USA/GLOBALNE: +1-949-461-9292
EUROPA: +39-011-3052-794
KONTAKT

Test zużycia powłoki PTFE

BADANIE ZUŻYCIA POWŁOKI PTFE

Z WYKORZYSTANIEM TRIBOMETRA I TESTERA MECHANICZNEGO

Przygotowane przez

DUANJIE LI, PhD

WPROWADZENIE

Politetrafluoroetylen (PTFE), powszechnie znany jako teflon, jest polimerem o wyjątkowo niskim współczynniku tarcia (COF) i doskonałej odporności na zużycie w zależności od zastosowanych obciążeń. PTFE wykazuje doskonałą obojętność chemiczną, wysoką temperaturę topnienia 327°C (620°F) oraz zachowuje wysoką wytrzymałość, ciągliwość i samosmarowność w niskich temperaturach. Wyjątkowa odporność na zużycie powłok PTFE sprawia, że są one bardzo poszukiwane w wielu zastosowaniach przemysłowych, takich jak motoryzacja, lotnictwo, medycyna, a zwłaszcza naczynia kuchenne.

ZNACZENIE ILOŚCIOWEJ OCENY POWŁOK PTFE

Połączenie bardzo niskiego współczynnika tarcia (COF), doskonałej odporności na zużycie i wyjątkowej obojętności chemicznej w wysokich temperaturach sprawia, że PTFE jest idealnym wyborem do nieprzywierających powłok patelni. Aby jeszcze bardziej udoskonalić swoje procesy mechaniczne podczas prac badawczo-rozwojowych, a także zapewnić optymalną kontrolę nad zapobieganiem awariom i środkami bezpieczeństwa w procesie kontroli jakości, kluczowe znaczenie ma posiadanie niezawodnej techniki ilościowej oceny procesów trybomechanicznych powłok PTFE. Precyzyjna kontrola tarcia powierzchni, zużycia i przyczepności powłok jest niezbędna do zapewnienia ich zamierzonego działania.

CEL POMIARU

W tej aplikacji proces zużycia powłoki PTFE na nieprzywierającej patelni jest symulowany za pomocą trybometru NANOVEA w liniowym trybie posuwisto-zwrotnym.

NANOVEA T50

Kompaktowy trybometr z wolnym ciężarem

Ponadto tester mechaniczny NANOVEA został wykorzystany do przeprowadzenia testu przyczepności mikrozarysowań w celu określenia obciążenia krytycznego braku przyczepności powłoki PTFE.

NANOVEA PB1000

Tester mechaniczny dużej platformy

PROCEDURA TESTOWA

TEST ZUŻYCIA

LINIOWE ZUŻYCIE TAŁKOWE Z WYKORZYSTANIEM TRYBOMETRU

Zachowanie trybologiczne próbki powłoki PTFE, w tym współczynnik tarcia (COF) i odporność na zużycie, oceniano za pomocą NANOVEA Tribometr w trybie liniowym, posuwisto-zwrotnym. Na powłokę zastosowano kulistą końcówkę ze stali nierdzewnej 440 o średnicy 3 mm (klasa 100). Współczynnik COF był stale monitorowany podczas testu zużycia powłoki PTFE.

 

Szybkość zużycia K obliczono ze wzoru K=V/(F×s)=A/(F×n), gdzie V oznacza objętość zużycia, F to normalne obciążenie, s to droga poślizgu, A to pole przekroju poprzecznego toru zużycia, n to liczba uderzeń. Profile śladów zużycia oceniano za pomocą NANOVEA Profilometr optycznyi zbadano morfologię śladów zużycia za pomocą mikroskopu optycznego.

PARAMETRY BADANIA ZUŻYCIA

LOAD 30 N
CZAS TRWANIA TESTU 5 minut
SZYBKOŚĆ SUWAKU 80 obr./min
AMPLITUDA ŚCIEŻKI 8 mm
REWOLUCJE 300
ŚREDNICA KULKI 3 mm
MATERIAŁ KULKI Stal nierdzewna 440
SMAROWIDŁO Nic
ATMOSFERY Air
TEMPERATURA 230C (RT)
HUMIDITY 43%

PROCEDURA TESTOWA

TEST NA ZADRAŻNIENIA

BADANIE PRZYCZEPNOŚCI MIKRO ZARYSOWAŃ Z WYKORZYSTANIEM TESTERA MECHANICZNEGO

Pomiar przyczepności przy zarysowaniu PTFE przeprowadzono przy użyciu NANOVEA Tester mechaniczny za pomocą diamentowej igły 1200 Rockwell C (promień 200 μm) w trybie Micro Scratch Tester.

 

Aby zapewnić powtarzalność wyników, przeprowadzono trzy testy w identycznych warunkach testowych.

PARAMETRY BADANIA ZARYSOWANIA

TYP OBCIĄŻENIA Postępowe
OBCIĄŻENIE POCZĄTKOWE 0,01 mN
OBCIĄŻENIE KOŃCOWE 20 mN
PRĘDKOŚĆ ZAŁADUNKU 40 mN/min
DŁUGOŚĆ SKRATKI 3 mm
PRĘDKOŚĆ SKRATOWANIA, dx/dt 6,0 mm/min
GEOMETRIA WGŁĘBNIKA 120o Rockwell C
MATERIAŁ DO INDENTERÓW (końcówka) Diament
PROMIEŃ KOŃCÓWKI WGŁĘBNIKA 200 μm

WYNIKI I DYSKUSJA

LINIOWE ZUŻYCIE TAŁKOWE Z WYKORZYSTANIEM TRYBOMETRU

COF zarejestrowany in situ pokazano na FIGURZE 1. Próbka testowa wykazywała COF ~0,18 podczas pierwszych 130 obrotów, ze względu na niską lepkość PTFE. Jednakże nastąpił nagły wzrost COF do ~1, gdy powłoka przebiła się, odsłaniając podłoże pod spodem. Po liniowych testach ruchu posuwisto-zwrotnego zmierzono profil zużycia za pomocą NANOVEA Bezkontaktowy proflometr optycznyjak pokazano na RYSUNKU 2. Na podstawie uzyskanych danych obliczono odpowiednią szybkość zużycia na ~2,78 × 10-3 mm3/Nm, natomiast głębokość śladu zużycia określono na 44,94 µm.

Konfiguracja testu zużycia powłoki PTFE na trybometrze NANOVEA T50.

RYSUNEK 1: Ewolucja COF podczas testu zużycia powłoki PTFE.

RYSUNEK 2: Ekstrakcja profilu śladu zużycia PTFE.

PTFE Przed przełomem

Maksymalny współczynnik COF 0.217
Min. COF 0.125
Średni współczynnik COF 0.177

PTFE Po przebiciu

Maksymalny współczynnik COF 0.217
Min. COF 0.125
Średni współczynnik COF 0.177

TABELA 1: COF przed i po przebiciu podczas testu zużycia.

WYNIKI I DYSKUSJA

BADANIE PRZYCZEPNOŚCI MIKRO ZARYSOWAŃ Z WYKORZYSTANIEM TESTERA MECHANICZNEGO

Przyczepność powłoki PTFE do podłoża jest mierzona za pomocą testów zarysowania diamentowym trzpieniem o średnicy 200 µm. Mikrografię przedstawiono na RYSUNKU 3 i RYSUNKU 4, Ewolucja COF i głębokość penetracji na RYSUNKU 5. Wyniki testu zarysowania powłoki PTFE podsumowano w TABELI 4. Wraz ze wzrostem obciążenia trzpienia diamentowego stopniowo wnikał on w powłokę, co powoduje wzrost COF. Po osiągnięciu obciążenia ~8,5 N przebicie powłoki i odsłonięcie podłoża nastąpiło pod wysokim ciśnieniem, co doprowadziło do wysokiego współczynnika COF ~0,3. Niska wartość St Dev przedstawiona w TABELI 2 pokazuje powtarzalność testu zarysowania powłoki PTFE przeprowadzonego przy użyciu testera mechanicznego NANOVEA.

RYSUNEK 3: Mikrofotografia pełnej rysy na PTFE (10X).

RYSUNEK 4: Mikrofotografia pełnej rysy na PTFE (10X).

RYSUNEK 5: Wykres tarcia przedstawiający linię krytycznego punktu zniszczenia PTFE.

Scratch Punkt awarii [N] Siła tarcia [N] COF
1 0.335 0.124 0.285
2 0.337 0.207 0.310
3 0.380 0.229 0.295
Przeciętny 8.52 2.47 0.297
Św 0.17 0.16 0.012

TABELA 2: Podsumowanie obciążenia krytycznego, siły tarcia i COF podczas testu zarysowania.

PODSUMOWANIE

W tym badaniu przeprowadziliśmy symulację procesu zużycia powłoki PTFE na nieprzywierających patelniach za pomocą tribometru NANOVEA T50 w liniowym trybie posuwisto-zwrotnym. Powłoka PTFE wykazywała niski współczynnik COF wynoszący ~0,18. Powłoka uległa przebiciu przy około 130 obrotach. Ilościową ocenę przyczepności powłoki PTFE do podłoża metalowego przeprowadzono za pomocą testera mechanicznego NANOVEA, który w tym teście określił obciążenie krytyczne utraty przyczepności powłoki na ~8,5 N.

 

Trybometry NANOVEA oferują precyzyjne i powtarzalne możliwości testowania zużycia i tarcia przy użyciu trybów obrotowych i liniowych zgodnych z ISO i ASTM. Zapewniają opcjonalne moduły do zużycia w wysokich temperaturach, smarowania i tribokorozji, a wszystko to zintegrowane w jednym systemie. Ta wszechstronność pozwala użytkownikom dokładniej symulować rzeczywiste środowiska aplikacji i lepiej zrozumieć mechanizmy zużycia i właściwości tribologiczne różnych materiałów.

 

Testery mechaniczne NANOVEA oferują moduły Nano, Micro i Macro, z których każdy zawiera zgodne z ISO i ASTM tryby testowania wgnieceń, zarysowania i zużycia, zapewniając najszerszy i najbardziej przyjazny dla użytkownika zakres możliwości testowania dostępnych w jednym systemie.

TERAZ POROZMAWIAJMY O TWOJEJ APLIKACJI

Progresywne mapowanie zużycia podłóg przy użyciu trybometru

Progresywne mapowanie zużycia podłóg

Korzystanie z trybometru z wbudowanym profilometrem

Przygotowane przez

FRANK LIU

WPROWADZENIE

Materiały podłogowe są projektowane tak, aby były trwałe, jednak często ulegają zużyciu w wyniku codziennych czynności, takich jak ruch i użytkowanie mebli. Aby zapewnić ich trwałość, większość rodzajów podłóg posiada warstwę ochronną, która jest odporna na uszkodzenia. Jednakże grubość i trwałość warstwy użytkowej różnią się w zależności od rodzaju podłogi i natężenia ruchu pieszego. Ponadto różne warstwy w strukturze podłogi, takie jak powłoki UV, warstwy dekoracyjne i glazura, charakteryzują się różnym stopniem zużycia. Tutaj właśnie pojawia się progresywne mapowanie zużycia. Korzystanie z trybometru NANOVEA T2000 ze zintegrowanym Bezkontaktowy proflometr 3Dmożna przeprowadzić precyzyjne monitorowanie i analizę wydajności i trwałości materiałów podłogowych. Zapewniając szczegółowy wgląd w zachowanie różnych materiałów podłogowych podczas zużycia, naukowcy i specjaliści techniczni mogą podejmować bardziej świadome decyzje przy wyborze i projektowaniu nowych systemów podłogowych.

ZNACZENIE PROGRESYWNEGO MAPOWANIA ZUŻYCIA PANELI PODŁOGOWYCH

Testowanie podłóg tradycyjnie koncentrowało się na szybkości zużycia próbki w celu określenia jej trwałości na zużycie. Jednak progresywne mapowanie zużycia umożliwia analizę szybkości zużycia próbki w trakcie testu, zapewniając cenny wgląd w jej zachowanie podczas zużycia. Ta dogłębna analiza pozwala na korelacje między danymi tarcia a szybkością zużycia, co może zidentyfikować pierwotne przyczyny zużycia. Należy zauważyć, że wskaźniki zużycia nie są stałe podczas testów zużycia. Dlatego obserwacja postępu zużycia daje dokładniejszą ocenę zużycia próbki. Wykraczając poza tradycyjne metody testowania, przyjęcie progresywnego mapowania zużycia przyczyniło się do znacznego postępu w dziedzinie testowania podłóg.

Trybometr NANOVEA T2000 ze zintegrowanym bezkontaktowym profilometrem 3D to przełomowe rozwiązanie do badania zużycia i pomiarów utraty objętości. Jego zdolność do precyzyjnego przemieszczania się pomiędzy sworzniem a profilometrem gwarantuje wiarygodność wyników poprzez eliminację wszelkich odchyleń w promieniu lub położeniu toru zużycia. Ale to nie wszystko – zaawansowane możliwości Bezkontaktowego Profilometru 3D pozwalają na szybkie pomiary powierzchni, skracając czas skanowania do zaledwie sekund. Dzięki możliwości przykładania obciążeń do 2000 N i osiąganiu prędkości wirowania do 5000 obr/min, NANOVEA T2000 Tribometr oferuje wszechstronność i precyzję w procesie oceny. Oczywiste jest, że sprzęt ten odgrywa kluczową rolę w mapowaniu postępującego zużycia.

 

RYSUNEK 1: Konfiguracja próbki przed testem zużycia (po lewej) i profilometria śladu zużycia po teście zużycia (po prawej).

CEL POMIARU

Testy progresywnego mapowania zużycia przeprowadzono na dwóch rodzajach materiałów podłogowych: kamieniu i drewnie. Każda próbka przeszła łącznie 7 cykli testowych, z rosnącym czasem trwania testu wynoszącym 2, 4, 8, 20, 40, 60 i 120 s, co pozwoliło na porównanie zużycia w czasie. Po każdym cyklu testowym ścieżka zużycia była profilowana przy użyciu bezkontaktowego profilometru NANOVEA 3D. Na podstawie danych zebranych przez profilometr, objętość otworu i szybkość zużycia można analizować za pomocą zintegrowanych funkcji oprogramowania NANOVEA Tribometer lub naszego oprogramowania do analizy powierzchni, Mountains.

NANOVEA

T2000

próbki testowe do mapowania zużycia drewna i kamienia

 PRÓBKI 

PARAMETRY TESTU MAPOWANIA ZUŻYCIA

LOAD40 N
CZAS TRWANIA TESTUróżnice
PRĘDKOŚĆ200 obr.
RADIUS10 mm
ODLEGŁOŚĆróżnice
MATERIAŁ KULKIWęglik wolframu
ŚREDNICA KULKI10 mm

Czas trwania testu w 7 cyklach wynosił 2, 4, 8, 20, 40, 60 i 120 sekundodpowiednio. Przebyte odległości wynosiły 0,40, 0,81, 1,66, 4,16, 8,36, 12,55 i 25,11 metra.

WYNIKI MAPOWANIA ZUŻYCIA

PODŁOGA DREWNIANA

Cykl testowyMaksymalny współczynnik COFMin. COFAvg. COF
10.3350.1240.275
20.3370.2070.295
30.3800.2290.329
40.3930.2650.354
50.3520.2050.314
60.3450.1990.312
70.3150.2110.293

 

ORIENTACJA PROMIENIOWA

Cykl testowyCałkowita strata objętości (µm3Całkowity dystans
Przebyta droga (m)
Wskaźnik zużycia
(mm/Nm) x10-5
Chwilowa szybkość zużycia
(mm/Nm) x10-5
12962476870.401833.7461833.746
23552452271.221093.260181.5637
35963713262.88898.242363.1791
48837477677.04530.629172.5496
5120717995115.40360.88996.69074
6147274531827.95293.32952.89311
7185131921053.06184.34337.69599
Stopień zużycia progresywnego drewna a całkowity dystans

RYSUNEK 2: Współczynnik zużycia a całkowity przebyty dystans (po lewej)
i chwilowy wskaźnik zużycia w zależności od cyklu testowego (po prawej) dla podłóg drewnianych.

progresywne mapowanie zużycia podłogi drewnianej

RYSUNEK 3: Wykres COF i widok 3D śladu zużycia z testu #7 na drewnianej podłodze.

wyodrębniony profil mapowania zużycia

RYSUNEK 4: Analiza przekroju poprzecznego śladu zużycia drewna z testu #7

progresywne mapowanie zużycia analiza objętości i powierzchni

RYSUNEK 5: Analiza objętości i powierzchni śladów zużycia na próbce drewna #7.

WYNIKI MAPOWANIA ZUŻYCIA

KAMIENNA PODŁOGA

Cykl testowyMaksymalny współczynnik COFMin. COFAvg. COF
10.2490.0350.186
20.3490.1970.275
30.2940.1540.221
40.5030.1240.273
50.5480.1060.390
60.5100.1290.434
70.5270.1810.472

 

ORIENTACJA PROMIENIOWA

Cykl testowyCałkowita strata objętości (µm3Całkowity dystans
Przebyta droga (m)
Wskaźnik zużycia
(mm/Nm) x10-5
Chwilowa szybkość zużycia
(mm/Nm) x10-5
1962788460.40595.957595.9573
28042897311.222475.1852178.889
313161478552.881982.355770.9501
431365302157.041883.2691093.013
51082173218015.403235.1802297.508
62017496034327.954018.2821862.899
74251206342053.064233.0812224.187
Szybkość zużycia posadzki kamiennej a odległość
Wykres chwilowego zużycia posadzki kamiennej

RYSUNEK 6: Współczynnik zużycia a całkowity przebyty dystans (po lewej)
i chwilowy współczynnik zużycia w zależności od cyklu testowego (po prawej) dla posadzki kamiennej.

kamienna podłoga 3d profil ścieralności

RYSUNEK 7: Wykres COF i widok 3D śladu zużycia z testu #7 na kamiennej posadzce.

podłoga kamienna progresywne mapowanie zużycia profil ekstrahowany
podłoga kamienna wyodrębniony profil maksymalna głębokość i wysokość powierzchnia otworu i szczytu

RYSUNEK 8: Analiza przekrojowa śladu zużycia kamienia z testu #7.

progresywna analiza objętościowa mapowania zużycia podłogi drewnianej

RYSUNEK 9: Analiza objętości i powierzchni śladów zużycia na próbce kamienia #7.

DYSKUSJA

Chwilowy wskaźnik zużycia jest obliczany za pomocą następującego równania:
progresywne mapowanie zużycia formuły podłogi

Gdzie V jest objętością otworu, N jest obciążeniem, a X jest całkowitą odległością, równanie to opisuje szybkość zużycia między cyklami testowymi. Chwilowa szybkość zużycia może być wykorzystana do lepszej identyfikacji zmian szybkości zużycia w trakcie testu.

Obie próbki charakteryzują się bardzo różnymi właściwościami zużycia. Z biegiem czasu podłoga drewniana zaczyna się od wysokiego wskaźnika zużycia, ale szybko spada do mniejszej, stałej wartości. W przypadku podłóg kamiennych wskaźnik zużycia wydaje się zaczynać od niskiej wartości i dążyć do wyższej wartości w trakcie cykli. Chwilowy wskaźnik zużycia również wykazuje niewielką spójność. Konkretna przyczyna tej różnicy nie jest pewna, ale może wynikać ze struktury próbek. Wydaje się, że kamienna podłoga składa się z luźnych cząstek przypominających ziarna, które zużywają się inaczej niż zwarta struktura drewna. Konieczne będą dodatkowe testy i badania, aby ustalić przyczynę takiego zachowania.

Dane dotyczące współczynnika tarcia (COF) wydają się być zgodne z obserwowanym zużyciem. Wykres COF dla podłogi drewnianej wydaje się spójny przez wszystkie cykle, uzupełniając jej stały wskaźnik zużycia. W przypadku podłóg kamiennych średni współczynnik COF wzrasta w trakcie cykli, podobnie jak tempo zużycia. Widoczne są również zmiany w kształcie wykresów tarcia, co sugeruje zmiany w sposobie interakcji kulki z próbką kamienia. Jest to najbardziej widoczne w cyklach 2 i 4.

PODSUMOWANIE

Trybometr NANOVEA T2000 prezentuje swoją zdolność do progresywnego mapowania zużycia poprzez analizę szybkości zużycia dwóch różnych próbek posadzki. Wstrzymanie ciągłego testu zużycia i zeskanowanie powierzchni za pomocą bezkontaktowego profilometru NANOVEA 3D zapewnia cenny wgląd w zużycie materiału w czasie.

Trybometr NANOVEA T2000 ze zintegrowanym bezkontaktowym profilometrem 3D zapewnia szeroki zakres danych, w tym dane COF (współczynnik tarcia), pomiary powierzchni, odczyty głębokości, wizualizację powierzchni, utratę objętości, szybkość zużycia i inne. Ten kompleksowy zestaw informacji pozwala użytkownikom uzyskać głębsze zrozumienie interakcji między systemem a próbką. Dzięki kontrolowanemu obciążeniu, wysokiej precyzji, łatwości obsługi, dużemu obciążeniu, szerokiemu zakresowi prędkości i dodatkowym modułom środowiskowym, trybometr NANOVEA T2000 przenosi trybologię na wyższy poziom.

TERAZ POROZMAWIAJMY O TWOJEJ APLIKACJI