TR 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
KO 
PL 
AR Kategori Profilometri Testi
Şeffaf Yüzey Üzerinde Şeffaf Film Ölçümü
Nanovea PS50 Profilometre, şeffaf bir cam alt tabaka üzerindeki ince şeffaf bir filmin pürüzlülük ölçümü, adım yüksekliği kalınlığı ve optik kalınlığı için kullanılır. Adım yüksekliği, filmin bir alanının ve alt tabakanın göreceli yükseklik farkına maruz kaldığı bir alanın ölçülmesiyle elde edilirken, optik kalınlık Profilometer şeffaf filmin içinden ölçüm yapabilme ve aynı anda hem filmin üst yüzeyinden hem de alt tabakadan yansıyan bir maddeyi tespit edebilme.
3D Profilometri Kullanarak Şeffaf Yüzey Üzerinde Şeffaf Film Ölçümü
3D Profilometri Kullanarak Wafer Düzlük Ölçümü
Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometre bir wafer dizisinin kesitini ölçmek için kullanılır. Ölçülen alan rastgele seçilmiştir ve çok daha büyük bir yüzey hakkında varsayımlarda bulunmak için tahmin edilebilecek kadar büyük olduğu varsayılmıştır. Yüzey düzlük ölçümü, düzlemsellik ve diğer yüzey parametreleri yüzeyi analiz etmek için kullanılır.
3D Profilometri Kullanarak Doku Tutarlılığı Ölçümü
Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometre ölçmek için kullanılır doku tutarlılığı linolyum zemin kaplaması. Burada amaçlanan yüzey dokusu, aynı göreceli boyuta sahip tekrarlayan bir yapı olmalıdır. Küçük bir alanın ölçülmesi, bu dokunun ne kadar tutarlı üretildiğini göstermelidir.
3D Profilometri Kullanarak Mikro Çizik Derinliği Ölçümü
Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometer için kullanılır derinlik ölçümü Nanovea'nın teknolojisi kullanılarak oluşturulan bir dizi mikro çizikten Mekanik Test Cihazı çizik modunda. Profilometre, 2D modunda tek hat geçişiyle saniyeler içinde alan ve derinlik ölçümü sağlar.
