EUA/GLOBAL: +1-949-461-9292
EUROPA: +39-011-3052-794
FALE CONOSCO

SERVIÇOS DE TOPOLOGIA DE SUPERFÍCIE E ANÁLISE QUÍMICA

* FORNECIDO APENAS PELA NANOVEA EUROPE

Obtenha uma compreensão mais profunda de seus materiais com os serviços especializados de Topologia de Superfície e Análise Química da NANOVEA. Nossos equipamentos e técnicas de última geração garantem sempre resultados precisos e confiáveis na caracterização dos materiais.

Quer você esteja na indústria de semicondutores, farmacêutica ou qualquer outra, nossa equipe de especialistas pode ajudá-lo a compreender as propriedades de seus materiais utilizando técnicas de análise de superfície de última geração, tais como Espectroscopia de Infravermelho (IR), Cromatografia, Microscopia Eletrônica, Microscopia de Força Atômica (AFM), e Difração de Raios-X.

É crucial conhecer as características de superfície de seus materiais, e é por isso que oferecemos uma gama de serviços de Topologia de Superfície e Análise Química, incluindo análise de rugosidade de superfície, modificação de superfície, análise de energia de superfície e muito mais.

Se você está procurando um parceiro experiente para ajudar em suas necessidades de caracterização de material, entre em contato conosco hoje mesmo para saber mais sobre nossos serviços de Topologia de Superfície e Análise Química. Com nossa experiência em técnicas de análise de superfície, você pode confiar na NANOVEA para obter resultados precisos e confiáveis.

IR ESPECTROSCOPIA

IR ESPECTROS AQUISIÇÃO DE MATERIAIS CONHECIDOS

Análise realizada em amostra e padrão com o método FTIR-ATR sem pré-tratamento. 
Definição de grupos funcionais.

IR ESPECTROS AQUISIÇÃO DE MATERIAIS DESCONHECIDOS

Análise realizada com o método FTIR-ATR sem pré-tratamento. 
Definição de grupos funcionais.

CHROMATOGRAFIA

GC-MS

Identificação qualitativa/semi-quantitativa de
componentes em óleos e materiais orgânicos
submetido a teste tribológicoting.

LC-MS

Identificação qualitativa/semi-quantitativa de componentes em óleos e materiais orgânicos
submetidos a testes tribológicos.

MICROSCOPIA ELETRÔNICA

TEM

Microanálise pontual ou
distribuição do mapa de elementos.

FE-SEM/EDS

Microanálise pontual ou
distribuição do mapa de elementos.

ANÁLISE TERMO-GRAVIMÉTRICA E TERMO-VOLUMÉTRICA

TGA

Com fluxo de nitrogênio ou atmosfera oxidativa.
Faixa de temperatura [-90°C, 500°C].
Massa mínima da amostra para testar 10 mg.

DSC

Identificação qualitativa/semi-quantitativa
de componentes em óleos e materiais orgânicos
submetidos a testes tribológicos.

MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA (AFM)

Análise AFM de alta resolução para topologia e informações 3D avançadas em e subnanoescala.

DIFRAÇÃO DE RAIOS-X

DIFRAÇÃO DE RAIOS-X EM PÓ E AMOSTRAS MACIÇAS
ANÁLISE DE DADOS DE DIFRAÇÃO DE RAIOS-X
DEFINIÇÃO QUANTITATIVA DA COMPOSIÇÃO DOS CRISTAIS (MÉTODO RIETVELD)
DEFINIÇÃO DE TENSÃO RESIDUAL

A NANOVEA projeta e fabrica instrumentos para testes de materiais e controle de qualidade. 

Nossos Perfilômetros, Tribômetros e Testadores Mecânicos podem ser encontrados em renomadas organizações educacionais e industriais em todo o mundo.

Por mais de 25 anos, pesquisadores e empresas que lidam com as aplicações mais exigentes têm confiado em nossa incomparável gama de serviços de consultoria e teste de materiais.

PERFILÔMETROS

Tecnologia de Luz Cromática, sem Contato para a mais alta precisão em qualquer superfície e qualquer material.

TESTADORES MECÂNICOS

A mais alta precisão e repetibilidade com o menor custo de propriedade.

TRIBÔMETROS

Testes de desgaste e de atrito altamente precisos e com alta repetibilidade.