月度档案。3 月 2006

Micro Photonics公司推出了新的较低价格的模块化色差共焦光学笔。

2006年3月24日，加利福尼亚州欧文市--Micro Photonics公司今天推出了最新系列的 色度共聚焦 光学笔用于轮廓测量、微观形貌、粗糙度、自动聚焦振动测量、在线检测质量控制和厚度测量。新的模块化设计允许多达30种不同的光学笔配置，用于特定的景深、光斑大小、工作距离、物体斜度和光度测量效率。用户可以选择五种放大镜，焦距从3.3毫米到29毫米不等，以及六种不同的色差镜头，130微米到27毫米的景深。笔者可以实现最大5纳米的轴向分辨率，精度达到20纳米，对扩散性物体的最大斜率达到87º。基于白光色差，笔具有卓越的横向分辨率（1.1µm）和纵向分辨率（5nm）；这使它们成为对高分辨率测量至关重要的应用中比激光三角测量传感器更好的选择，有时在振动测量、在线检测和质量控制应用中就可以看到。对于具有挑战性的材料，如纺织品、聚合物、黑色或深蓝色材料、高长径比表面和低反射率的材料，白光色差往往是唯一合适的技术。Micro Photonics公司相信新的有竞争力的价格将吸引那些以前认为白光色差技术太昂贵的客户。"客户已经知道这种技术，以及它对OEM应用的好处，但由于价格问题，它被转而支持更便宜的激光传感器。表面测试部总经理Pierre Leroux说："新的价格平均低了40%，这将使情况发生变化。采集速度达到30,000Hz，满足特定的振动测量、在线和离线质量控制要求。该系统可以作为一个独立的单元使用，也可以使用各种软件包连接到计算机上。集成解决方案，如Micromeasure Profiler和Micromeasure Dual Scanner也可用于完整的三维表面成像。这项技术可从Micro Photonics公司获得。自1992年以来，Micro Photonics公司一直是材料技术仪器和实验室测试的领先供应商。该公司专门从事。纳米和微观机械测试、X射线微断层扫描、椭圆测量、X射线衍射、三维非接触式轮廓测量、薄膜分析、生物成像仪器以及NSOM、SPM和AFM系统。