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AR Archives mensuelles : septembre 2013
Analyse de la défaillance d'un revêtement à l'aide d'un test de micro-rayures
Nous devons simuler le processus de test de grattage d'une manière contrôlée et surveillée pour observer l'analyse de la défaillance du revêtement. Dans cette application, le testeur mécanique Nanovea, dans son mode micro-rayures, est utilisé pour mesurer la charge nécessaire pour provoquer la défaillance du revêtement sur trois revêtements DLC traités séparément. Un stylet à cône de 90° et à pointe de diamant de 20μm est utilisé à une charge progressive allant de 0,01 mN à 15 N pour rayer le revêtement DLC. Le point où le revêtement cède par fissuration est pris comme point de rupture.
Analyse de la défaillance des revêtements DLC à l'aide de tests de micro-rayures
Stabilité mécanique de la graisse à l'aide d'un tribomètre
Le Pin-On-Disk de Nanovea Tribomètre sera utilisé en mode rotatif, le mode linéaire aurait également pu être utilisé. Une pointe de bille en acier sera utilisée contre un échantillon d'acier enduit de graisse complexe au lithium. La charge utilisée sera de 5N avec une vitesse constante de 150rpm. Deux graisses au complexe de lithium formulées séparément seront testées pour une évaluation comparative.
Voici des exemples de matériaux que nous avons testés ce mois-ci :
Mécanique :
- Nano-indentation : contrainte et déformation des aciers
- Limite d'élasticité des micro-pièces par nano-indentation
- Rigidité des polymères par nanoindentation
- Nano rayure du revêtement optique
- Micro rayures des revêtements de peinture
- Macroindentation des revêtements dlc
- Macro rayures des revêtements dlc
Profilométrie 3D sans contact :
- Topographie des surfaces de gel
- Rugosité des moules d'injection
- Texture des échantillons de silicone
- Planéité et coplanéité des réseaux de plaquettes de silicium
- Étape Hauteur du photomasque
- Dimensions des micro-pièces
- Essai d'usure submergé des revêtements dlc
- Test d'usure des revêtements en silicium
- Essai de friction sur des échantillons de verre intelligent
Mesure de la planéité d'un wafer à l'aide de la profilométrie 3D
Dans cette application, le Nanovea ST400 Profilomètre est utilisé pour mesurer la section d'un réseau de plaquettes. La surface mesurée a été choisie au hasard, et supposée suffisamment grande pour pouvoir être extrapolée afin d'émettre des hypothèses sur une surface beaucoup plus grande. Surface mesure de la planéitéla planéité et d'autres paramètres de surface sont utilisés pour analyser la surface.
Mesure de la planéité d'un wafer à l'aide de la profilométrie 3D
