Monatliches Archiv: April 2004

Micro Photonics bietet bahnbrechende Technologie für temperaturspezifische mechanische Prüfungen

Irvine, Kalifornien - 22. April 2004 - Micro Photonics Inc., ein führender Anbieter von Instrumenten für Oberflächenmaterialien und Labordienstleistungen, stellt einen Durchbruch in der Materialtechnologie vor: die temperaturspezifische mechanische Prüfung. Forscher können das Heiz-/Kühlmodul einfach an Härte- oder Kratzplattformen anbringen, um Temperaturen zwischen -196°C und 600°C zu erreichen. Das Modul, das aus einer Platin-Widerstandsspule und einem nahezu vollständig gekapselten Gehäuse besteht, das die thermische Drift reduziert, ermöglicht eine äußerst stabile und genaue Temperaturregelung. Der Einsatz der Nano/Micro Hardness-Plattform bietet noch einen weiteren einzigartigen Vorteil: eine Technik zur Differenzierung von Oberfläche und Eindringtiefe, um den Auswirkungen der natürlichen thermischen Ausdehnung der zu prüfenden Probe entgegenzuwirken - eine Technologie, die bei anderen Härteprüfgeräten nicht verfügbar ist. Obwohl die meisten Eindringprüfungen bei Raumtemperatur durchgeführt werden und effiziente Ergebnisse liefern, ist die Notwendigkeit, die mechanischen Eigenschaften bestimmter Materialien bei oder nahe ihrer Betriebstemperatur zu untersuchen, in den letzten Jahren erheblich gestiegen, was zur Entwicklung dieser Technologie geführt hat. Micro Photonics bietet Auftragslabortests, Instrumente, Kundendienst und Schulungen für eine breite Palette von Oberflächenmessinstrumenten an, darunter: Nano-/Mikro mechanische PrüfungReibung, Verschleiß, Adhäsion, Kratzfestigkeit und Bruchzähigkeit. Es gibt Ellipsometer für die Messung von Dünnschichtdicke und optischen Eigenschaften (n&k) sowie eine große Auswahl an berührungslosen Oberflächenprofilmessgeräten für die Untersuchung von Rauheit, Dimensionsanalyse, Krümmungsradius und Dickeneigenschaften. Darüber hinaus bietet Micro Photonics Röntgenmikrotomographie-Instrumente für die Abbildung und Analyse interner Mikrostrukturen an.