TR 
EN 
ES 
DE 
FR 
IT 
ZH 
JA 
PT 
KO 
PL 
AR Aylık Arşivler: Eylül 2013
NANOTECH DUBAI'DE NANOVEA DİSTRİBÜTÖRÜNÜ ZİYARET EDİN
28-30 Ekim | Dubai, BAE. Nanotech Dubai, nanoteknoloji alanında önde gelen bilim insanlarını, araştırmacıları, mühendisleri, uygulayıcıları, teknoloji geliştiricileri ve politika yapıcıları bir araya getirerek en son araştırma ilerlemeleri, yenilikler ve iş fırsatları hakkında bilgi alışverişinde bulunmalarını sağlamaktadır. Uluslararası düzenleyici politikalar açısından en önemli etkinlikler arasında yer almaktadır. ►Nanotech Dubai 2013
Mikro Çizik Testi Kullanılarak Kaplama Arıza Analizi
Süreci simüle etmeliyiz çizik testi Kaplama arıza analizini gözlemlemek için kontrollü ve izlenen bir şekilde. Bu uygulamada, Nanovea Mekanik Test Cihazı, mikro çizik modunda, üç ayrı işlenmiş DLC kaplamada kaplama arızasına neden olmak için gereken yükü ölçmek için kullanılır. 90° Koni, 20μm elmas uçlu kalem, DLC kaplamayı çizmek için 0,01 mN ile 15 N arasında değişen kademeli bir yükte kullanılır. Kaplamanın çatlayarak başarısız olduğu nokta, başarısızlık noktası olarak alınır.
Tribometre Kullanarak Gresin Mekanik Stabilitesi
Nanovea Pin-On-Disk Tribometre rotatif modda kullanılacaktır, doğrusal da kullanılabilirdi. Lityum kompleks gres ile kaplanmış çelik bir numuneye karşı çelik bir bilye ucu kullanılacaktır. Kullanılan yük, 150 rpm sabit hız ile 5N'de olacaktır. Karşılaştırmalı değerlendirme için ayrı ayrı formüle edilmiş iki lityum kompleks gres test edilecektir.
İşte bu ay test ettiğimiz materyallerden örnekler:
Mekanik:
- Çeliklerin nanoindentasyon gerilme gerinimi
- Mikro parçaların nanoindentasyon akma dayanımı
- Polimerlerin nanoindentasyon sertliği
- Optik kaplamada nano çizik
- Boya kaplamalarında mikro çizikler
- Dlc kaplamaların makroindentasyonu
- dlc kaplamaların makro çizikleri
3D Temassız Profilometri:
- Jel yüzeylerinin topografyası
- Enjeksiyon kalıplarının pürüzlülüğü
- Silikon numunelerin dokusu
- Wafer dizilerinin düzlüğü ve eş düzlemliliği
- Adım Fotomask yüksekliği
- Mikro parçaların boyutları
- dlc kaplamalarin daldirilmiş aşinma testleri̇
- Aşınma Testi silikon kaplamalar
- Sürtünme Testi akıllı cam örnekleri
3D Profilometri Kullanarak Wafer Düzlük Ölçümü
Bu uygulamada Nanovea ST400 Profilometre bir wafer dizisinin kesitini ölçmek için kullanılır. Ölçülen alan rastgele seçilmiştir ve çok daha büyük bir yüzey hakkında varsayımlarda bulunmak için tahmin edilebilecek kadar büyük olduğu varsayılmıştır. Yüzey düzlük ölçümü, düzlemsellik ve diğer yüzey parametreleri yüzeyi analiz etmek için kullanılır.
MS&T 2013
MS&T | 29-30 Ekim Montreal, Quebec Kanada. ACerS, AIST, ASM, MetSoc ve TMS'nin MS&T ortaklığı, mevcut araştırma ve teknik uygulamaları tartışmak ve malzeme bilimi ve teknolojisinin geleceğini şekillendirmek için bilim insanlarını, mühendisleri, öğrencileri, tedarikçileri ve daha fazlasını bir araya getiriyor. NACE International MS&T'13'e eş sponsorluk yapacaktır. www.matscitech.org
