このアプリケーションでは、Nanovea ST400 プロフィロメーター は、コネクタ表面とそのピンの全領域を測定するために使用されます。このアプリケーションは、Nanoveaの技術による測定オプションを強調する一方で、その困難な特徴から選ばれました。表面スキャン後に自動的に計算できる表面パラメータは無限にあります。ここでは、3Dプロファイル、コネクターベースの平坦度、ピンのコプラナリティ、ピン先端の粗さについて説明します。

3Dプロフィロメトリーによるコネクターピン検査