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协作改进塔波尔磨蚀测试

传统上,根据ASTM D4060标准,进行塔伯磨蚀测试来评估工业涂料的耐磨性。然而,正如ASTM D4060标准中所提到的,"对于某些材料,利用塔伯磨蚀机进行的磨蚀测试可能会由于测试过程中砂轮磨料特性的变化而产生变化。"这可能会导致测试结果的可重复性差,并给比较不同实验室的报告值带来困难。此外,在Taber耐磨测试中,耐磨性的计算方法是在特定数量的磨损周期中的重量损失。然而,例如丙烯酸聚氨酯地板漆的推荐干膜厚度为37.5-50微米。Taber Abraser的侵蚀性磨蚀过程可以迅速磨穿丙烯酸聚氨酯涂层,并对基材产生质量损失,这导致了涂料重量损失计算的巨大误差。在磨蚀试验过程中,磨料颗粒植入涂料中,也会导致误差。因此,一个控制良好的可量化的、可靠的测量方法对于确保可重复的磨损评估至关重要;如 摩擦仪.

在这个月的应用说明中了解更多。 工业涂料划痕和磨损评估

使用三维轮廓测量法测量粉末涂料的光洁度

在这个应用中,Nanovea ST400 轮廓仪 用于测量和比较四种不同的粉末涂料样品的表面质量。几个表面参数将从涂层轮廓自动计算出来。在这里,我们将重点讨论表面 粗糙度。 峰谷比和表面积的比较评价。

使用三维轮廓测量法测量粉末涂料的光洁度

润滑测试的进步。连续斯特里贝克曲线测量!

2013年10月24日,加利福尼亚州欧文市--Nanovea首次展示了测量连续Stribeck曲线的能力。使用Nanovea 摩擦仪 先进的速度控制,从2000到0.01rpm,在10分钟内软件监测提供了一个完整的斯特里贝克曲线。在这一进展之前,斯特里贝克曲线的润滑测试已被证明是以逐步的方式评估的,需要进行数据缝合。这一进展提供了整个润滑油制度评估的精确数据,并大大减少了时间和成本。该测试还显示了在不同工业工程应用中的巨大潜力。

在这个月的应用说明中了解更多。 使用摩擦仪进行连续的斯特里贝克曲线测量

使用摩擦仪进行连续的斯特里贝克曲线测量

斯特里贝克曲线是用两种不同动能粘度的润滑油测得的,用于比较。使用了配备润滑模块的Nanovea针盘式摩擦仪。转速以指数速度从2000转/分降至0.01转/分,以展示连续的斯特里贝克曲线测量和精确的灵敏度。 摩擦仪 能力。

使用摩擦仪进行连续的斯特里贝克曲线测量

以下是我们这个月测试的材料的例子。

机械-实验室
机械。

- 聚合物薄膜的纳米压痕DMA
- 微观特征的纳米压痕压缩
- 复合材料的纳米压痕蠕变
- 微线涂层的纳米划痕
- 阳极氧化涂层的微划痕
- 微型零件的宏观压痕多周期故障
- 环氧树脂涂层的宏观划痕

轮廓测量-实验室
3D非接触式 轮廓测量法。

- 阳极氧化涂层的粗糙度
- 激光微蚀刻纹理测量
- DNA托盘的平整度
- 汽车零件的阶梯高度
- 晶片网格的尺寸

摩擦学实验室
摩擦学。

- 磨损测试 阳极氧化涂层
- 磨损测试 环氧涂料
- 油样的斯特里贝克曲线分析

阳极氧化涂层宏观划痕测试

以控制和监测的方式模拟划痕的过程,以观察粘附或内聚的失败。在这个应用中,Nanovea机械测试仪在其宏观的 划痕测试 模式是用来测量导致不同工艺生产的阳极氧化涂层失效所需的负荷。

阳极氧化涂层的宏观划痕测试

使用微划痕测试进行涂层失效分析

我们必须模拟出 划痕测试 在一个受控和监测的方式下,观察涂层失效分析。在这个应用中,Nanovea机械测试仪在其微划痕模式下,被用来测量导致三个单独加工的DLC涂层失效所需的负载。一个90°锥度,20μm的金刚石针头被用来在0.01mN到15N的渐进负荷下刮擦DLC涂层。涂层因开裂而失效的点被视为失效点。

使用微划痕测试进行DLC涂层失效分析

使用摩擦仪测量润滑脂的机械稳定性

Nanovea针式磁盘 摩擦仪 将在旋转模式下使用,也可以使用线性模式。一个钢球头将被用来对付一个涂有复合锂基润滑脂的钢样。使用的负载为5N,恒定速度为150rpm。两种单独配方的复合锂基润滑脂将被测试以进行比较评估。

使用摩擦仪测量润滑脂的机械稳定性

以下是我们这个月测试的材料的例子。

机械-实验室
机械。

- 钢材的纳米压痕应力应变
- 微型零件的纳米压痕屈服强度
- 聚合物的纳米压痕刚度
- 光学涂层的纳米划痕
- 油漆涂层的微划痕
- dlc涂层的宏观压痕
- dlc涂层的宏观划痕

轮廓测量-实验室
三维非接触式轮廓测量法。

- 凝胶表面的拓扑结构
- 注塑模具的粗糙度
- 硅胶样品的质地
- 晶片阵列的平整度和共面性
- 光罩的台阶高度
- 微型零件的尺寸

摩擦学实验室
摩擦学。

- dlc涂层的浸没式磨损测试
- 磨损测试硅涂层
- 摩擦测试智能玻璃样品

使用三维轮廓测量法测量晶圆的平面度

在此应用中,Nanovea ST400 轮廓仪 是用来测量晶圆阵列的截面的。测量的面积是随机选择的,并假定其足够大,以便可以推断出更大的表面的假设。表面 平面度测量剖析表面时,使用了平面性和其他表面参数。


使用三维轮廓测量法测量晶圆的平面度