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表面トポロジー・化学分析サービス

* ナノベアユーロピアンのみで提供されます。

ナノベアの専門家による表面トポロジーおよび化学分析サービスにより、お客様の材料についてより深い理解を得ることができます。当社の最先端の装置と技術により、材料特性評価において常に正確で信頼性の高い結果を得ることができます。

半導体、製薬、その他の業界を問わず、当社の専門家チームは、赤外(IR)分光法、クロマトグラフィー、電子顕微鏡、原子間力顕微鏡(AFM)、X線回折などの最先端の表面分析技術を使って、お客様の材料の特性を理解するお手伝いをします。

材料の表面特性を知ることは非常に重要です。そのため、表面粗さ分析、表面改質、表面エネルギー分析など、表面トポロジーと化学分析のサービスを幅広く提供しています。

材料特性評価のニーズに応える経験豊富なパートナーをお探しなら、表面トポロジーおよび化学分析サービスの詳細について、今すぐお問い合わせください。表面分析技術に関する専門知識を持つナノベアは、正確で信頼できる結果を提供します。

IR分光法

既知材料のIRスペクトル取得

前処理を行わず、FTIR-ATR法で試料と標準品を分析。 
官能基の定義。

未知物質のイラスペクトル取得

前処理を行わず、FTIR-ATR法にて分析。 
官能基の定義。

クロマトグラフィー

GC-MS

の定性・半定量的な同定を行う。
油脂・有機物中の成分
トライボロジー試験ティンです。

LC-MS

油脂・有機物中の成分の定性・半定量分析
をトライボロジー試験に供しています。

電子顕微鏡

TEM

時間厳守のマイクロアナリシスや
要素マップの配布。

FE-SEM/EDS

時間厳守のマイクロアナリシスや
要素マップの配布。

熱重量分析・熱体積分析

ティージーエー

窒素フラックスまたは酸化的雰囲気で
範囲温度[-90℃、500℃]。
最小試験質量 10 mg

データ処理センター

定性的/半定量的な識別
油脂・有機物中の成分について
をトライボロジー試験に供しています。

原子間力顕微鏡 (afm)

高分解能AFMによるサブナノスケールのトポロジーと高度な3次元情報の解析。

X線回折

粉末および塊状試料のX線回折
X線回折データ解析
結晶組成の定量的定義(リートベルト法)
残留応力の定義

ナノベアは、材料試験や品質管理用の機器を設計・製造しています。 

当社のプロフィロメーター、トライボメーター、メカニカルテスターは、世界中の有名な教育機関や産業界で使用されています。

25年以上にわたり、最も要求の厳しいアプリケーションを扱う研究者や企業から、比類のないコンサルティングと材料試験サービスを信頼されています。

プロフィロメーター

どんな表面や素材でも最高の精度を実現するChromatic Lightテクノロジー

メカニカルテスター

低価格で最高の精度と再現性を実現します

トライボメータ

高精度かつ再現性の高い摩耗・摩擦試験