月度档案。1 月 2009

Nanovea轮廓仪获得 "1级 "洁净室认证

2009年1月22日，加利福尼亚州欧文市 - Nanovea公司今天宣布，他们的轮廓仪成功安装在一家领先的微电子制造商的1级洁净室内。1级洁净室许可以其严格的合规性和对仪器开发中使用的所有材料的定制要求而闻名。Nanovea的轮廓仪先进的3D非接触式轮廓能力现在将成为最严格的微电子洁净室要求的一个选择。通过使用 "清洁 "的电动线性平台和适当的材料选择，Nanovea的工程师定制设计了一个系统，将符合严格的1级标准。1级洁净室具有严格控制的污染水平，允许任何种类的颗粒非常少。在X-Y平台的设计中，材料的选择至关重要，以便在测试过程中很少有颗粒被排放到空气中。该系统的设计还具有高度的平面性、准确性和自动化水平，允许用户测量多个区域并将其拼接起来。这将允许用户创建一个大的平面，以便比较相对平整度，而用户的互动很少。定制剖面仪的可测量区域可以大到30cm x 30cm，垂直分辨率低至2nm。还有一种设计可用于扫描大型、重型、甚至不可移动的部件。这只是Nanovea的工程师所定制的项目的一瞥。他们还提供了一个定制的高速轮廓仪，速度超过30,000点/秒，以及带有图像识别的机器视觉，以提高效率。此外。 轮廓仪 已经建立了定制的扫描功能，从顶部和底部表面获得表面测量，同时测量材料的厚度，所有这些都具有纳米分辨率。"增加洁净室设计将使Nanovea与严格的环境更紧密地合作，并再次表明我们对独创性的奉献。"Nanovea公司产品经理Craig Leising说。