Arquivos Mensais: dezembro 2008

Travões de perfilômetro Novo terreno quebra novo terreno

Irvine CA, 02 de dezembro de 2008 - A Nanovea anunciou hoje que sua linha de perfis sem contato agora incluirá um sistema com velocidades de medição mais de 180 vezes mais rápidas. Com este novo avanço, o Profilômetro Nanovea terá agora a capacidade de atingir velocidades adequadas para ambientes de produção com mais restrições de tempo e controle de qualidade. Este novo avanço na tecnologia do Profilometer é um avanço para uso dentro destes ambientes particulares. Antes deste novo avanço, esta técnica de perfilamento exigia uma medição ponto por ponto, que adquiria pontos de dados únicos enquanto a amostra a ser medida se movia para trás e para frente sob a ótica para criar um mapeamento 3D. Com esta nova tecnologia, haverá uma linha de 180 pontos mensuráveis que serão adquiridos simultaneamente, o que diminuirá significativamente o tempo para criar um mapeamento 3D da superfície. "Estou entusiasmado com esta nova capacidade; isto nos dará a capacidade de trabalhar com novos mercados que requerem altos desempenhos". Disse Craig Leising, Gerente de Produto, Nanovea. O novo Profilômetro O sistema usa uma matriz de 1 x 180 pontos de medição e pode varrer até 1800 linhas por segundo para criar e taxa geral de varredura de até 324.000 pontos por segundo. O sistema será capaz de medir grandes áreas em segundos com alta resolução e pode ser equipado com software de reconhecimento de imagem para inspeção de alta velocidade. As opções também incluirão um espelho de varredura para criar uma função de varredura de campo que medirá 180 pontos por 230 linhas. O sistema personalizado em linha também estará disponível.