TR 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
KO 
PL 
AR Kategori Profilometri Testi
3D Profilometri Kullanarak Wafer Düzlük Ölçümü
Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometre bir wafer dizisinin kesitini ölçmek için kullanılır. Ölçülen alan rastgele seçilmiştir ve çok daha büyük bir yüzey hakkında varsayımlarda bulunmak için tahmin edilebilecek kadar büyük olduğu varsayılmıştır. Yüzey düzlük ölçümü, düzlemsellik ve diğer yüzey parametreleri yüzeyi analiz etmek için kullanılır.
3D Profilometri Kullanarak Doku Tutarlılığı Ölçümü
Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometre ölçmek için kullanılır doku tutarlılığı linolyum zemin kaplaması. Burada amaçlanan yüzey dokusu, aynı göreceli boyuta sahip tekrarlayan bir yapı olmalıdır. Küçük bir alanın ölçülmesi, bu dokunun ne kadar tutarlı üretildiğini göstermelidir.
3D Profilometri Kullanarak Mikro Çizik Derinliği Ölçümü
Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometer için kullanılır derinlik ölçümü Nanovea'nın teknolojisi kullanılarak oluşturulan bir dizi mikro çizikten Mekanik Test Cihazı çizik modunda. Profilometre, 2D modunda tek hat geçişiyle saniyeler içinde alan ve derinlik ölçümü sağlar.
