USA/GLOBAL: +1-949-461-9292
EUROPA: +39-011-3052-794
KONTAKT US

US-Hersteller von Nanotechnologie-Instrumenten beweist den Erfolg der FuE-Förderung

Irvine, Kalifornien, 25. Januar 2010 - Wie viele andere im Land fragen Sie sich vielleicht, wie die Milliarden, die in die wissenschaftliche Forschung und Entwicklung geflossen sind, unsere Wirtschaft angekurbelt haben. Ein Blick auf den Hersteller von Nanotechnologie-Instrumenten, Nanovea mit Sitz in Irvine, Kalifornien, genügt. 2009 war das erste Markenjahr des Unternehmens mit neuen Mitarbeitern, neuen Instrumenten und mehr Aufträgen für die örtlichen Maschinenbauer und Zulieferer. In seiner Niederlassung in Irvine, Kalifornien, entwickelt und fertigt Nanovea 3D Profilometer, Mechanische Prüfgeräte & Tribometer um die fortschrittlichsten Testmöglichkeiten der Branche zu kombinieren: Kratzer, Haftung, Härte, Verschleiß, Reibung und berührungslose 3D-Metrologie im Nano-, Mikro- und Makrobereich. Im Gegensatz zu anderen Herstellern bietet Nanovea auch Labordienstleistungen an, die den Kunden Zugang zu den neuesten Technologien und optimalen Ergebnissen durch Verbesserungen der Materialteststandards bieten. Was hat Nanovea nun mit der Förderung der Forschung in den Vereinigten Staaten zu tun? Nun, zufälligerweise alles, und hier ist der Grund dafür. Die Anreize für Forschungslabors, Universitäten und Unternehmen waren für die Entwicklung neuer Innovationen und Materialien zur Unterstützung wachsender Branchen wie Solar, Energie, Biomedizin usw. gedacht. Die Entwicklung neuer oder verbesserter Materialien erfordert neue Instrumente, um die Materialeigenschaften während der Forschung und Entwicklung zu messen und zu gewährleisten. Außerdem werden Instrumente benötigt, um die Massenentwicklung dieser neuen Materialien zur Qualitätskontrolle zu überwachen. Nanovea hatte seit 2004 Instrumente für genau diesen Zweck entwickelt und hergestellt und sich auf die Markteinführung Ende 2008 vorbereitet. Unter der Leitung eines neu eingestellten Marketingmanagers bereitete Nanovea seine Markteinführung in einer der schwierigsten wirtschaftlichen Zeiten vor, die die USA je erlebt haben. Nanovea nahm die Herausforderung an und nutzte die Bedürfnisse der Forschungsgemeinschaft sowohl in den USA als auch international voll aus. Mit drei klaren Produktlinien und Dienstleistungen bot Nanovea im Jahr 2009 Lösungen für wachstumsstarke Branchen an, die Messungen im Nano- bis Makromaßstab benötigen. Das Jahr 2010 hat bereits mit mehreren neuen Projekten in der ganzen Welt und mit lokalen Kunden aus der Solar-, Pharma- und Medizinbranche in Kalifornien begonnen. "Als US-amerikanischer Hersteller von Nano-Instrumenten und -Dienstleistungen haben sich uns in dieser Zeit einige großartige Möglichkeiten geboten, unsere Marke zu etablieren. Wir sind sehr dankbar und auch sehr stolz darauf, dass wir die Wirtschaft mit neuen Mitarbeitern und Geschäften für unsere lokalen Partner unterstützen konnten." -Pierre Leroux, Nanovea Präsident | Ceo

Nanometer-Online-Inspektion mit dem berührungslosen 3D-Profilometer Nanovea

Irvine, Kalifornien, 05. Januar 2010 - Das berührungslose 3D-Profilometer von Nanovea verfügt jetzt über eine optionale Online-Funktion für die automatische Prüfung und Berichterstellung. Mit dieser Weiterentwicklung wird Nanovea's Profilometer kann nun mühelos in große oder kleine Qualitätskontrollumgebungen integriert werden. Wichtige Anwendungen in allen Industriezweigen, die früher mit Bildverarbeitungssystemen oder Messtastern geprüft wurden, können jetzt mit der Sicherheit der berührungslosen Hochgeschwindigkeitsmessung im Nanometerbereich geprüft werden. Dies ist besonders wichtig für die Chargenproduktion mit engen Toleranzgrenzen, die nun einfach überwacht werden können, um die Qualitätskontrolle über Online-Kommunikation sicherzustellen. Mit dieser neuen Funktion können Anwendungen automatisch gescannt und auf der Grundlage von Anweisungen in einer Serverdatenbank analysiert werden. Die Online-Inspektionsfunktion ermöglicht das automatische Scannen der Produkt-ID mit einem Barcode-Lesegerät (kann auch manuell eingegeben werden); die Produkt-ID wird dann mit vordefinierten Pass/Fail- und Messanforderungen verglichen, die in einer Unternehmensdatenbank gespeichert sind. Das Teil wird automatisch gemessen, und nach Abschluss wird automatisch ein Bericht erstellt. Der Bericht und die Gut/Schlecht-Informationen werden automatisch an den Server zurückgeschickt und unter der Teilenummer gespeichert. Die Messgeschwindigkeiten reichen von 1m/s bis zu 31.000 Punkten/Sekunde mit einer Genauigkeit im Nanometerbereich. Es gibt verschiedene Scantypen, Analysefunktionen und Größenoptionen, die für Anwendungen in allen Branchen angepasst werden können. "Dies ist eine sehr interessante Möglichkeit für Nanovea. Unsere Profilometer können die Online-Inspektion derzeit am besten nutzen, aber es ist auch eine neue Option für unsere mechanischen Prüfgeräte, wenn die Härte für die Qualitätskontrolle genutzt werden kann."
-Craig Leising, Produktmanager