PL 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
TR 
KO 
AR Kategoria: Informacja prasowa
Pierwszy na świecie trybometr z podwójną kontrolą obciążenia
Irvine CA, 28 lutego 2018 r. - Nanovea T2000 to pierwszy na świecie trybometr z podwójnym sterowaniem obciążeniem, zapewniający oscylację siły pionowej przy częstotliwościach do 150 Hz. Łączy w sobie zaawansowaną technologię pneumatyczną z najnowocześniejszym liniowym stolikiem elektromagnetycznym, aby zapewnić kontrolowane obciążenie od 1 mN do 2000 N podczas testów obrotowych i liniowych. Pneumatyka jest stosowana w zakresie od 5 do 2000N, oferując wiele korzyści w porównaniu ze starymi technologiami sprężynowymi/silnikowymi stosowanymi w innych systemach. W przypadku technologii sprężyna/silnik czujnik obciążenia jest zwykle umieszczony za sprężyną. Oznacza to, że nie mierzy on rzeczywistej zmiany obciążenia przyłożonego do powierzchni podczas testu. T2000 mierzy obciążenie poprzez bezpośrednie połączenie między uchwytem kulowym a rzeczywistym czujnikiem wagowym. Gwarantuje to, że mierzone obciążenie jest faktycznie obciążeniem przyłożonym do powierzchni. Liniowy system obciążenia elektromagnetycznego T2000 może przykładać siłę pionową od 0,2 do 20N przy częstotliwościach do 150Hz. Przykładowo, normalne obciążenie można zwiększyć z 0 do 100N za pomocą technologii pneumatycznej, a następnie silnik liniowy może zmieniać obciążenie od 90 do 110N i do 150 razy na sekundę. Daje to unikalną możliwość nałożenia kontrolowanego zmęczenia lub poziomu wibracji na główną stałą siłę przykładaną przez system pneumatyczny. Ten elektromagnetyczny stopień liniowy może również stosować bezpośrednio bardzo małe obciążenia od 1 mN do 5 N, aby uzupełnić pełny zakres.
Zobacz Klip wideo Dowiedz się więcej w sekcji Nota aplikacyjna lub odwiedź Nanovea Tribometry
In-line Inspection Game Changer
Korzystając z kontroli in-line (CZUJNIKI PUNKTOWE lub LINIOWE) unikalny pakiet oprogramowania in-line firmy Nanovea może mierzyć i analizować "na żywo" parametry chropowatości i tekstury spełniające normy dla maksymalnie 8 czujników punktowych lub maksymalnie 4 czujników liniowych. Oprogramowanie posiada wiele funkcji, w tym kryteria zaliczenia i niezaliczenia specyficzne dla każdego czujnika lub średnią ze wszystkich czujników. Szybkość akwizycji ponad 1 300 000 punktów na sekundę. Jest to idealne rozwiązanie do pomiarów folii/arkuszy papieru i innych zastosowań in-line. Nanovea zapewnia wsparcie integracyjne, w tym specjalną strukturę montażową.
Pomiar krawędzi narzędzia tnącego w sekundach
Irvine, Kalifornia, 27 lipca 2016 r. - Konwencjonalna profilometria skanuje powierzchnie próbek z jednego, stałego kierunku. Jest to odpowiednie tylko do pomiaru wystarczająco płaskich próbek, w przeciwieństwie do cylindrycznych kształtów, które wymagają precyzyjnego obrotu o 360°. W przypadku zastosowania takiego jak charakteryzowanie spiralnej krawędzi skrawającej narzędzia, konwencjonalna maszyna wymagałaby wielu skanów pod różnymi kątami całej części, a także znacznej manipulacji danymi po skanowaniu. Jest to często zbyt czasochłonne dla aplikacji QC, które wymagają pomiarów tylko z bardzo określonych regionów.
Stół obrotowy NANOVEA rozwiązuje ten problem dzięki jednoczesnej kontroli ruchu osi bocznej i obrotowej. Technika ta eliminuje czasochłonną potrzebę pomiaru całej części i ciągłego wyrównywania. Zamiast tego, pełny obwód całej krawędzi tnącej można określić w ciągu kilku sekund. Wszystkie pożądane kąty i cechy można określić bezpośrednio na podstawie skanu, bez konieczności łączenia wielu plików.
Chromatyczna technika konfokalna NANOVEA oferuje znacznie większą rozdzielczość, aż do 2,7 nm, i dokładność niż konkurencyjne rozwiązania Focus Variation. Surowa wysokość powierzchni jest mierzona bezpośrednio z detekcji długości fali skupionej na powierzchni, bez błędów powodowanych przez techniki interferometryczne, bez ograniczeń pola widzenia i bez potrzeby przygotowania powierzchni próbki. Materiały o ekstremalnie wysokim lub niskim współczynniku odbicia mogą być łatwo mierzone, a bardzo wysokie kąty ścian są dokładnie charakteryzowane bez żadnych problemów.
W połączeniu z czujnikiem liniowym NANOVEA, pasek danych o szerokości do 4,78 mm może być rejestrowany w jednym przejściu, poruszając się liniowo do 150 mm w kierunku skanowania. Jednocześnie stolik obrotowy może obracać próbkę z żądaną prędkością. Podsumowując, system ten pozwala na tworzenie ciągłej mapy wysokości 3D całego obwodu krawędzi skrawającej, o dowolnej podziałce lub promieniu, w ułamku czasu w porównaniu z innymi technologiami.
Patrz uwaga do aplikacji: Pomiar rotacyjny przy użyciu profilometrii 3D
Przełomowy test wytrzymałości na wciskanie przeprowadzony przez Nanovea
Irvine, Kalifornia, 14 lipca 2011 r. - Firma Nanovea przedstawiła dziś zgłoszoną do opatentowania przełomową metodę wiarygodnego pomiaru granicy plastyczności poprzez wgłębianie, która ostatecznie zastąpi tradycyjną maszynę do prób rozciągania. Tradycyjnie granica plastyczności była badana za pomocą maszyny do prób rozciągania, dużego przyrządu wymagającego ogromnej siły do rozerwania metalu, plastiku i innych. Granica plastyczności (znana również jako granica plastyczności) materiału w inżynierii (lub materiałoznawstwie) to punkt naprężenia, w którym materiał zaczyna się odkształcać plastycznie. Przed osiągnięciem granicy plastyczności materiał odkształca się elastycznie, ale powraca do swojego pierwotnego kształtu po usunięciu naprężenia. Jest to kluczowa właściwość materiałów nano- i mikromateriałów stosowanych w rozwijających się branżach, takich jak biomedycyna, mikroelektronika, energetyka i wiele innych. Do tej pory najbardziej niezawodny sposób wymagał dużego wysiłku maszynowego, przygotowania próbki lub był niemożliwy do wykonania na małych próbkach i zlokalizowanych obszarach. Korzystając z testera mechanicznego Nanovea w trybie wgłębiania, przy użyciu cylindrycznej płaskiej końcówki, można łatwo uzyskać dane dotyczące granicy plastyczności. Od lat test wgłębiania jest wykorzystywany do pomiarów twardości i modułu sprężystości. Tradycyjnie istniał problem z powiązaniem właściwości makro rozciągania z tym, co zostało zmierzone podczas testu wgłębiania. Wiele badań z użyciem kulistych końcówek pozwoliło na uzyskanie krzywych naprężenie-odkształcenie, ale nigdy nie były one w stanie dostarczyć wiarygodnych danych dotyczących granicy plastyczności, które odpowiadałyby bezpośrednio danym dotyczącym rozciągania w skali makro. Zgłoszona do opatentowania metoda Nanovea, wykorzystująca cylindryczną płaską końcówkę, daje granicę plastyczności bezpośrednio porównywalną z tą mierzoną tradycyjnymi metodami. Uważa się, że obciążenie na powierzchnię, przy którym cylindryczna płaska końcówka penetruje przy zwiększonej prędkości, jest bezpośrednio związane z obciążeniem w stosunku do powierzchni, przy której materiał zaczyna płynąć w teście trybu rozciągania. Dlatego wiarygodne wyniki granicy plastyczności dla nieskończonej listy materiałów, małych i dużych, nigdy wcześniej nie były tak dostępne. "To tylko kolejny dodatek do długiej i stale rosnącej listy materiałów, które można badać za pomocą naszego testera mechanicznego" - powiedział Pierre Leroux, dyrektor generalny Nanovea. Chociaż ten konkretny test jest przełomem o ogromnym znaczeniu, jest to kolejny powód, dla którego Nanovea Mechanical Tester ma najszersze możliwości testowania spośród wszystkich systemów do testów mechanicznych.
Notę aplikacyjną można znaleźć na stronie: Przełomowe badanie wytrzymałości na wciskanie
Przełom w szybkich testach nanościeralności
20 lutego 2013 r. - Irvine, Kalifornia - Nanovea ogłosiła dziś ukończenie prac nad systemem do testowania nanozużycia zdolnym do osiągania prędkości nawet 1400 mm/sek. Unikalna długość skoku, do 10 mm, w połączeniu z ruchem liniowym z częstotliwością do 70 Hz, a być może z wyższymi częstotliwościami, pozwala na uzyskanie prędkości nigdy wcześniej niedostępnych w testach nanozużycia.
Przyrządy do badania zużycia istnieją od ponad pół wieku. Od samego początku obciążenia testowe były zazwyczaj wyższe niż 1 N, a prędkości były niskie, z wyjątkiem nowszych zastosowań frettingu, w których przemieszczenie było ograniczone do 10 mikronów. Nanoindentacja pojawiła się pod koniec lat 80-tych z możliwością zapewnienia znacznie niższych obciążeń. Pierwsze systemy były i nadal w większości są oparte na systemie cewek bez pętli sterowania sprzężeniem zwrotnym. Pętla sterowania ze sprzężeniem zwrotnym jest niezbędna do zapewnienia doskonałej kontroli obciążenia, gdy pozycja styku jest przesuwana, tak jak jest to wymagane w przypadku testów zarysowania lub zużycia. Nano Scratch Testing z kombinacją piezoelektrycznych czujników wagowych pojawił się pod koniec lat 90-tych. Pierwsze systemy wykorzystywały technologie wspornikowe, które zapewniały wystarczającą prędkość kontroli sprzężenia zwrotnego podczas testów zarysowania i zużycia, ale prędkość przemieszczania była i nadal jest ograniczona do poniżej 10 mm/s. W przypadku wielu zastosowań żywotność wymaga bardzo dużej liczby cykli, aby zapewnić, że urządzenie wytrzyma po latach użytkowania. Przy niskiej prędkości dostępnej w technologiach wspornikowych wykonanie pojedynczego testu zużycia może zająć ponad 6 miesięcy. Jest to niepraktyczne i wyraźnie spowalnia rozwój i zatwierdzanie nowych technologii.
Nanovea jest w stanie osiągnąć szybsze prędkości i bezpieczną kontrolę obciążeń podczas testów nanozużycia, wykorzystując system głośników cewkowych do szybkiego i płynnego przemieszczania. Dodając wykorzystanie Nanovea Nano moduł z siłownikiem piezoelektrycznym i ultraczułym ogniwem obciążnikowym zapewnia szybką kontrolę obciążenia przy montażu pionowym, aby zapewnić doskonałą reakcję na prędkość.
"Dzięki temu projektowi mieliśmy okazję naprawdę udowodnić możliwości naszego zespołu. Jesteśmy bardzo dumni z tego osiągnięcia. Ta nowa technologia przyspieszy wprowadzenie na rynek nowych urządzeń o zwiększonej żywotności." -CEO, Pierre Leroux
Przełom w szybkich testach nanotribologicznych
21 lutego 2013 r. - Irvine, Kalifornia - Nanovea ogłosiła dzisiaj zakończenie Nanotribology System zdolny do osiągania prędkości do 1400 mm/s. Unikalna długość skoku, do 10 mm, w połączeniu z ruchem liniowym z częstotliwością do 70 Hz, a być może z wyższymi częstotliwościami, pozwala na uzyskanie prędkości nigdy wcześniej niedostępnych w testach nanozużycia.
Przyrządy do badania zużycia istnieją od ponad pół wieku. Od samego początku obciążenia testowe były zazwyczaj wyższe niż 1 N, a prędkości były niskie, z wyjątkiem nowszych zastosowań frettingu, w których przemieszczenie było ograniczone do 10 mikronów. Nanoindentacja pojawiła się pod koniec lat 80-tych z możliwością zapewnienia znacznie niższych obciążeń. Pierwsze systemy były i nadal w większości są oparte na systemie cewek bez pętli sterowania sprzężeniem zwrotnym. Pętla sterowania ze sprzężeniem zwrotnym jest niezbędna do zapewnienia doskonałej kontroli obciążenia, gdy pozycja styku jest przesuwana, tak jak jest to wymagane w przypadku testów zarysowania lub zużycia. Nano Scratch Testing z kombinacją piezoelektrycznych czujników wagowych pojawił się pod koniec lat 90-tych. Pierwsze systemy wykorzystywały technologie wspornikowe, które zapewniały wystarczającą prędkość kontroli sprzężenia zwrotnego podczas testów zarysowania i zużycia, ale prędkość przemieszczania była i nadal jest ograniczona do poniżej 10 mm/s. W przypadku wielu zastosowań żywotność wymaga bardzo dużej liczby cykli, aby zapewnić, że urządzenie wytrzyma po latach użytkowania. Przy niskiej prędkości dostępnej w technologiach wspornikowych wykonanie pojedynczego testu zużycia może zająć ponad 6 miesięcy. Jest to niepraktyczne i wyraźnie spowalnia rozwój i zatwierdzanie nowych technologii.
Nanovea jest w stanie osiągnąć szybsze prędkości i bezpieczną kontrolę obciążeń podczas testów nanozużycia, wykorzystując system głośników cewkowych do szybkiego i płynnego przemieszczania. Dodanie modułu Nanovea Nano Module z siłownikiem piezoelektrycznym i ultraczułym ogniwem obciążnikowym zapewnia szybką kontrolę obciążenia przy montażu pionowym, aby zapewnić doskonałą reakcję na prędkość.
"Dzięki temu projektowi mieliśmy okazję naprawdę udowodnić możliwości naszego zespołu. Jesteśmy bardzo dumni z tego osiągnięcia. Ta nowa technologia przyspieszy wprowadzenie na rynek nowych urządzeń o zwiększonej żywotności." -CEO, Pierre Leroux
Nanovea prezentuje nową, rewolucyjną linię N3
Irvine CA, 18 stycznia 2012 r. - Nanovea ogłosiła dziś pojawienie się linii N3 dedykowanej dostarczaniu wysokiej klasy technologii pomiarowej na szerszy rynek. Nanovea w pełni zautomatyzowała swoje techniki pomiarowe, jednocześnie projektując je pod kątem ceny na rynku $20K.
Najważniejszym produktem z linii N3 jest M3, przełomowa technologia, której celem są dwa różne aspekty brakujące na rynku twardościomierzy. Po pierwsze, połączenie trzech czynników, które nigdy wcześniej nie były dostępne: zakresu nanometrów, kontrolowanego obciążenia i głębokości oraz konkurencyjnej ceny, aby konkurować na rynku $20K. Zapewnia to uniwersytetom i mniejszym jednostkom badawczo-rozwojowym przystępne cenowo możliwości nanoindentacji. M3 wprowadza zupełnie nowe możliwości dla użytkowników w tym przedziale cenowym, zapewniając przystępny cenowo dostęp do szybkich i łatwych wyników nanoindentacji zgodnie z normą ASTM. Drugim celem jest zaoferowanie technologii nowej generacji, która zastąpi tradycyjne wizualne twardościomierze Micro Vickers, które nie zmieniły się od ponad 15 lat. Aby to osiągnąć, metoda wcięcia została w pełni zautomatyzowana, bez konieczności wizualnej obserwacji wcięcia, co eliminuje błędy użytkownika lub problemy z oprogramowaniem do rozpoznawania obrazu, które może mieć problemy z kolorem i teksturą materiału. Ponadto, ta nowa technologia może osiągnąć niższe obciążenie i będzie działać na cienkich powłokach i wszystkich materiałach, w tym ceramice, polimerach, metalach i innych. W pełni zautomatyzowany system posiada dotykowy ekran startowy, który zapewnia automatyczną średnią z wielu pomiarów w ciągu kilku minut. Urządzenie jest kompaktowe i w pełni kompaktowe, z tylko jednym standardowym kablem elektrycznym do podłączenia. Ze względu na te postępy technologiczne i bardzo konkurencyjną cenę, linia M3 będzie zamiennikiem starszych mikrotesterów Vickersa używanych obecnie w przemysłowych środowiskach kontroli jakości o wysokiej przepustowości.
M3 zapoczątkowuje nową erę testów twardości, zapewniając możliwości pomiarowe, które do tej pory były ukierunkowane na bardzo zaawansowane badania. Zasadniczo, podobnie jak w przypadku większości postępów technologicznych, cena utrzymuje nanoindentacja możliwości poza zasięgiem szerszego rynku wciąż korzystającego ze standardowego sprzętu do badania twardości. M3 będzie znaczącym zamiennikiem w przystępnej cenie, a wynik będzie rewolucyjny. Ale Nanovea nie poprzestała na tym. M3 to tylko jeden z trzech nowych produktów z nowej linii N3 firmy Nanovea. Wraz z M3 Nanovea wprowadza również P3 i T3.
P3 to znaczący postęp w dziedzinie bezkontaktowej metrologii 3D, zapewniający automatyczne dane chropowatości ISO w nanometrach i dane krokowe dla prawie każdego materiału; możliwość niedostępna na rynku 20k. P3 zapewni szerszemu rynkowi zapotrzebowanie na automatyczne dane chropowatości od nano do makro bez wysokich kosztów związanych z kompletnym systemem profilometru. Wreszcie, T3, podobnie jak P3, został opracowany w celu zapewnienia szybkiego, łatwego i niedrogiego dostępu do wysokiej klasy możliwości pomiarowych. T3 to automatyczny tester zużycia nano wykorzystujący liniowe ruchy posuwisto-zwrotne, ASTM g133, do badania szybkości zużycia.
"Linia N3 to rewolucja w zakresie wysokiej klasy przyrządów do pomiaru materiałów, z których każdy działa na swój własny sposób i na swoich własnych rynkach. Każdy z nich został strategicznie zaprojektowany, aby podążać za celem Nanovea, jakim jest dostarczenie kluczowej nanotechnologii na szerszy rynek. Podobnie jak w przypadku wielu technologii opracowywanych obecnie w celu rozwoju naszego społeczeństwa, cena ostatecznie będzie kontrolować szeroką akceptację i wykorzystanie. Nie inaczej jest z technologią pomiarową i jest ona równie ważna, jeśli nie ważniejsza" - powiedział Pierre Leroux, dyrektor generalny Nanovea.
Nanovea zaprezentuje linię N3 po raz pierwszy publicznie na jesiennych targach MRS 2012. Zamówienia na linię N3 rozpoczną się w kwietniu, a dostawa nastąpi w czerwcu 2012 roku.
Premiera prawdziwego przenośnego profilometru Jr25
Listopad 2010 (Irvine, Kalifornia) - Nanovea Jr25, bezkontaktowy przenośny profilometr 3D, jest pierwszym prawdziwie przenośnym, wysokowydajnym profilometrem tego typu. Dzięki opcjonalnemu zestawowi baterii i futerałowi, Jr25 zapewnia możliwości pomiarowe rzadko dostępne podczas badań terenowych. Jr25 został zaprojektowany do łatwego wykorzystania wiodących piór optycznych wykorzystujących doskonały pomiar chromatyzmu osiowego w świetle białym. Podczas pomiaru można uzyskać zakres od nano do makro (profil/wymiar, chropowatość/wykończenie/faktura, kształt/forma/topografia, płaskość/skrzywienie, powierzchnia, wysokość/głębokość/grubość i inne) dla szerszego zakresu geometrii i materiałów niż jakikolwiek inny przyrząd pomiarowy. Profilometr a teraz z prawdziwą przenośnością. Przy całkowitej wadze poniżej 5,5 kg, operator może bezpiecznie umieścić Jr25 na kontrolowanej powierzchni. Jr25 może mierzyć powierzchnię do 25 mm x 25 mm, a w zależności od pióra optycznego głębokość do 27 mm i rozdzielczość do 5 nm. Ustawianie ostrości powierzchni odbywa się ręcznie za pomocą mikrometru dotykowego o zakresie przesuwu 30 mm. Powierzchnie niemal każdego typu mogą być mierzone niezależnie od tego, jak odblaskowy/nieodblaskowy, przezroczysty/nieprzezroczysty lub zwierciadlany/dyfuzyjny jest materiał. Dzięki w pełni obrotowej, jednoosiowej głowicy Jr25 ma możliwość pomiaru powierzchni pod trudnymi kątami. Wraz z szybkością i łatwością użytkowania, Jr25 został zaprojektowany specjalnie dla środowisk produkcyjnych, w których próbki nie mogą być przenoszone i badań terenowych. "Drzwi dla naszej techniki 3D Non Contact zostały teraz otwarte, aby dotrzeć do środowisk nietkniętych tego typu możliwościami pomiarowymi; od księżyca po pustynię i wszystko pomiędzy. Pole naprawdę stało się laboratorium z tego typu zasobami pomiarowymi u boku". - Craig Leising | Product Manager
Amerykański producent instrumentów nanotechnologicznych udowadnia sukces bodźców badawczo-rozwojowych
Irvine, Kalifornia, 25 stycznia 2010 r. - Podobnie jak wiele osób w całym kraju, możesz zadawać sobie pytanie, w jaki sposób miliardy przeznaczane na badania i rozwój w nauce pomogły pobudzić naszą gospodarkę. Wystarczy spojrzeć na firmę Nanovea z Irvine w Kalifornii, produkującą instrumenty nanotechnologiczne. Rok 2009 zakończył się dla firmy pierwszym rokiem z nowymi pracownikami, nowymi instrumentami i większą liczbą zleceń dla lokalnych warsztatów i dostawców części. Z biura w Irvine w Kalifornii Nanovea projektuje i produkuje przyrządy 3D. Profilometry, Testerzy mechaniczni & Tribometry aby połączyć najbardziej zaawansowane możliwości testowania w branży: zarysowania, przyczepność, twardość, zużycie, tarcie i bezkontaktową metrologię 3D w zakresie nano, mikro i makro. W przeciwieństwie do innych producentów, Nanovea świadczy również usługi laboratoryjne, oferując klientom dostęp do najnowszych technologii i optymalnych wyników poprzez poprawę standardów testowania materiałów. Co więc Nanovea ma wspólnego z bodźcem do badań w Stanach Zjednoczonych? Cóż, przypadkowo wszystko, a oto jak. Bodziec przekazany laboratoriom badawczym, uniwersytetom i firmom miał na celu opracowanie nowych innowacji i materiałów wspierających rozwijające się branże, takie jak energia słoneczna, energia, biomedycyna itp. Tworzenie nowych lub ulepszanie materiałów wymaga nowych instrumentów do pomiaru i kontroli właściwości materiałów podczas badań i rozwoju. Oprzyrządowanie byłoby również potrzebne do monitorowania masowego rozwoju tych nowych materiałów w celu kontroli jakości. Nanovea projektowała i produkowała instrumenty do tego celu od 2004 roku i przygotowywała się do wprowadzenia marki na rynek pod koniec 2008 roku. Pod kierownictwem nowo zatrudnionego menedżera ds. marketingu Nanovea przygotowywała się do wprowadzenia na rynek w jednym z najtrudniejszych okresów gospodarczych, z jakimi kiedykolwiek miały do czynienia Stany Zjednoczone. Nanovea podjęła wyzwanie i w pełni wykorzystała potrzeby społeczności badawczej zarówno w USA, jak i na arenie międzynarodowej. Dzięki trzem wyraźnym liniom produktów i usług Nanovea dostarczyła w 2009 roku rozwiązania dla szybko rozwijających się gałęzi przemysłu potrzebujących pomiarów w skali od nano do makro. Rok 2010 rozpoczął się już kilkoma nowymi projektami na całym świecie oraz z lokalnymi klientami z branży solarnej, farmaceutycznej i medycznej w Kalifornii. "Bycie amerykańskim producentem przyrządów i usług nano w tym czasie dało nam kilka wspaniałych okazji do ugruntowania naszej marki. Jesteśmy bardzo wdzięczni i dumni z tego, że mogliśmy wesprzeć gospodarkę, zatrudniając nowych pracowników i rozwijając biznes z naszymi lokalnymi partnerami." -Pierre Leroux, Prezes Zarządu Nanovea
Nanometrowa inspekcja online za pomocą bezkontaktowego profilometru Nanovea 3D
Irvine, Kalifornia, 05 stycznia 2010 r. - Bezkontaktowy profilometr 3D firmy Nanovea będzie teraz posiadał opcjonalną możliwość zautomatyzowanej inspekcji online i generowania raportów. Dzięki temu udoskonaleniu profilometr Nanovea Profilometr można teraz bez trudu zintegrować z dużymi lub małymi środowiskami kontroli jakości. Kluczowe aplikacje we wszystkich branżach, które kiedyś były kontrolowane za pomocą wizji lub sondy dotykowej, będą teraz kontrolowane z zapewnieniem szybkiego bezkontaktowego pomiaru nanometrów. Jest to szczególnie ważne w przypadku produkcji seryjnej z wąskimi poziomami tolerancji, które można teraz łatwo monitorować w celu zapewnienia kontroli jakości za pośrednictwem komunikacji online. Dzięki tej nowej funkcji aplikacje mogą być automatycznie skanowane i analizowane w oparciu o instrukcje znajdujące się w bazie danych serwera. Funkcja inspekcji online umożliwia automatyczne skanowanie identyfikatora produktu za pomocą czytnika kodów kreskowych (można go również wprowadzić ręcznie); identyfikator produktu jest następnie sprawdzany pod kątem wstępnie zdefiniowanych wymagań pozytywnych/negatywnych i pomiarowych przechowywanych w bazie danych firmy. Część jest automatycznie mierzona, a po zakończeniu automatycznie generowany jest raport. Raport i informacje o wyniku pozytywnym/negatywnym są automatycznie wysyłane z powrotem na serwer i przechowywane z danym numerem części. Prędkości pomiarowe wahają się od 1 m/s do 31 000 punktów/s z nanometrową dokładnością. Dostępne są różne typy skanowania, funkcje analizy i opcje rozmiaru, które można dostosować do zastosowań we wszystkich branżach. "To bardzo ekscytująca możliwość dla Nanovea. Nasze profilometry mogą obecnie najlepiej wykorzystywać inspekcję online, ale jest to również nowa opcja dla naszych testerów mechanicznych, gdy twardość może być wykorzystywana do kontroli jakości".
-Craig LeisingMenedżer produktu
