ABD/GLOBAL: +1-949-461-9292
AVRUPA: +39-011-3052-794
BİZE ULAŞIN

Mikro Çizik Testi Kullanılarak Kaplama Arıza Analizi

Süreci simüle etmeliyiz çizik testi Kaplama arıza analizini gözlemlemek için kontrollü ve izlenen bir şekilde. Bu uygulamada, Nanovea Mekanik Test Cihazı, mikro çizik modunda, üç ayrı işlenmiş DLC kaplamada kaplama arızasına neden olmak için gereken yükü ölçmek için kullanılır. 90° Koni, 20μm elmas uçlu kalem, DLC kaplamayı çizmek için 0,01 mN ile 15 N arasında değişen kademeli bir yükte kullanılır. Kaplamanın çatlayarak başarısız olduğu nokta, başarısızlık noktası olarak alınır.

Mikro Çizik Testi Kullanılarak DLC Kaplama Arıza Analizi

Tribometre Kullanarak Gresin Mekanik Stabilitesi

Nanovea Pin-On-Disk Tribometre rotatif modda kullanılacaktır, doğrusal da kullanılabilirdi. Lityum kompleks gres ile kaplanmış çelik bir numuneye karşı çelik bir bilye ucu kullanılacaktır. Kullanılan yük, 150 rpm sabit hız ile 5N'de olacaktır. Karşılaştırmalı değerlendirme için ayrı ayrı formüle edilmiş iki lityum kompleks gres test edilecektir.

Tribometre Kullanarak Gresin Mekanik Stabilitesi

İşte bu ay test ettiğimiz materyallerden örnekler:

mekanik-laboratuvar
Mekanik:

- Çeliklerin nanoindentasyon gerilme gerinimi
- Mikro parçaların nanoindentasyon akma dayanımı
- Polimerlerin nanoindentasyon sertliği
- Optik kaplamada nano çizik
- Boya kaplamalarında mikro çizikler
- Dlc kaplamaların makroindentasyonu
- dlc kaplamaların makro çizikleri

profi̇lometri̇-lab
3D Temassız Profilometri:

- Jel yüzeylerinin topografyası
- Enjeksiyon kalıplarının pürüzlülüğü
- Silikon numunelerin dokusu
- Wafer dizilerinin düzlüğü ve eş düzlemliliği
- Adım Fotomask yüksekliği
- Mikro parçaların boyutları

triboloji̇-lab
Triboloji:

- dlc kaplamalarin daldirilmiş aşinma testleri̇
- Aşınma Testi silikon kaplamalar
- Sürtünme Testi akıllı cam örnekleri

3D Profilometri Kullanarak Wafer Düzlük Ölçümü

Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometre bir wafer dizisinin kesitini ölçmek için kullanılır. Ölçülen alan rastgele seçilmiştir ve çok daha büyük bir yüzey hakkında varsayımlarda bulunmak için tahmin edilebilecek kadar büyük olduğu varsayılmıştır. Yüzey düzlük ölçümü, düzlemsellik ve diğer yüzey parametreleri yüzeyi analiz etmek için kullanılır.


3D Profilometri Kullanarak Wafer Düzlük Ölçümü