Aylık Arşivler: Aralık 2008

Profilometre Yeni Bir Çığır Açıyor

Irvine CA, 02 Aralık 2008 - Nanovea bugün temassız profilometre serisinin artık 180 kat daha hızlı ölçüm yapabilen bir sistem içereceğini duyurdu. Bu yeni gelişme ile Nanovea'nın Profilometresi artık daha fazla zaman kısıtlaması olan üretim ve kalite kontrol ortamları için uygun hızlara ulaşma kapasitesine sahip olacak. Profilometre Teknolojisindeki bu yeni gelişme, bu özel ortamlarda kullanım için bir atılımdır. Bu yeni gelişmeden önce bu profilleme tekniği, ölçülen numune optiklerin altında ileri geri hareket ederek 3D haritalama oluştururken tek veri noktaları elde eden noktadan noktaya bir ölçüm gerektiriyordu. Bu yeni teknoloji ile aynı anda 180 ölçülebilir nokta elde edilecek ve bu da yüzeyin 3D haritasını oluşturma süresini önemli ölçüde azaltacaktır. "Bu yeni kabiliyet beni heyecanlandırıyor; bu bize yüksek verim gerektiren yeni pazarlarla çalışma olanağı sağlayacak." Craig Leising, Nanovea Ürün Müdürü. Yeni Profilometre Sistem 1 x 180 ölçüm noktası dizisi kullanır ve saniyede 324.000 noktaya kadar genel tarama hızı oluşturmak için saniyede 1800 satıra kadar tarama yapabilir. Sistem geniş alanları saniyeler içinde yüksek çözünürlükle ölçebilecek ve yüksek hızlı denetim için görüntü tanıma yazılımıyla donatılabilecektir. Seçenekler arasında 180 nokta 230 satır ölçebilen bir alan tarama işlevi oluşturmak için bir tarama aynası da yer alacaktır. Özel hat içi sistem de mevcut olacaktır.