Monatliches Archiv: März 2009

Top-Halbleiterhersteller wählt Nanovea-Profilometer über viele

Irvine CA, 5. März 2009 - Nanovea gab heute bekannt, dass das Unternehmen sein erstes HS1000 Profilometer an einen führenden Halbleiterhersteller ausliefern wird. Die Auslieferung des HS1000 ist ein weiterer Höhepunkt in der beeindruckenden Geschichte der optischen Profilometer von Nanovea und bietet den Kunden eine fortschrittlichere Messgeschwindigkeitsoption für hohe Durchsatzanforderungen. Das HS1000 Profilometer ist mit einer unübertroffenen Kombination aus Messgeschwindigkeit, Automatisierung und Nanometerauflösung ausgestattet. Bis zum HS1000 Profilometer von Nanovea waren die vollständige Automatisierung und die einzigartigen Vorteile der axialen Weißlicht-Chromatisierungstechnik Merkmale, die nur selten in einem einzigen Gerät mit hoher Scangeschwindigkeit zu finden waren; ein Merkmal, das der Kunde forderte und das nur Nanovea liefern konnte. Herkömmliche Hochgeschwindigkeitsinstrumente opferten in der Regel eine Eigenschaft für eine andere, nämlich die Geschwindigkeit oder die Auflösung, was die Gesamtmesskapazität des Benutzers einschränkte. Das HS1000 Profilometer erreicht eine Tischgeschwindigkeit von 1 m/s und ist damit bis zu 50 Mal schneller als die meisten optischen Profilometer seiner Klasse. Das HS1000 Profilometer ist mit einem 31KHz Weißlicht-Axialchromatismus-Sensor und einem XY-Messbereich von 400mm x 600mm ausgestattet, der bei maximaler Tischgeschwindigkeit alle 32µm einen Punkt messen und die vollen 400mm in weniger als 1 Sekunde durchfahren kann (eine höhere Auflösung kann mit proportional langsameren Tischgeschwindigkeiten erreicht werden). Darüber hinaus verfügt das HS1000 Profilometer über eine optionale Bildverarbeitungskamera, die eine automatische Erkennung von genau ausgewählten Oberflächenmerkmalen mit wenig bis gar keinem Benutzereingriff ermöglicht. Die benutzerfreundliche Software und die optionale Bildverarbeitungskamera ermöglichen einen automatischen Scan der Oberfläche, um alle interessanten Merkmale zu erkennen. Diese Merkmale können dann automatisch gemessen werden, oder der Benutzer kann aus einer Liste auswählen, was gemessen werden soll. Die Kombination aus überlegenen Gesamteigenschaften macht das HS1000 Profilometer ist zweifellos das Instrument der Wahl für hohe Durchsatzanforderungen in der Halbleiter-, Solar- und pharmazeutischen Industrie. "Es versteht sich von selbst, wie wichtig es ist, die Wahl dieses Kunden zu gewinnen. Ich bin stolz auf die Fähigkeit unseres Teams, eine so wichtige Gelegenheit zu nutzen", sagte Craig Leising, Produktmanager bei Nanovea.