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AR Categoria: Comunicado à imprensa
Testes inovadores de nanoindentação com reconhecimento de padrões de imagem
Irvine CA, 1 de abril de 2009 - A Nanovea anunciou hoje um desenvolvimento revolucionário em Nanoindentação combinando capacidades avançadas de reconhecimento de padrões de imagem com o mais avançado nano-indentor para aplicações de controle de qualidade. A Nanovea combinou agora sua opção de câmera de visão mecânica, PRVision, aos testes de nanoindentação que permitem o auto-reconhecimento de características precisamente escolhidas com pouca ou nenhuma interação do usuário. O software de fácil utilização da PRVision da Nanovea permite um teste automático de dureza e módulo elástico em amostras padronizadas ou áreas de interesse especificamente escolhidas. As propriedades da nanoindentação, incluindo a dureza e o módulo elástico, podem então ser medidas e registradas automaticamente. As cargas baixas "quase não destrutivas" associadas aos testes de nanoindentação tornam esta técnica uma ferramenta ideal para monitorar o controle de qualidade de ambientes onde a dureza e o módulo elástico são cruciais: Microeletrônica, Solar, Farmacêutica e muitas outras. "A nanoindentação até agora era realizada utilizando opções de mapeamento primitivo. Nossa opção PRVision acelerará os testes de nanoindentação e abrirá a porta para aplicações de controle de qualidade de produção automática em larga escala onde a dureza e o módulo elástico são os melhores parâmetros de controle". disse Pierre Leroux, CEO/Presidente, Nanovea.
A Top Semiconductor Mfg escolhe o Nanovea Profilometer Over Many
Irvine CA, 5 de março de 2009 - A Nanovea anunciou hoje que enviará um Semicondutor Mfg de topo, seu primeiro Perfílômetro HS1000. A entrega do HS1000 acrescenta mais um destaque à impressionante história do Profiler Óptico da Nanovea e oferece aos clientes uma opção mais avançada de velocidade de medição para demandas de alto rendimento. Até o Profilômetro HS1000 da Nanovea, a automação completa e as vantagens únicas da técnica de cromatismo axial de luz branca eram características raramente encontradas em um único instrumento de alta velocidade de varredura; uma característica que o cliente solicitava e que somente a Nanovea podia fornecer. Os instrumentos tradicionais de alta velocidade tipicamente sacrificariam uma característica por outra, velocidade ou resolução, o que limitava a capacidade geral de medição dos usuários. A velocidade de estágio do Perfisômetro HS1000 pode chegar a 1m/s, até 50 vezes mais rápido do que a maioria dos perfis ópticos de sua classe. O Profilômetro HS1000 é equipado com um sensor cromatismo axial de luz branca de 31KHz e área de medição XY de 400mm x 600mm, que na velocidade máxima de estágio pode medir 1 ponto a cada 32µm e atravessar os 400mm completos em menos de 1 seg. (maior resolução pode ser obtida com velocidades de estágio proporcionalmente mais lentas). Além disso, o Profilômetro HS1000 tem uma opção de câmera de visão mecânica que permite o auto-reconhecimento em características de superfície precisamente escolhidas, com pouca ou nenhuma interação do usuário. O software de fácil utilização e a câmera de visão mecânica opcional permitem um escaneamento automático da superfície para reconhecer todas as características de interesse. Estas características podem então ser medidas automaticamente ou o usuário pode selecionar a partir de uma lista a partir da qual medir. A combinação de características gerais superiores faz com que o HS1000 Profilômetro Inquestionavelmente, o instrumento de escolha para demandas de alto rendimento encontradas nas indústrias Semicondutora, Solar e Farmacêutica. "Escusado será dizer a importância de obter a escolha deste cliente. Estou orgulhoso da capacidade de nossa equipe de entregar com uma oportunidade tão importante", disse Craig Leising, Gerente de Produto da Nanovea.
O Nanovea Profilometer recebe aprovação de sala limpa "Classe 1
Irvine, CA, 22 de janeiro de 2009 - A Nanovea Inc. anunciou hoje a instalação bem-sucedida de seu Profilômetro dentro da sala limpa Classe 1 de um fabricante líder em micro-eletrônica. A Classe 1 de limpeza é conhecida por sua estrita conformidade e demanda personalizada para todos os materiais utilizados no desenvolvimento do instrumento. As avançadas capacidades de perfilagem 3D sem contato dos Profilômetros Nanovea serão agora uma opção para as mais rigorosas exigências de salas limpas microeletrônicas. Com o uso de estágios lineares motorizados "limpos" e a seleção adequada de materiais, os engenheiros da Nanovea projetaram um sistema personalizado que seria compatível com as rigorosas normas de classe 1. As salas limpas classe 1 têm um nível de contaminação rigorosamente controlado e permitem muito poucas partículas de qualquer tipo. A seleção do material foi crucial no projeto dos estágios X-Y para que poucas partículas fossem emitidas para o ar durante os testes. O sistema também foi projetado com um alto grau de planicidade, precisão e com um nível de automação que permite ao usuário medir múltiplas áreas e costurá-las juntas. Isto permitirá ao usuário criar uma superfície grande e plana para comparar a planicidade relativa com muito pouca interação do usuário. A área mensurável do perfilador personalizado pode ser de até 30cm x 30cm com resolução vertical até 2nm. Um projeto também está disponível para escanear peças grandes, pesadas e até imutáveis. Isto é apenas um vislumbre dos projetos que os engenheiros da Nanovea customizaram. Eles também forneceram um Profilômetro de alta velocidade construído sob medida com velocidades superiores a 30.000 pontos/segundo e visão mecânica com reconhecimento de imagem para melhorar a eficiência. Além disso, o Profilômetro Profilômetro foram construídos com recursos de escaneamento personalizados para adquirir medidas de superfície tanto da superfície superior quanto da inferior enquanto mede a espessura do material, tudo com resolução nanométrica. "A adição do design da sala limpa permitirá que a Nanovea trabalhe mais perto com ambientes rigorosos, e mais uma vez mostra nossa dedicação à engenhosidade". Disse Craig Leising, gerente de produto da Nanovea, Inc.
Travões de perfilômetro Novo terreno quebra novo terreno
Irvine CA, 02 de dezembro de 2008 - A Nanovea anunciou hoje que sua linha de perfis sem contato agora incluirá um sistema com velocidades de medição mais de 180 vezes mais rápidas. Com este novo avanço, o Profilômetro Nanovea terá agora a capacidade de atingir velocidades adequadas para ambientes de produção com mais restrições de tempo e controle de qualidade. Este novo avanço na tecnologia do Profilometer é um avanço para uso dentro destes ambientes particulares. Antes deste novo avanço, esta técnica de perfilamento exigia uma medição ponto por ponto, que adquiria pontos de dados únicos enquanto a amostra a ser medida se movia para trás e para frente sob a ótica para criar um mapeamento 3D. Com esta nova tecnologia, haverá uma linha de 180 pontos mensuráveis que serão adquiridos simultaneamente, o que diminuirá significativamente o tempo para criar um mapeamento 3D da superfície. "Estou entusiasmado com esta nova capacidade; isto nos dará a capacidade de trabalhar com novos mercados que requerem altos desempenhos". Disse Craig Leising, Gerente de Produto, Nanovea. O novo Profilômetro O sistema usa uma matriz de 1 x 180 pontos de medição e pode varrer até 1800 linhas por segundo para criar e taxa geral de varredura de até 324.000 pontos por segundo. O sistema será capaz de medir grandes áreas em segundos com alta resolução e pode ser equipado com software de reconhecimento de imagem para inspeção de alta velocidade. As opções também incluirão um espelho de varredura para criar uma função de varredura de campo que medirá 180 pontos por 230 linhas. O sistema personalizado em linha também estará disponível.
Nanovea's Patent Pending Non-Contact Optical Depth Sensing Technique
Irvine CA, 20 de outubro de 2008 - A Nanovea tem Patente pendente de Sensoriamento de Profundidade Óptica sem Contato para Indentação Instrumentária e Teste de Raspadinha. A técnica "Revolucionária" sem contato fornece medições precisas de altura de 100% durante os testes de micro/macro de arranhões e dureza. Antes deste novo avanço, qualquer teste exigiria contato mecânico da superfície, o que era impossível durante o movimento da amostra, para levar em conta a conformidade do substrato e da máquina. Agora com a capacidade de observar a profundidade precisa do entalhe sem contato, o movimento da amostra não é mais um problema e a verdadeira profundidade do entalhe pode ser diretamente registrada. "Estamos muito entusiasmados com nossa nova técnica e esperamos mostrar seus resultados superiores", disse Pierre Leroux, Gerente Geral da Divisão de Testes de Superfície da Micro Photonics. "Estamos constantemente procurando novas maneiras de fornecer instrumentos que sejam tão progressivos quanto as soluções a que se destinam; acho que esta técnica faz exatamente isso. "Os módulos de alta precisão para a determinação das propriedades mecânicas Micro/Macro de revestimentos e substratos finos/grossos utilizando indentação instrumentada e teste de risco/aderência". Eles são ideais para a caracterização de revestimentos industriais; desde camadas processadas a plasma, utilizadas em tecnologia de semicondutores e óptica, até revestimentos decorativos e de proteção, utilizados para peças de automóveis e bens de consumo. Nanovea Micro/Macro Testadores Mecânicos usar sensores de força e profundidade independentes para obter curvas de profundidade versus carga usadas em testes de recuo e arranhões instrumentais. O resultado, a técnica de medição mais rápida e precisa da indústria e capaz em qualquer forma e textura de material e resolve os desafios associados aos métodos mais antigos de medição de altura indentada, tais como afundamento em materiais macios e movimento de referência em superfícies ásperas.
Corrida de Fórmula Drift usando instrumentos de teste de material
Irvine, Califórnia - 2 de agosto de 2007 - A Micro Photonics, anunciou hoje que foi nomeada "Official Material Testing Equipment Supplier" para a Formula Drift Professional Racing Series. As equipes patrocinadoras da Micro Photonics, um fornecedor líder de instrumentação para testes e análises de materiais, com a Formula Drift Holdings, LLC; a única série de corridas de drift profissional na América do Norte. Sob o acordo, a Micro Photonics concorda em fornecer instrumentação à Formula Drift, e em troca, a Formula Drift concede à Micro Photonics todos os direitos e privilégios de patrocínio que a acompanham: "A Micro Photonics está ansiosa por um grande relacionamento com a Formula Drift Professional Racing Series". disse Pierre Leroux, Gerente Geral da Divisão de Testes de Superfície da Micro Photonics. "Como oferecemos uma seleção tão diversificada de instrumentos, podemos fornecer tudo o que os pilotos precisam para verificação do equipamento e controle de qualidade". Além disso, é emocionante estar envolvido com o Drift Racing, o interesse é tremendo: "Correr com Drift é um esporte motorizado altamente habilidoso que requer que os pilotos manobrem sua competição, finalizando seus carros com deslizamentos de força em torno de uma série de curvas em um percurso definido, empurrando a tração do pneu do carro até os limites. "Todo piloto de drift do planeta precisa de um pneu durometer", disse Randy Hembrey, Chief Steward Formula Drift Professional Racing Series. Os instrumentos portáteis serão usados durante as corridas para verificar a dureza dos pneus, crítica para o desempenho da corrida. Além da instrumentação, os pilotos e o pessoal se beneficiarão da experiência em engenharia mecânica da Micro Photonics. A aliança também oferece uma oportunidade de construir relacionamentos com outras organizações patrocinadoras da Fórmula Drift. A Micro Photonics tem sido um dos principais fornecedores de teste de material instrumentos e testes de laboratório há mais de quinze anos. A empresa é especializada em: Ensaios Nano e Micro Mecânicos, Micro Tomografia de Raios X, Difração de Raios X, Profilômetro 3D sem contato, Análise de filme fino, Instrumentos de imagem biológica e sistemas NSOM, SPM & AFM.
Nova torre Multipen da Micro Photonics oferece nove opções de sensores em uma única montagem
Irvine CA, 7 de julho de 2006 - A Micro Photonics Inc. introduziu hoje a nova torre de caneta ótica múltipla que oferece maior flexibilidade em medidas cromáticas confocais. A incorporação da torre multi óptica com caneta no Profilometer permite aos usuários trocar canetas ópticas de forma rápida e fácil sem gastar tempo removendo ou adicionando novos conjuntos de canetas. Composta de três lupas exclusivas e três lentes cromáticas diferentes, a torre com caneta multi ótica oferece até nove opções de sensores ópticos em um único conjunto. A torre se integra facilmente a qualquer Nanovea Profilometer 3D Optical Non-Contact Optical Profiler novo ou já existente. As combinações de canetas são compostas de mais de trinta seleções diferentes de sensores disponíveis na Micro Photonics. As opções incluem cinco lupas, variando de 3,3 mm a 29 mm de distância focal, e seis lentes cromáticas diferentes, 130 µm a 27 mm de profundidade de campos. As combinações de canetas podem atingir resolução axial máxima de 5 nm, precisão até 20 nm e inclinação máxima até 87º para objetos difusivos. Esta opção da Nanovea Micromeasure está disponível exclusivamente na Micro Photonics Inc. A Micro Photonics tem sido um fornecedor líder de instrumentos de tecnologia de materiais e testes laboratoriais desde 1992. A empresa é especializada em: Ensaios Nano e Micro Mecânicos, Micro Tomografia de Raios X, Elipsometria, Difração de Raios X, 3D Sem Contato ProfilômetroA análise de filmes finos, instrumentos de imagem biológica e sistemas NSOM, SPM e AFM.
A Micro Photonics divulga novas canetas óticas confocais modulares cromáticas de baixo preço.
Irvine CA, 24 de março de 2006 - A Micro Photonics Inc. apresentou hoje a mais recente linha de confocal cromático canetas ópticas para profilometria, microtopografia, rugosidade, vibrometria auto-focus, controle de qualidade de inspeção em linha e medições de espessura. O novo design modular permite até 30 diferentes configurações de canetas ópticas para profundidade de campo específica, tamanho do ponto, distância de trabalho, inclinação do objeto e eficiência fotométrica. Os usuários podem escolher entre uma seleção de cinco lupas, variando de 3,3mm a 29mm de distância focal, e seis lentes cromáticas diferentes, 130µm a 27mm de profundidade de campos. As canetas podem atingir resolução axial máxima de 5nm, precisão até 20nm e inclinação máxima até 87º para objetos difusivos. Com base na aberração cromática de luz branca, as canetas têm resolução lateral (1,1µm) e vertical (5nm) superiores; o que as torna uma escolha melhor do que os sensores de triangulação a laser para aplicações onde as medições de alta resolução são críticas, como às vezes encontrado em aplicações de vibrometria, inspeção em linha e controle de qualidade. Para materiais desafiadores, como têxteis, polímeros, materiais pretos ou azuis escuros, superfícies de alta relação de aspecto e materiais de baixa refletividade, a aberração cromática de luz branca é freqüentemente a única técnica apropriada. A Micro Photonics acredita que novos preços competitivos atrairão clientes que anteriormente consideravam a aberração cromática de luz branca muito cara. "Os clientes conhecem esta técnica e seus benefícios para aplicações OEM, mas devido ao preço, ela foi passada em favor de sensores a laser mais baratos. Os novos preços são 40% mais baixos em média, o que fará diferença", disse Pierre Leroux, Gerente Geral da Divisão de Testes de Superfície. A velocidade de aquisição até 30.000Hz atende a requisitos específicos de vibrometria, controle de qualidade em linha e fora de linha. O sistema pode ser usado como uma unidade autônoma ou conectado a um computador usando vários pacotes de software. Soluções integradas como o Micromeasure Profiler e o Micromeasure Dual Scanner também estão disponíveis para imagens de superfície 3D completas. Esta tecnologia está disponível na Micro Photonics Inc. A Micro Photonics tem sido um fornecedor líder de instrumentos de tecnologia de materiais e testes laboratoriais desde 1992. A empresa é especializada em: Testes Nano e Micro Mecânicos, Micro Tomografia de Raios X, Elipsometria, Difração de Raios X, Profilometria 3D sem contato, Análise de filme fino, Instrumentos de Imagens Biológicas e sistemas NSOM, SPM & AFM.
Micro Photonics Revela Perfilômetro e Instrumento de Varredura Dupla
Irvine CA, 25 de janeiro de 2005 - A Micro Photonics Inc. anunciou hoje a mais recente adição à sua linha de instrumentos de teste de materiais de superfície. O Profilômetro de Escaneamento Duplo é o primeiro de seu tipo, fornecendo escaneamento simultâneo de espessura e perfilometria dupla. Fixado em uma plataforma entre as duas canetas, o estágio de amostra se move na direção x-y, permitindo que as duas sondas determinem um perfil de superfície sincronizado. O software do sistema calcula a distância conhecida entre as canetas, com o comprimento de onda da luz branca incidente refletida da superfície da amostra, para determinar a espessura da amostra em qualquer ponto dado. Utilizando o princípio de Abertura Cromática, duas canetas passam a luz branca através da lente objetiva e refletem essa luz da superfície da amostra. A lente então recolhe o comprimento de onda da luz branca incidente e a reorienta em uma distância variável da lente. Esta tecnologia exclusiva está disponível na Micro Photonics Inc. A Micro Photonics tem sido um fornecedor líder em instrumentos de tecnologia de materiais e testes de laboratório por mais de doze anos. A empresa é especializada em: Teste Nano e Micro Mecânico, Micro Tomografia de Raios X, Elipsometria, Difração de Raios X, 3D Sem Contato ProfilômetroA análise de filmes finos, instrumentos de imagem biológica e sistemas NSOM, SPM e AFM.
A Micro Photonics oferece tecnologia revolucionária para testes mecânicos específicos de temperatura
Irvine, Califórnia - 22 de abril de 2004 - A Micro Photonics Inc., um fornecedor líder de instrumentos de materiais de superfície e serviços de laboratório, apresenta um avanço na tecnologia de materiais, testes mecânicos de temperatura específica. Os pesquisadores podem facilmente acoplar o módulo de aquecimento/arrefecimento a plataformas de dureza ou de risco para alcançar temperaturas entre as faixas de -196°C e 600°C. Uma vez instalado, o módulo, que consiste em uma bobina de resistência de platina e um invólucro quase totalmente encapsulado, reduzindo assim o desvio térmico, produz um controle de temperatura altamente estável e preciso. A utilização da plataforma de dureza Nano/Micro também oferece outra vantagem única: uma técnica diferencial de profundidade entre a superfície e o centro da amostra em teste, uma tecnologia não disponível com outros instrumentos de teste de dureza. Embora a maioria dos testes de indentação seja realizada à temperatura ambiente produzindo resultados eficientes, a necessidade de investigar as propriedades mecânicas de certos materiais à temperatura em serviço ou próximo a ela cresceu significativamente nos últimos anos, o que motivou o desenvolvimento desta tecnologia. A Micro Photonics oferece serviços contratuais de testes laboratoriais, instrumentos, serviço pós-venda e treinamento para uma ampla gama de instrumentos de metrologia de superfície, incluindo: nano/micro testes mecânicos, atrito, desgaste, aderência, resistência a arranhões e resistência à fratura. Os elipsômetros estão disponíveis para espessura fina do filme e propriedades ópticas (n&k), e uma grande variedade de instrumentos de perfil de superfície sem contato para estudar rugosidade, análise dimensional e raio de curvatura e propriedades de espessura. Além disso, a Micro Photonics oferece instrumentos de microtomografia de raios X para a obtenção de imagens e análise de microestruturas internas.
