.
Falschfarben-3D-Optische Profilometrie der Reifenprofiltiefe und Rillengeometrie
3D-Profilometer-Oberflächenansicht der Reifenprofiltiefenmessung

ERWEITERTE KONTURANALYSE

Erweiterte Konturanalyse von Reifenprofilrillen mittels 3D-Profilometrie

STUFENHÖHENANALYSE

Stufenhöhenanalyse zur Messung der Reifenprofiltiefe mit einem optischen 3D-Profiler
3D-Profilometrie-Stufenhöhenprofil zur Messung der Reifenprofiltiefe
ANALYSE: GUMMI OBERFLÄCHE
Die Gummioberfläche kann mithilfe integrierter Softwaretools auf vielfältige Weise quantifiziert werden, wie in den folgenden Abbildungen dargestellt. Es ist zu erkennen, dass die Oberflächenrauheit 2,688 μm beträgt und das Verhältnis von entwickelter Fläche zu projizierter Fläche 9,410 mm² zu 8,997 mm² beträgt. Diese Ergebnisse zeigen, wie sich die Rauheit der Gummioberfläche auf die Traktion und Leistung auswirkt, und ermöglichen Vergleiche zwischen verschiedenen Gummimischungen oder unterschiedlichen Abnutzungsgraden der Oberfläche.
Analyse der Rauheit von Gummioberflächen mit einem optischen 3D-Profilometer
ISO 25178 Höhenparameter der Reifengummioberfläche
3D-optische Profilometrieansicht der Oberflächenrauheit von Gummi und der entwickelten Fläche
Parameter für Reifengummioberflächenprofiler

SCHLUSSFOLGERUNG

In dieser Anwendung haben wir gezeigt, wie der berührungslose optische 3D-Profiler von NANOVEA die Profiltiefe, Konturmaße und Oberflächenrauheit von Reifen präzise charakterisieren kann. Die Daten zeigen eine Oberflächenrauheit von 2,69 µm und eine entwickelte Fläche von 9,41 mm² bei einer projizierten Fläche von 9 mm². Außerdem wurden verschiedene Abmessungen und Radien der Gummiprofile gemessen. Diese Informationen können von Reifenherstellern, Automobilforschern und Werkstoffingenieuren verwendet werden, um Profildesigns, Gummimischungen oder Reifen mit unterschiedlichem Verschleißgrad zu vergleichen. Die hier gezeigten Daten stellen nur einen Teil der Berechnungen dar, die in der Ultra 3D-Analysesoftware verfügbar sind.