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AR Kategorie: Presseinformation
Bahnbrechende Nanoindentationstests mit Bildmustererkennung
Irvine CA, 1. April 2009 - Die Nanovea gab heute eine bahnbrechende Entwicklung in der Nanoindentation durch die Kombination fortschrittlicher Bildmustererkennungsfunktionen mit dem modernsten Nanoindentationsgerät für Qualitätskontrollanwendungen. Nanovea hat jetzt seine PRVision-Kameraoption für die maschinelle Bildverarbeitung mit der Nanoindentationsprüfung kombiniert, die eine automatische Erkennung genau ausgewählter Merkmale mit wenig bis gar keiner Benutzerinteraktion ermöglicht. Die benutzerfreundliche Software PRVision von Nanovea ermöglicht eine automatische Prüfung der Härte und des Elastizitätsmoduls an gemusterten Proben oder speziell ausgewählten Bereichen von Interesse. Die Nanoindentationseigenschaften, einschließlich Härte und Elastizitätsmodul, können dann automatisch gemessen und aufgezeichnet werden. Die "quasi zerstörungsfreie" geringe Belastung, die mit der Nanoindentationsprüfung verbunden ist, macht diese Technik zu einem idealen, bahnbrechenden Werkzeug für die Qualitätskontrolle in Bereichen, in denen Härte und Elastizitätsmodul entscheidend sind: Mikroelektronik, Solar, Pharmazeutika und viele andere. "Bislang wurde die Nanoindentation mit primitiven Mapping-Optionen durchgeführt. Unsere PRVision-Option wird die Nanoindentationstests beschleunigen und öffnet die Tür zu groß angelegten automatischen Qualitätskontrollanwendungen in der Produktion, bei denen Härte und Elastizitätsmodul die besten Kontrollparameter sind." Sagte Pierre Leroux, CEO/Präsident von Nanovea.
Top-Halbleiterhersteller wählt Nanovea-Profilometer über viele
Irvine CA, 5. März 2009 - Nanovea gab heute bekannt, dass das Unternehmen sein erstes HS1000 Profilometer an einen führenden Halbleiterhersteller ausliefern wird. Die Auslieferung des HS1000 ist ein weiterer Höhepunkt in der beeindruckenden Geschichte der optischen Profilometer von Nanovea und bietet den Kunden eine fortschrittlichere Messgeschwindigkeitsoption für hohe Durchsatzanforderungen. Das HS1000 Profilometer ist mit einer unübertroffenen Kombination aus Messgeschwindigkeit, Automatisierung und Nanometerauflösung ausgestattet. Bis zum HS1000 Profilometer von Nanovea waren die vollständige Automatisierung und die einzigartigen Vorteile der axialen Weißlicht-Chromatisierungstechnik Merkmale, die nur selten in einem einzigen Gerät mit hoher Scangeschwindigkeit zu finden waren; ein Merkmal, das der Kunde forderte und das nur Nanovea liefern konnte. Herkömmliche Hochgeschwindigkeitsinstrumente opferten in der Regel eine Eigenschaft für eine andere, nämlich die Geschwindigkeit oder die Auflösung, was die Gesamtmesskapazität des Benutzers einschränkte. Das HS1000 Profilometer erreicht eine Tischgeschwindigkeit von 1 m/s und ist damit bis zu 50 Mal schneller als die meisten optischen Profilometer seiner Klasse. Das HS1000 Profilometer ist mit einem 31KHz Weißlicht-Axialchromatismus-Sensor und einem XY-Messbereich von 400mm x 600mm ausgestattet, der bei maximaler Tischgeschwindigkeit alle 32µm einen Punkt messen und die vollen 400mm in weniger als 1 Sekunde durchfahren kann (eine höhere Auflösung kann mit proportional langsameren Tischgeschwindigkeiten erreicht werden). Darüber hinaus verfügt das HS1000 Profilometer über eine optionale Bildverarbeitungskamera, die eine automatische Erkennung von genau ausgewählten Oberflächenmerkmalen mit wenig bis gar keinem Benutzereingriff ermöglicht. Die benutzerfreundliche Software und die optionale Bildverarbeitungskamera ermöglichen einen automatischen Scan der Oberfläche, um alle interessanten Merkmale zu erkennen. Diese Merkmale können dann automatisch gemessen werden, oder der Benutzer kann aus einer Liste auswählen, was gemessen werden soll. Die Kombination aus überlegenen Gesamteigenschaften macht das HS1000 Profilometer ist zweifellos das Instrument der Wahl für hohe Durchsatzanforderungen in der Halbleiter-, Solar- und pharmazeutischen Industrie. "Es versteht sich von selbst, wie wichtig es ist, die Wahl dieses Kunden zu gewinnen. Ich bin stolz auf die Fähigkeit unseres Teams, eine so wichtige Gelegenheit zu nutzen", sagte Craig Leising, Produktmanager bei Nanovea.
Nanovea Profilometer erhält "Klasse 1"-Reinraumzulassung
Irvine, Kalifornien, 22. Januar 2009 - Nanovea Inc. gab heute die erfolgreiche Installation ihres Profilometers im Reinraum der Klasse 1 bei einem führenden Mikroelektronikhersteller bekannt. Die Freigabe von Reinräumen der Klasse 1 ist bekannt für die strenge Einhaltung der Vorschriften und die besonderen Anforderungen an alle bei der Entwicklung des Geräts verwendeten Materialien. Die fortschrittlichen, berührungslosen 3D-Profilierungsfähigkeiten der Nanovea-Profilometer sind nun eine Option für die strengsten Reinraumanforderungen in der Mikroelektronik. Durch die Verwendung von "sauberen" motorisierten Lineartischen und die richtige Auswahl von Materialien haben die Ingenieure von Nanovea ein System entwickelt, das mit den strengen Klasse-1-Standards kompatibel ist. Reinräume der Klasse 1 haben einen streng kontrollierten Verschmutzungsgrad und lassen nur sehr wenige Partikel jeglicher Art zu. Bei der Konstruktion der X-Y-Tische war die Materialauswahl entscheidend, damit während der Prüfung nur wenige Partikel in die Luft abgegeben werden. Das System wurde außerdem mit einem hohen Maß an Ebenheit und Genauigkeit sowie mit einem Automatisierungsgrad entwickelt, der es dem Benutzer ermöglicht, mehrere Bereiche zu messen und diese zusammenzufügen. Auf diese Weise kann der Benutzer eine große, ebene Fläche erstellen, um die relative Ebenheit mit sehr wenig Benutzerinteraktion zu vergleichen. Der messbare Bereich des benutzerdefinierten Profilers kann bis zu 30 cm x 30 cm groß sein, mit einer vertikalen Auflösung von bis zu 2 nm. Es gibt auch ein Design zum Scannen großer, schwerer und sogar unbeweglicher Teile. Dies ist nur ein kleiner Einblick in die Projekte, die von den Nanovea-Ingenieuren angepasst wurden. Sie haben auch ein kundenspezifisches Hochgeschwindigkeits-Profilometer mit Geschwindigkeiten von über 30.000 Punkten/Sekunde und maschinellem Sehen mit Bilderkennung zur Verbesserung der Effizienz entwickelt. Zusätzlich, Profilometer wurden mit kundenspezifischen Scanfunktionen ausgestattet, um Oberflächenmessungen sowohl von der Ober- als auch von der Unterseite zu erfassen und gleichzeitig die Dicke des Materials zu messen, und zwar mit einer Auflösung im Nanometerbereich. "Die zusätzliche Reinraumausführung ermöglicht Nanovea eine engere Zusammenarbeit mit strengen Umgebungen und zeigt einmal mehr unser Engagement für Erfindungsreichtum". Sagte Craig Leising, Produktmanager von Nanovea, Inc.
Profilometer bremst neue Wege Neue Wege gehen
Irvine, Kalifornien, 02. Dezember 2008 - Nanovea gab heute bekannt, dass die Produktreihe der berührungslosen Profilometer nun ein System mit einer über 180-fachen Messgeschwindigkeit umfasst. Mit dieser neuen Entwicklung sind die Profilometer von Nanovea nun in der Lage, Geschwindigkeiten zu erreichen, die für zeitlich begrenzte Produktions- und Qualitätskontrollumgebungen geeignet sind. Dieser neue Fortschritt in der Profilometer-Technologie ist ein Durchbruch für den Einsatz in diesen speziellen Umgebungen. Vor dieser neuen Entwicklung war für diese Profilierungstechnik eine Punkt-für-Punkt-Messung erforderlich, bei der einzelne Datenpunkte erfasst wurden, während sich die zu messende Probe unter der Optik hin und her bewegte, um eine 3D-Abbildung zu erstellen. Mit dieser neuen Technologie können 180 Messpunkte gleichzeitig erfasst werden, was die Zeit für die Erstellung eines 3D-Mappings der Oberfläche erheblich verkürzt. "Ich bin begeistert von dieser neuen Fähigkeit; sie gibt uns die Möglichkeit, mit neuen Märkten zu arbeiten, die einen hohen Durchsatz erfordern." Sagte Craig Leising, Produktmanager bei Nanovea. Die neue Profilometer Das System verwendet eine Anordnung von 1 x 180 Messpunkten und kann bis zu 1800 Zeilen pro Sekunde abtasten, was eine Gesamtabtastrate von bis zu 324.000 Punkten pro Sekunde ergibt. Das System ist in der Lage, große Flächen in Sekundenschnelle mit hoher Auflösung zu messen und kann mit Bilderkennungssoftware für Hochgeschwindigkeitsinspektionen ausgestattet werden. Zu den Optionen gehört auch ein Scannerspiegel für eine Feldscanfunktion, die 180 Punkte mal 230 Zeilen messen kann. Auch ein kundenspezifisches Inline-System wird verfügbar sein.
Nanoveas zum Patent angemeldete berührungslose optische Tiefensensortechnik
Irvine, Kalifornien, 20. Oktober 2008 - Nanovea hat ein Patent für die berührungslose optische Tiefenmessung für instrumentierte Eindring- und Kratzprüfungen angemeldet. Die "revolutionäre" berührungslose Technik liefert 100% genaue Höhenmessungen bei Mikro-/Makroritz- und Härteprüfungen. Vor dieser neuen Entwicklung war für jede Prüfung ein mechanischer Oberflächenkontakt erforderlich, der während der Probenbewegung unmöglich war, um die Nachgiebigkeit von Substrat und Maschine zu berücksichtigen. Mit der Möglichkeit, die genaue Tiefe des Eindringkörpers ohne Berührung zu beobachten, ist die Bewegung der Probe kein Problem mehr und die tatsächliche Tiefe des Eindringkörpers kann direkt aufgezeichnet werden. "Wir sind sehr begeistert von unserer neuen Technik und freuen uns darauf, ihre hervorragenden Ergebnisse zu präsentieren", sagte Pierre Leroux, General Manager, Micro Photonics Surface Test Division. "Wir sind ständig auf der Suche nach neuen Wegen, um Instrumente anzubieten, die so fortschrittlich sind wie die Lösungen, für die sie bestimmt sind; ich denke, dass diese Technik genau das tut. "Die hochpräzisen Module zur Bestimmung der mikro-/makromechanischen Eigenschaften von dünnen/dicken Beschichtungen und Substraten mit Hilfe von instrumentierten Eindring- und Kratz-/Hafttests. Sie sind ideal für die Charakterisierung industrieller Beschichtungen, von plasmabehandelten Schichten, die in der Halbleiter- und optischen Technologie verwendet werden, bis hin zu dekorativen und schützenden Beschichtungen, die für Automobilteile und Konsumgüter verwendet werden. Nanovea Mikro/Makro Mechanische Prüfgeräte verwenden unabhängige Kraft- und Tiefensensoren, um Tiefe-gegen-Kraft-Kurven zu erhalten, die bei instrumentierten Eindring- und Kratzprüfungen verwendet werden. Das Ergebnis ist die schnellste und genaueste Messtechnik der Branche, die für jede Materialform und -beschaffenheit geeignet ist und die Herausforderungen älterer Methoden zur Messung der Eindringhöhe, wie z. B. das Einsinken bei weichen Materialien und die Referenzbewegung bei rauen Oberflächen, löst.
Formel Drift Racing mit Materialprüfgeräten
Irvine, Kalifornien - 2. August 2007 - Micro Photonics gab heute bekannt, dass das Unternehmen zum "Offiziellen Materialprüfungsausrüster" der professionellen Rennserie Formula Drift ernannt wurde. Das Sponsoring verbindet Micro Photonics, einen führenden Anbieter von Messgeräten für die Materialprüfung und -analyse, mit Formula Drift Holdings, LLC, der einzigen professionellen Drift-Rennserie in Nordamerika. Im Rahmen der Vereinbarung erklärt sich Micro Photonics bereit, Formula Drift mit Messgeräten zu versorgen, und im Gegenzug gewährt Formula Drift Micro Photonics alle begleitenden Sponsoring-Rechte und Privilegien. "Micro Photonics freut sich auf eine großartige Zusammenarbeit mit der Formula Drift Professional Racing Series". Sagte Pierre Leroux, General Manager, Micro Photonics Surface Test Division. "Da wir eine so große Auswahl an Instrumenten anbieten, können wir den Fahrern alles zur Verfügung stellen, was sie zur Überprüfung ihrer Ausrüstung und zur Qualitätskontrolle benötigen. Außerdem ist es aufregend, an Drift-Rennen beteiligt zu sein, das Interesse ist enorm. "Drift-Rennen sind ein hochqualifizierter Motorsport, bei dem die Fahrer ihre Konkurrenten ausmanövrieren müssen, indem sie ihre Autos mit Power-Slides um eine Reihe von Kurven auf einem festgelegten Kurs lenken und dabei die Traktion der Fahrzeugreifen bis an die Grenzen ausreizen. "Jeder Drift-Rennfahrer auf der Welt braucht ein Reifen-Durometer", sagte Randy Hembrey, Chief Steward der Formula Drift Professional Racing Series. Die Handmessgeräte werden während der Rennen eingesetzt, um die Reifenhärte zu überprüfen, die für die Rennleistung von entscheidender Bedeutung ist. Neben den Messgeräten werden Fahrer und Mitarbeiter von der Erfahrung von Micro Photonics im Bereich Maschinenbau profitieren. Die Allianz bietet auch die Möglichkeit, Beziehungen zu anderen Formel-Drift-Sponsororganisationen aufzubauen. Micro Photonics ist ein führender Anbieter von Materialprüfung Instrumente und Labortests seit mehr als fünfzehn Jahren. Das Unternehmen ist spezialisiert auf: Nano- und mikromechanische Tests, Röntgenmikrotomographie, Röntgenbeugung, berührungslose 3D-Profilometer, Dünnschichtanalyse, biologische Bildgebungsinstrumente und NSOM-, SPM- und AFM-Systeme.
Neuer Multipen-Revolver von Micro Photonics bietet neun Sensoroptionen in einer Baugruppe
Irvine, Kalifornien, 7. Juli 2006 - Micro Photonics Inc. stellte heute den neuen Revolverkopf mit mehreren optischen Stiften vor, der eine größere Flexibilität bei chromatischen konfokalen Messungen bietet. Durch die Integration des Multioptik-Stiftrevolvers in das Profilometer kann der Benutzer schnell und einfach die optischen Stifte wechseln, ohne dass er Zeit für das Entfernen oder Hinzufügen neuer Stifte aufwenden muss. Der optische Stiftrevolver besteht aus drei einzigartigen Lupen und drei verschiedenen chromatischen Linsen und bietet bis zu neun optische Sensoroptionen in einer einzigen Baugruppe. Der Revolverkopf lässt sich leicht in jedes neue oder vorhandene Nanovea Profilometer 3D Optical Non-Contact Optical Profiler integrieren. Die Stiftkombinationen bestehen aus über dreißig verschiedenen Sensoren, die von Micro Photonics angeboten werden. Zur Auswahl stehen fünf Vergrößerungen mit Brennweiten von 3,3 mm bis 29 mm und sechs verschiedene chromatische Linsen mit Tiefenschärfen von 130 µm bis 27 mm. Die Stiftkombinationen können eine maximale axiale Auflösung von 5 nm, eine Genauigkeit von 20 nm und eine maximale Neigung von 87º für diffuse Objekte erreichen. Diese Nanovea Micromeasure-Option ist exklusiv bei Micro Photonics Inc. erhältlich. Micro Photonics ist seit 1992 ein führender Anbieter von Instrumenten für Materialtechnologie und Labortests. Das Unternehmen ist spezialisiert auf: Nano- und mikromechanische Prüfungen, Röntgen-Mikrotomographie, Ellipsometrie, Röntgenbeugung, berührungslose 3D-Prüfung ProfilometerDünnschichtanalyse, biologische Bildgebungsinstrumente und NSOM-, SPM- und AFM-Systeme.
Micro Photonics stellt neue preisgünstige modulare chromatische konfokale optische Stifte vor.
Irvine CA, 24. März 2006 - Micro Photonics Inc. stellte heute die neueste Produktlinie von chromatisch konfokal optische Stifte für Profilometrie, Mikrotopografie, Rauheit, Autofokus-Vibrometrie, Inline-Inspektionsqualitätskontrolle und Dickenmessungen. Das neue modulare Design ermöglicht bis zu 30 verschiedene optische Stiftkonfigurationen für spezifische Schärfentiefe, Spotgröße, Arbeitsabstand, Objektneigung und photometrische Effizienz. Die Benutzer können aus fünf Lupen mit Brennweiten von 3,3 mm bis 29 mm und sechs verschiedenen chromatischen Linsen mit einer Schärfentiefe von 130 µm bis 27 mm wählen. Die Stifte erreichen eine maximale axiale Auflösung von 5nm, eine Genauigkeit von 20nm und eine maximale Neigung von 87º für diffuse Objekte. Basierend auf der chromatischen Aberration des weißen Lichts verfügen die Stifte über eine überragende laterale (1,1 µm) und vertikale Auflösung (5 nm), was sie zu einer besseren Wahl als Lasertriangulationssensoren für Anwendungen macht, bei denen hochauflösende Messungen kritisch sind, wie z. B. in der Vibrometrie, der Inline-Inspektion und der Qualitätskontrolle. Für anspruchsvolle Materialien wie Textilien, Polymere, schwarze oder dunkelblaue Materialien, Oberflächen mit hohem Aspektverhältnis und Materialien mit geringem Reflexionsvermögen ist die chromatische Aberration mit weißem Licht oft die einzige geeignete Technik. Micro Photonics ist davon überzeugt, dass die neuen wettbewerbsfähigen Preise Kunden anziehen werden, die bisher die chromatische Aberration mit weißem Licht für zu teuer hielten. "Die Kunden kannten diese Technik und ihre Vorteile für OEM-Anwendungen, aber aufgrund des Preises wurde sie zugunsten billigerer Lasersensoren weitergegeben. Die neuen Preise sind im Durchschnitt 40% niedriger, was sich positiv auswirken wird", so Pierre Leroux, General Manager, Surface Test Division. Die Erfassungsgeschwindigkeit von bis zu 30.000 Hz erfüllt die spezifischen Anforderungen der Vibrometrie sowie der Inline- und Offline-Qualitätskontrolle. Das System kann als eigenständiges Gerät verwendet oder mit Hilfe verschiedener Softwarepakete an einen Computer angeschlossen werden. Integrierte Lösungen wie der Micromeasure Profiler und der Micromeasure Dual Scanner sind ebenfalls für eine vollständige 3D-Oberflächenabbildung erhältlich. Diese Technologie ist bei Micro Photonics Inc. erhältlich. Micro Photonics ist seit 1992 ein führender Anbieter von Instrumenten für die Werkstofftechnik und Labortests. Das Unternehmen ist spezialisiert auf: Nano- und mikromechanische Prüfungen, Röntgenmikrotomographie, Ellipsometrie, Röntgenbeugung, berührungslose 3D-Profilometrie, Dünnschichtanalyse, biologische Bildgebungsinstrumente und NSOM-, SPM- und AFM-Systeme.
Micro Photonics stellt duales Scanning-Profilometer und Scanning-Instrument vor
Irvine, Kalifornien, 25. Januar 2005 - Micro Photonics Inc. kündigte heute die neueste Ergänzung seiner Produktlinie von Geräten zur Prüfung von Oberflächenmaterialien an. Das Dual Scanning Profilometer ist das erste seiner Art, das eine gleichzeitige Dickenmessung und eine doppelte Profilmessung ermöglicht. Der Probentisch wird auf einer Plattform zwischen den beiden Stiften befestigt und bewegt sich in x-y-Richtung, so dass die beiden Sonden ein synchronisiertes Oberflächenprofil ermitteln können. Die Systemsoftware berechnet den bekannten Abstand zwischen den Stiften mit der Wellenlänge des einfallenden weißen Lichts, das von der Probenoberfläche reflektiert wird, um die Dicke der Probe an jedem beliebigen Punkt zu bestimmen. Nach dem Prinzip der chromatischen Aberration lassen zwei Stifte weißes Licht durch die Objektivlinse fallen und reflektieren dieses Licht von der Probenoberfläche. Das Objektiv sammelt dann die Wellenlänge des einfallenden weißen Lichts und fokussiert es in einem variablen Abstand vom Objektiv neu. Diese exklusive Technologie ist von Micro Photonics Inc. erhältlich. Micro Photonics ist seit mehr als zwölf Jahren ein führender Anbieter von Instrumenten für die Werkstofftechnik und Laborprüfungen. Das Unternehmen ist spezialisiert auf: Nano- und mikromechanische Prüfung, Röntgenmikrotomographie, Ellipsometrie, Röntgenbeugung, berührungslose 3D-Prüfung ProfilometerDünnschichtanalyse, biologische Bildgebungsinstrumente und NSOM-, SPM- und AFM-Systeme.
Micro Photonics bietet bahnbrechende Technologie für temperaturspezifische mechanische Prüfungen
Irvine, Kalifornien - 22. April 2004 - Micro Photonics Inc., ein führender Anbieter von Instrumenten für Oberflächenmaterialien und Labordienstleistungen, stellt einen Durchbruch in der Materialtechnologie vor: die temperaturspezifische mechanische Prüfung. Forscher können das Heiz-/Kühlmodul einfach an Härte- oder Kratzplattformen anbringen, um Temperaturen zwischen -196°C und 600°C zu erreichen. Das Modul, das aus einer Platin-Widerstandsspule und einem nahezu vollständig gekapselten Gehäuse besteht, das die thermische Drift reduziert, ermöglicht eine äußerst stabile und genaue Temperaturregelung. Der Einsatz der Nano/Micro Hardness-Plattform bietet noch einen weiteren einzigartigen Vorteil: eine Technik zur Differenzierung von Oberfläche und Eindringtiefe, um den Auswirkungen der natürlichen thermischen Ausdehnung der zu prüfenden Probe entgegenzuwirken - eine Technologie, die bei anderen Härteprüfgeräten nicht verfügbar ist. Obwohl die meisten Eindringprüfungen bei Raumtemperatur durchgeführt werden und effiziente Ergebnisse liefern, ist die Notwendigkeit, die mechanischen Eigenschaften bestimmter Materialien bei oder nahe ihrer Betriebstemperatur zu untersuchen, in den letzten Jahren erheblich gestiegen, was zur Entwicklung dieser Technologie geführt hat. Micro Photonics bietet Auftragslabortests, Instrumente, Kundendienst und Schulungen für eine breite Palette von Oberflächenmessinstrumenten an, darunter: Nano-/Mikro mechanische PrüfungReibung, Verschleiß, Adhäsion, Kratzfestigkeit und Bruchzähigkeit. Es gibt Ellipsometer für die Messung von Dünnschichtdicke und optischen Eigenschaften (n&k) sowie eine große Auswahl an berührungslosen Oberflächenprofilmessgeräten für die Untersuchung von Rauheit, Dimensionsanalyse, Krümmungsradius und Dickeneigenschaften. Darüber hinaus bietet Micro Photonics Röntgenmikrotomographie-Instrumente für die Abbildung und Analyse interner Mikrostrukturen an.
