PL 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
TR 
KO 
AR Kategoria: Uwagi do aplikacji
Pomiar powierzchni utleniania za pomocą profilometrii 3D
3D Non Contact Profilometr zostaną wykorzystane do scharakteryzowania Pomiar powierzchni dwóch próbek z powłokami A1SiN, jedna z niskim poziomem krzemu, druga z wysokim poziomem. Powłoka A1SiN została osadzona na stali H13 metodą rozpylania magnetronowego, a następnie poddana testowi odporności na utlenianie (900°C-1 godzina).
Charakterystyka tribologiczna powłoki Ti-WS2
W tym raporcie dokonamy przeglądu charakterystyki trybologicznej powłoki Ti-WS2 osadzonej techniką rozpylania magnetronowego. Tarcie i zużycie trybologia zostaną uzyskane za pomocą tribometru w trybie posuwisto-zwrotnym, a zintegrowany profiler optyczny zostanie użyty do uzyskania wskaźnika zużycia.
Odporność na zarysowania mikrostruktury przy użyciu testu zarysowań
W tym zastosowaniu, tester mechaniczny Nanovea w swojej nano testowanie zarysowań służy do pomiaru obciążenia wymaganego do spowodowania uszkodzenia mikrostruktury. Musimy symulować proces zarysowania w kontrolowany i monitorowany sposób, aby obserwować odporność na zarysowanie. Rysik z końcówką diamentową o średnicy 10 μm jest używany przy progresywnym obciążeniu w zakresie od 10 mN do 20 mN do zarysowania mikrostruktury. Punkt, w którym powłoka ulega zniszczeniu w wyniku pęknięcia, jest traktowany jako punkt zniszczenia.
Odporność na zarysowania Mikrostruktura przy użyciu testu zarysowań
Kontrola pinów złączy za pomocą profilometrii 3D
W tym zastosowaniu, Nanovea ST400 Profilometr służy do pomiaru pełnego obszaru powierzchni złącza i jego pinów. Aplikacja została wybrana ze względu na jej wymagające cechy, jednocześnie podkreślając możliwości pomiarowe techniki Nanovea. Istnieje nieskończona lista parametrów powierzchni, które mogą być automatycznie obliczane po skanowaniu powierzchni. Tutaj dokonamy przeglądu pełnego profilu 3D, płaskości podstawy złącza, współpłaszczyznowości pinów i chropowatości końcówki pinu.
